PCIe失效分析利器，一學(xué)就會(huì)成為故障定位專家

在服務(wù)器、PC等電子設(shè)備主板的生產(chǎn)中，往往會(huì)出現(xiàn)產(chǎn)線的故障，需要失效分析工程師（FA）以及維修工程師（RMA）去快速定位生產(chǎn)過程當(dāng)中的故障件，特別是一些高速信號(hào)的故障。在整個(gè)過程中，往往需要面臨很多的壓力和責(zé)任，比如：

?   客戶投訴需要及時(shí)反饋

?   不良風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)的識(shí)別和內(nèi)部分析

?   不斷完善設(shè)計(jì)檢查表，推動(dòng) RD 優(yōu)化設(shè)計(jì)

?   指導(dǎo)生產(chǎn)制程改善

?   團(tuán)隊(duì)的能力需要持續(xù)提升

高速信號(hào)的特殊性

但是要應(yīng)對(duì)這些壓力，往往也對(duì)工程師提出了很高的要求。目前來看FA/RMA工程師由于工作性質(zhì)問題，要去應(yīng)對(duì)上面的挑戰(zhàn)往往也很棘手，特別是高速信號(hào)相關(guān)的故障，而且由于高速信號(hào)的特殊性，這類信號(hào)也容易出問題，其中PCIe信號(hào)是其中的典型。

主要原因：

?   高速信號(hào)帶寬高、速率快、信號(hào)冗余度也因此變??；

?   PCIe 信號(hào)是高速信號(hào)互聯(lián)的關(guān)鍵；

?   PCIe 互聯(lián)的接口總類多；

?   缺少測(cè)試手段，往往只有低端示波器以及萬用表，無法用于高速信號(hào)問題排查；

?   缺乏系統(tǒng)的信號(hào)完整性知識(shí)，往往依賴于產(chǎn)品研發(fā)；

因此FA/RMA工程師需要在嚴(yán)苛的客戶投訴、產(chǎn)線運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間中，能夠有足夠的手段以及盡可能低的學(xué)習(xí)成本，快速驗(yàn)證諸如PCIe高速總線的故障，從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋，甚至能夠推動(dòng)RD優(yōu)化設(shè)計(jì)，確保團(tuán)隊(duì)能夠得到持續(xù)的正向發(fā)展和評(píng)價(jià)。

圖1. 泰克新一代TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀

新一代TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀

針對(duì)上面提到的FA/RMA工程師所遇到的挑戰(zhàn)，泰克推出了新一代的TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀。

圖 2. 豐富的硬件接口形式，應(yīng)對(duì)各種產(chǎn)品形態(tài)

這臺(tái)儀器集成了豐富、便捷的功能，直達(dá)PCIe 信號(hào)鏈路、物理層細(xì)節(jié)信息，直觀的圖示有利于工程師學(xué)習(xí)和掌握：

?   支持PCIe Gen3/4信號(hào)的一鍵式掃描功能，同時(shí)掃描所有鏈路的發(fā)射和接收性能。

?   支持多種多樣的硬件接口，如CEM、M.2、U.2、U.3等等，適配各種信號(hào)連接。

?   速度飛快，掃描所有16條PCIe Gen4總線鏈路只需要1-2分鐘。

?   一學(xué)就會(huì)，無需學(xué)習(xí)成本，通過網(wǎng)頁(yè)訪問，只需要一兩個(gè)按鍵操作就能完成測(cè)試。

?   提供專業(yè)報(bào)告，方便與RD一起進(jìn)行問題分析與定位。

圖3. 專業(yè)級(jí)的PCIe物理層Tx/Rx分析

通過TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀，整個(gè)FA/RMA工程師團(tuán)隊(duì)可以在短短1-2分鐘內(nèi)提交全面的PCIe鏈路的發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的測(cè)試結(jié)果，從而能夠給出專家級(jí)的分析報(bào)告；因此也能夠幫助工程師更快的對(duì)客戶投訴做出反饋，以及幫助工程師快速確定問題所在，確保產(chǎn)線正常運(yùn)轉(zhuǎn)，最大程度提升工程師價(jià)值以及降低產(chǎn)線成本。

目前這款新品所在的PCIe測(cè)試實(shí)驗(yàn)室已開放預(yù)約，歡迎大家來實(shí)測(cè)體驗(yàn)。