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通道延遲對(duì)功率損耗測試的影響

作者:ZLG致遠(yuǎn)電子 時(shí)間:2017-12-11 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  開關(guān)器件的功率損耗是開關(guān)器件評(píng)估的重要環(huán)節(jié),也是許多選配的高級(jí)分析功能。事實(shí)上,雖然很多實(shí)驗(yàn)室配備了功率損耗程度測量環(huán)境,對(duì)設(shè)備和也投入不菲,但是如果忽略了時(shí)間偏移,則所有的測試結(jié)果都將失去意義。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201712/372793.htm

  1.1 開關(guān)損耗測量中應(yīng)考慮哪些問題呢?

  在實(shí)際的測量評(píng)估中,我們用一個(gè)通道測量電壓,另一個(gè)通道測量電流,然后軟件通過相乘得到功率曲線,再通過時(shí)間區(qū)間的積分得到最終的結(jié)果。

  這其中要注意的兩點(diǎn):

  保證帶寬充足,準(zhǔn)確獲取開關(guān)器件在開通和關(guān)斷過程中的波形;

  精確測量相位,保證電壓和電流的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

  帶寬充足比較好理解,但我們?cè)撊绾伪WC電壓和電流的對(duì)應(yīng)關(guān)系呢?

  1.2 時(shí)間偏移對(duì)測量結(jié)果的影響

  當(dāng)電壓通道和電流通道之間存在時(shí)間偏移時(shí),測量結(jié)果明顯偏高或偏低,而器件的開關(guān)速度越快,偏移的影響就越明顯。圖1為MOS管的關(guān)斷損耗測量原理圖,由此可見,只有經(jīng)過校正以后,才能得到正確的測量結(jié)果。值得注意的是,由于電壓和電流探頭的實(shí)現(xiàn)原理和探頭傳輸電纜長度的差異,這種偏移是普遍存在的。

  

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  圖1通道間的偏移對(duì)測量結(jié)果的影響

  1.3 如何對(duì)通道偏移進(jìn)行校正呢?

  如圖2所示,偏移校正夾具可以直接校正電壓探頭和電流探頭之間的時(shí)間偏移。其基本原理是夾具產(chǎn)生一組相位差為零的電壓和電流的脈沖信號(hào)同時(shí)作用在電壓和電流探頭上,通過觀察脈沖信號(hào)經(jīng)過探頭后的時(shí)間偏移,并在示波器上校正偏移時(shí)間。

  該夾具通過USB接口供電,使用簡單方便。時(shí)間偏移的校正可以手動(dòng)或自動(dòng)進(jìn)行。使用偏移校正夾具,校正前后的波形分別如圖3和圖4所示。

  

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  圖2 ZDF1000偏移校正夾具

  

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  圖3偏移校正前的波形

  

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  圖4偏移校正后的波形

  1.4 延長線對(duì)傳輸延遲的影響

  除了執(zhí)行偏移校正,在實(shí)際測量中,還應(yīng)注意延長線的影響,典型的測試示意圖如圖5所示。由于電流鉗通常無法直接在PCB板上測量電流,此時(shí)電流需通過延長線引出,延長線會(huì)引入傳輸延遲,普通銅線延長線可按33.5ps/cm進(jìn)行計(jì)算,并通過示波器的延遲校正參數(shù)進(jìn)行補(bǔ)償。同樣的,電壓探頭的延長線也會(huì)帶來傳輸延遲,可根據(jù)實(shí)際測量中的超前滯后關(guān)系,對(duì)應(yīng)調(diào)整延遲校正參數(shù)進(jìn)行補(bǔ)償。以圖5為例,假設(shè)延長線的長度為100cm,則電流通道的延遲時(shí)間為:33.5ps/cm×100 cm=3.35ns。在使用偏移校正夾具完成校正后,應(yīng)調(diào)整電流通道的延遲校正時(shí)間,使其比電壓通道超前3.35ns。

  

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  圖5典型的測試示意圖

  通過以上分析可以看出:在使用示波器對(duì)高速開關(guān)器件進(jìn)行開關(guān)損耗測量時(shí),除了保證電壓通道和電流通道的波形測量準(zhǔn)確之外,還須留意通道之間的時(shí)間偏移,這種由探頭引入的時(shí)間偏移,這種偏移會(huì)為測量本身引入較大的誤差。因此,在準(zhǔn)確評(píng)估功率損耗時(shí),一定要使用偏移校正夾具對(duì)通道延遲進(jìn)行校正。



關(guān)鍵詞: 示波器 探頭

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