簡述BSDL邊界掃描語言,BSDL邊界掃描語言的應(yīng)用
BSDL邊界掃描語言的邊界掃描是一個完善的測試技術(shù)。 邊界掃描在自當(dāng)聯(lián)合測試行動組(JTAG)90年代初發(fā)明了一種解決方案來測試使用了許多新的印刷電路,正在開發(fā)和制造的地方幾乎沒有或根本沒有測試探針板的物理訪問。 一旦邊界掃描成立后,下一步是制定一個標(biāo)準(zhǔn)的芯片供應(yīng)商的模型邊界掃描設(shè)備,工具供應(yīng)商開發(fā)自動化工具,以及為最終用戶創(chuàng)建的邊界掃描測試的建模語言。 因此,邊界掃描描述語言(BSDL)已建立。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201807/384481.htmBSDL是邊界掃描設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)建模語言。 它的語法是一個VHDL的子集,它符合IEEE 1149.1-2001的規(guī)定。 它是由使用邊界掃描測試開發(fā)人員,設(shè)備模擬器,半導(dǎo)體測試儀,電路板級測試,任何人利用邊界掃描。 使用的的BSDL促進整個電子行業(yè)的一致性。 此外,它使任何邊界掃描中的一個有用的,可以理解的,一致的方式和設(shè)備的功能規(guī)范。
BSDL走出了邊界掃描測試哲學(xué)的發(fā)展。 最初的IEEE 1149.1-1990標(biāo)準(zhǔn)的(見[符合IEEE 1149.1(JTAG接口)])標(biāo)準(zhǔn)描述的邊界掃描并于1990年批準(zhǔn)發(fā)布,并作為結(jié)果,使用邊界掃描技術(shù)開始增長。 該標(biāo)準(zhǔn)的下一次修訂在1993年發(fā)生。 在1994年進一步修訂納入了IEEE 1149.1-1994標(biāo)準(zhǔn)的BSDL。
什么是的BSDL?
邊界掃描描述語言使用戶能夠提供的方式,邊界掃描在任何特定的設(shè)備實施的說明。 由于每個芯片設(shè)計趨于應(yīng)用邊界掃描方式略有不同標(biāo)準(zhǔn),這是一個需要理解的表達(dá),具體和實用的方式測試。是書面的BSDL在VHDL的子集。 VHDL語言是常用的一種為FPGA和ASIC設(shè)計輸入的數(shù)字電路電子設(shè)計自動化的語言,因此它是與邊界因為許多芯片設(shè)計掃描是用這種語言進行工作相適應(yīng)的。 但是的BSDL是一個“子集和標(biāo)準(zhǔn)做法”的VHDL,即VHDL語言的范圍,從而對邊界掃描應(yīng)用受到限制。
設(shè)計過程中的BSDL有兩種語言的主要標(biāo)準(zhǔn):
BDSL使設(shè)備的使用邊界掃描功能,準(zhǔn)確和有用的說明。 BSDL文件是所使用的邊界掃描工具,使設(shè)備的使用功能,使任何測試性分析測試程序生成,?故障診斷,以及使用。 的BSDL不是一個可以用硬件描述語言,相反,它是用來定義設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸?shù)奶攸c,即它是如何捕獲,轉(zhuǎn)變和更新掃描數(shù)據(jù)。 這才是用于定義測試能力。
BSDL文件包括以下數(shù)據(jù):
實體聲明 :本實體聲明是一個VHDL構(gòu)造,是用來識別文件名 的BSDL設(shè)備所描述的。
泛型參數(shù) :通用參數(shù)是指定哪個區(qū)段包描述。
邏輯端口說明 :這說明列出了設(shè)備的所有連接。 它定義它的基本屬性,即是否連接輸入(以位;),輸出(OUT位;),雙向(inout的位;),或者如果它是不可用的邊界掃描(連鎖位;)。
封裝引腳映射 :包引腳映射被用于確定一個集成電路的內(nèi)部連接范圍內(nèi)。 它詳細(xì)介紹了如何在設(shè)備上的墊片裸片連接到外部引腳。
USE語句 :這句話是用來調(diào)用BSDL文件VHDL語言包,該數(shù)據(jù)包含在所引用。
掃描端口標(biāo)識 :掃描端口標(biāo)識識別引腳的JTAG執(zhí)行工作/這是用于邊界掃描。 這些措施包括:TDI的,商品說明條例,訓(xùn)練管理系統(tǒng),TCK和TRST的(如果使用)。
測試訪問端口(TAP)說明 :本實體提供設(shè)備的其他信息的邊界掃描和JTAG邏輯。 這些數(shù)據(jù)包括指令寄存器的長度,指令操作碼,設(shè)備的IDCODE等。
邊界寄存器描述 :這說明提供器件結(jié)構(gòu)的邊界掃描單元上。 每個器件引腳上最多可以有三個邊界掃描單元,每個單元格組成的一個寄存器鎖存器和一個。
BSDL怎樣使用?
