芯測科技提供便捷版內(nèi)存測試方案EZ-BIST

　　中美貿(mào)易戰(zhàn)持續(xù)延燒，引發(fā)后續(xù)波及全球的貿(mào)易戰(zhàn)爭，當中更是突顯知識產(chǎn)權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發(fā)內(nèi)存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協(xié)助客戶對知識產(chǎn)權領域規(guī)避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版內(nèi)存內(nèi)建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關的系統(tǒng)芯片開發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內(nèi)存測試開發(fā)工具，可協(xié)助客戶快速的開發(fā)產(chǎn)品，避免忽略內(nèi)存測試的細節(jié)而導致產(chǎn)品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音識別、馬達控制、家電控制、電子卷標等MCU相關的系統(tǒng)芯片。

　　圖1、EZ-BIST 流程圖

　　芯測科技(iSTART)秉持著幫助開發(fā)者以更簡單、更快速、更低成本的途徑實現(xiàn)SOC設計的初衷，提供優(yōu)化的內(nèi)存測試電路，從產(chǎn)品設計源頭大幅提升測試良率，提高產(chǎn)業(yè)競爭力，先進的功能與友善的接口能大幅縮減測試成本與產(chǎn)品上市的時間，滿足制造商的成本和產(chǎn)品可靠性的需求。

　　圖2、EZ-BIST GUI界面圖