使用商業(yè)級實驗室設備測量超低偏置電流的實用技巧

作者：時間：2022-06-01 來源：ADI

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在要求低漏電流的應用中，請務必選擇低輸入偏置電流(IB)的運算放大器。應用筆記 AN-1373 介紹如何使用 ADA4530-1 評估板測量超低偏置電流。然而，由于飛安(fA)級電流的實際處理性質(zhì)，測量環(huán)境（夾具、屏蔽、電纜、連接器等設備）也會影響測量結(jié)果。

本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/202206/434711.htm

問題:

有沒有一種簡單的辦法來測量飛安級別的超低偏置電流？

答案:

有——只需要仔細設置。

簡介

本文將介紹如何嘗試使用常見的商業(yè)級實驗室設備、夾具和材料重現(xiàn)AN-1373中的測量過程，并提供一些替代方案來改進測量，最終測試的偏置電流將達到50 fA。首先，我們測量用于測量偏置電流的輸入電容（運放內(nèi)部的等效共模輸入電容），以及125°C條件下給輸入電容充電時輸出電壓的變化。我們還嘗試根據(jù)測得的輸出電壓推導偏置電流值。最后，我們將嘗試根據(jù)測量結(jié)果來改進測量環(huán)境。

容性集成測量

根據(jù)AN-1373，為了使用容性集成測量方法，必須先測量ADA4530-1的輸入電容(Cp)。我們將使用 ADA4530-1R-EBZ-BUF 執(zhí)行本次實驗，ADA4530-1配置為單位增益的緩沖器模式。

接著，我們計算輸入電流(IB+)。具體來說，使用圖1所示的電路配置，當測試盒中的SW從ON（接地至GND）轉(zhuǎn)到OFF（開路）時，IB+流入Cp。當IB+給Cp充電時，輸出電壓升高，因此通過監(jiān)控IB+并將其代入等式1，可以計算其值。

圖1.容性集成測量方法示意圖。

通過輸入串聯(lián)電阻測量總輸入電容

為計算Cp，本實驗使用串聯(lián)電阻法。圖2顯示了一個簡單的電路示意圖。串聯(lián)電阻的值基于AN-1373第6頁的測量指南，實際值是Rs = 8.68 MΩ。此外，在測試盒中安裝了SW，以供稍后的實驗使用（此時，SW開路）。

可以測量函數(shù)發(fā)生器的波形衰減到–3 dB時的頻率，并且可以使用等式2計算輸入電容。

圖2.使用輸入串聯(lián)電阻計算Cp。

圖3顯示這一設置。在“通過已知輸入電容測量IB+”部分（AN-1373的第6頁）描述的實驗中，由于溫控室中的溫度提高至125°C，因此我們使用能夠承受該溫度的材料。RG-316U用作同軸電纜的材料。此外，評估板上ADA4530-1的同相輸入是三軸連接器。為此，使用三軸-同軸轉(zhuǎn)換連接器（Axis公司的BJ-TXP-

圖3.Cp測量設置：(a)溫控室內(nèi)部——所示為ADA4530-1的評估板，和(b)測試盒側(cè)的設置。

獲得的測量結(jié)果是Cp = 73.6 pF，這是一個相對較大的值，因為根據(jù)AN-1373，實際測量值約為2 pF。其原因與測試盒（更像是測試板）到同相輸入的電纜長度有關(guān)。

通過已知輸入電容測量IB+

最后，我們開始測量偏置電流。電路配置如圖1所示，安裝的測試盒如圖4所示。注意，移除了“通過輸入串聯(lián)電阻測量總輸入電容”部分使用的輸入電阻。如AN-1373（容性集成測量方法，第7頁）中所述，將SW短接至GND，然后將其置于開路，并使用數(shù)字萬用表(DMM)監(jiān)控輸出電壓波動持續(xù)數(shù)分鐘（我們使用的是Keysight Technologies的34401A DMM）。最后，通過將VOUT代入等式1，計算IB+。

圖4.容性集成測量的設置。

相同條件下的三次測量結(jié)果如圖5所示。圖中下半部分顯示了通過DMM測量的ADA4530-1的輸出電壓波動，上半部分顯示了使用等式1計算的電流值。該圖顯示，對于所有三個實例，測得的電壓值都沒有可重復性。因此，計算得到的電流值的波形也與AN-1373中描述的結(jié)果不同（參見AN-1373圖13和14）。