當(dāng)電路板的設(shè)計,邊界掃描兼容設(shè)備被組織成“鏈”。 掃描鏈構(gòu)成了板級和系統(tǒng)級的測試,可以檢測和診斷引腳層次的結(jié)構(gòu)性缺陷,如開路和短路的基礎(chǔ)。 自動化工具用于生成測試方案或議會的程序。 最重要的投入,這個過程是邊界掃描功能的設(shè)備的BSDL文件,以及網(wǎng)表描述板之間的互連的設(shè)備。 生成的測試程序,當(dāng)應(yīng)用到目標(biāo)板,報告的結(jié)構(gòu)測試失敗,可以用來幫助板維修。
有些工具能夠使用邊界掃描創(chuàng)造集群的組件包括非邊界掃描兼容設(shè)備的測試模式,和其他工具可以生成測試模式,一個板上處理器可以運行,以便能夠在高速功能測試。 這些測試應(yīng)用程序獨立或與其他測試技術(shù),如在電路,結(jié)合測試(ICT)的,具有生產(chǎn)以最低的成本最優(yōu)的測試覆蓋的總體目標(biāo)和最短的測試開發(fā)時間。
邊界掃描語言的BSDL,被廣泛用于在IEEE 1149.1 / JTAG的社會使一致,準(zhǔn)確和有用的資料供邊界掃描功能的設(shè)備定義。 通過這種方式,該芯片可以被納入一個設(shè)計,它的功能用在最有效的方式充分。
邊界掃描器件BSDL描述在測試中的應(yīng)用
1、引言
“邊界掃描”是一種可測性設(shè)計技術(shù),即在電子系統(tǒng)的設(shè)計階段就考慮其測試問題[1]。
BSDL(boundary scan des cripTIon language) 語言硬件描述語言(VHDL)的一個子集,是對邊界掃描器件的邊界掃描特性的描述,主要用來溝通邊界掃描器件廠商、用戶與測試工具之間的聯(lián)系,其應(yīng)用包括:廠商將BSDL描述作為邊界掃描器件的一部分提供給用戶;BSDL描述為自動測試圖形生成(ATPG)工具測試特定的電路板提供相關(guān)信息;在BSDL 的支持下生成由IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)定義的測試邏輯 [2]?,F(xiàn)在,BSDL語言已經(jīng)正式成為IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)文件的附件。BSDL本身不是一種通用的硬件描述語言,但它可與軟件工具結(jié)合起來用于測試生成、結(jié)果分析和故障診斷。每一邊界掃描器件都附有特定的BSDL描述文件,為了論述的方便,本文將以Altera公司的CPLD器件 EPM7128SL84 芯片為例說明BSDL描述在測試中的應(yīng)用。
2、EPM7128SL84芯片的BSDL描述
該器件采用了先進的CMOS EEPROM制造工藝,共有84個引腳,其中包括四個JTAG測試引腳 TDI、TMS、TCK和TDO,通過標(biāo)準(zhǔn)JTAG測試接口它還可以支持在系統(tǒng)可編程(ISP)。下面首先討論EPM7128SL84的BSDL描述中與應(yīng)用相關(guān)的各基本元素。
2.1 TAP描述
TAP描述說明與TAP控制器相關(guān)的特性。TAP 控制器包括4個或5個控制信號,一個用戶定義的指令集(在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定范圍內(nèi))和一些可選擇的數(shù)據(jù)寄存器。EPM7128SL84的 TAP描述有:
評論