是德科技推出全新 PathWave Design 2020 軟件套件，加速設(shè)計(jì)工作流程

2019 年 6月 12日，北京 —— 是德科技（NYSE：KEYS）發(fā)布 PathWave Design 2020 產(chǎn)品，其中包括是德科技最新版本的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件，用于加速射頻（RF）和微波、5G 以及汽車設(shè)計(jì)工程師的設(shè)計(jì)工作流程。德科技（NYSE：KEYS）是一家領(lǐng)先的技術(shù)公司，致力于幫助企業(yè)、服務(wù)提供商和政府客戶加速創(chuàng)新，創(chuàng)造一個(gè)安全互聯(lián)的世界。

PathWave Design 2020 軟件套件包括新版本的旗艦產(chǎn)品：PathWave 先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)（ADS）2020、PathWave 射頻集成電路設(shè)計(jì)（GoldenGate）2020、PathWave 系統(tǒng)設(shè)計(jì)（SystemVue）2020 和 PathWave 射頻合成（Genesys）2020。

技術(shù)不斷進(jìn)步，電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)也在追求各種新極限，比如更長的電池壽命、更小的元器件尺寸、更高的集成度。因此，隨著數(shù)據(jù)量的增加，設(shè)計(jì)要求的復(fù)雜程度也在不斷增加。分析和關(guān)聯(lián)這些數(shù)據(jù)需要用到多個(gè)沒有集成在一起的設(shè)計(jì)工具，這樣會(huì)帶來不必要的麻煩。

事實(shí)上，是德科技最近進(jìn)行的一項(xiàng)調(diào)查顯示，數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)和軟件集成被認(rèn)為是設(shè)計(jì)和測試工程師面臨的最緊迫的挑戰(zhàn)。根據(jù)這項(xiàng)調(diào)查，90% 以上的受訪者希望借助集成的產(chǎn)品開發(fā)解決方案實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享，加快產(chǎn)品上市速度。

PathWave Design 2020 軟件套件通過減少工程師在設(shè)計(jì)和仿真階段花費(fèi)的時(shí)間來加速產(chǎn)品開發(fā)。它的程序庫和定制仿真器縮短了設(shè)置時(shí)間，而自動(dòng)化改進(jìn)則減少了手動(dòng)工作。該軟件無縫集成了電路設(shè)計(jì)、電磁（EM）仿真、版圖功能和系統(tǒng)級(jí)建模，減少了導(dǎo)入和導(dǎo)出設(shè)計(jì)所需的時(shí)間，并避免了因?yàn)楦鼡Q工具而導(dǎo)致的錯(cuò)誤。數(shù)據(jù)分析的改進(jìn)使用戶可以實(shí)現(xiàn)更快的分析，并及時(shí)做出設(shè)計(jì)決策。

是德科技副總裁兼設(shè)計(jì)與測試軟件事業(yè)部總經(jīng)理 Todd Cutler 表示：“在整個(gè)行業(yè)中，提高產(chǎn)品開發(fā)周期的效率面臨著重重困難；架起設(shè)計(jì)與仿真之間的橋梁更是如此。是德科技的 PathWave Design 2020 為工程師提供了新的工具和軟件增強(qiáng)功能，可以提高他們的射頻和微波、5G 和汽車工作流程效率，縮短設(shè)計(jì)周期并避免項(xiàng)目延遲?！?/p>

是德科技的 PathWave 軟件是一款能夠建立敏捷連接的設(shè)計(jì)與測試軟件。PathWave 的先進(jìn)分析功能可以幫助開發(fā)和制造團(tuán)隊(duì)獲得可操作的敏銳洞見；是德科技的全新 PathWave Design 2020 使得客戶能夠：

·通過縮短設(shè)計(jì)時(shí)間降低成本并加快產(chǎn)品上市速度

·簡化并自動(dòng)化執(zhí)行電路仿真的數(shù)據(jù)分析

·通過兩個(gè)用于射頻和電力電子設(shè)計(jì)人員的新型集成 EM 仿真器來減少 EM 仿真設(shè)置時(shí)間

·通過為汽車?yán)走_(dá)提供新的復(fù)雜建模環(huán)境，設(shè)計(jì)出安全性高的車輛

·通過更新的 5G 虛擬測試平臺(tái)與最新 5G 新空口（NR）標(biāo)準(zhǔn)保持一致

是德科技在 2019 國際微波研討會(huì)（IMS）上展示 了PathWave Design 2020，IMS 于 6 月 4 日至 6 日期間在波士頓會(huì)展中心舉辦，是德科技展臺(tái)位于 606 展位。