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為什么保證芯片系統(tǒng)長(zhǎng)期安全如此困難

作者:Semiconductor Engineering 時(shí)間:2023-08-28 來(lái)源:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫 收藏

越來(lái)越多的行業(yè)正在關(guān)注安全問(wèn)題,但目前還沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)和方法來(lái)確保電子系統(tǒng)隨著時(shí)間的推移達(dá)到規(guī)定的安全水平。這一任務(wù)很大程度上落到了芯片行業(yè)肩上,因?yàn)樗峁┝嘶A(chǔ)技術(shù),也發(fā)出了還能做些什么來(lái)提高安全性的問(wèn)題。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/202308/449974.htm

最近引入了一種粗略的分類法,用于驗(yàn)證和測(cè)試安全性 (見(jiàn)下文圖 1)。許多問(wèn)題跨越了整個(gè)矩陣。例如,自動(dòng)駕駛汽車必須在產(chǎn)品的整個(gè)生命周期內(nèi)擁有安全可靠的硬件和軟件,但即使在出現(xiàn)硬件故障的情況下,它也必須保持安全可靠。不幸的是,沒(méi)有工具可以確定這個(gè)抽象目標(biāo)是否已經(jīng)實(shí)現(xiàn)。相反,工具和方法傾向于覆蓋其中的一兩個(gè)盒子,而這些盒子的整合在某種程度上是臨時(shí)的。這反過(guò)來(lái)又讓一些潛在的問(wèn)題被遺漏了。此外,所使用的指標(biāo)與現(xiàn)實(shí)的關(guān)聯(lián)也很松散。

圖 1:與安全和安保相關(guān)的問(wèn)題矩陣。來(lái)源:Semiconductor Engineering

更糟糕的是,今天并非所有的問(wèn)題都得到了充分處理,部分原因是人們認(rèn)為它們的優(yōu)先級(jí)較低,部分原因是成本太高。例如,硬件安全就是由多個(gè)領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)處理的。軟件安全也涵蓋在不同的標(biāo)準(zhǔn)中,但沒(méi)有任何內(nèi)容定義硬件和軟件組合的安全性或談及整個(gè)系統(tǒng)的安全性。最接近的方法是考慮顯示軟件檢測(cè)到的硬件錯(cuò)誤百分比的故障活動(dòng)。此外,針對(duì)已定義的工作負(fù)荷和場(chǎng)景優(yōu)化的硬件越多,軟件或未來(lái)的軟件更新就越有可能導(dǎo)致硬件以最初未考慮的方式運(yùn)行。這反過(guò)來(lái)又會(huì)造成硬件過(guò)早老化,或使其處于產(chǎn)生意外漏洞的狀態(tài)。

錯(cuò)誤模型

測(cè)量任何東西都需要一個(gè)實(shí)用的度量標(biāo)準(zhǔn),即某物必須是可處理和有效的,但不一定要基于現(xiàn)實(shí)。故障模型(如故障卡住模型)已經(jīng)存在了很長(zhǎng)時(shí)間,并被證明可以有效地表示硬件故障——盡管硬件可能會(huì)發(fā)生故障的方式有很多,例如開(kāi)路,短路或運(yùn)行緩慢。瞬態(tài)故障也很重要,因?yàn)樗鼈兇砹溯椛淇赡芤鸬奈环D(zhuǎn)。

「有一系列規(guī)范適用于多個(gè)行業(yè)的功能安全,」Cadence 產(chǎn)品管理集團(tuán)總監(jiān) Pete Hardee 說(shuō)?!赣幸粋€(gè)通用的 IEC 標(biāo)準(zhǔn),IEC 61508,這是一種元標(biāo)準(zhǔn)。ISO 26262 是其衍生產(chǎn)品,更具體地針對(duì)汽車市場(chǎng)。對(duì)于鐵路、醫(yī)療設(shè)備、工廠自動(dòng)化、核能等等,同樣的元標(biāo)準(zhǔn)還有其他衍生物,有適用于航空航天工業(yè)的 DO-254。越來(lái)越多的人進(jìn)入這些領(lǐng)域的供應(yīng)鏈,因此不得不考慮滿足一些功能安全規(guī)范?!?/span>

然后,我們可以推進(jìn)這些規(guī)范?!窱SO 26262,特別是第 5 部分和第 11 部分,是半導(dǎo)體的指南,」西門子數(shù)字工業(yè)軟件功能安全和自主解決方案經(jīng)理 Jake Wiltgen 表示?!高@些標(biāo)準(zhǔn)要求特定的指標(biāo),即覆蓋率指標(biāo)。ISO 中使用的術(shù)語(yǔ)是診斷覆蓋率,但本質(zhì)上是檢測(cè)到的故障率超過(guò)總故障率。」

需要建立流程。「對(duì)安全性的高度信任依賴于定義良好的流程以及對(duì)流程的嚴(yán)格遵守。」Fraunhofer IIS 自適應(yīng)系統(tǒng)工程部設(shè)計(jì)方法負(fù)責(zé)人 Roland Jancke 說(shuō)。「最好的方法之一是需求工程(RE)。它從適當(dāng)定義的安全目標(biāo)開(kāi)始,接著建立各自的需求,并將它們轉(zhuǎn)換為測(cè)試用例。一個(gè)基本要素是在整個(gè)過(guò)程中建立需求跟蹤,以便在發(fā)生任何變化時(shí)僅針對(duì)受影響的部件進(jìn)入重新設(shè)計(jì)循環(huán)。」

對(duì)汽車來(lái)說(shuō),系統(tǒng)需要的安全程度取決于自動(dòng)駕駛的程度。「這實(shí)際上取決于人們的目標(biāo) ASIL 水平,」Cadence 的 Hardee 說(shuō)?!窤SIL A 并沒(méi)有真正改變,但'我必須讓我的流程獲得認(rèn)證'。在某些情況下,ASIL B 的影響也很小。但是,當(dāng)涉及到滿足 ASIL C 和 ASIL D 水平時(shí),它可能變得非常具有挑戰(zhàn)性。這與人們?yōu)楣δ茯?yàn)證所做的工作非常一致,因?yàn)轵?yàn)證和滿足規(guī)范的基本方法是查看一臺(tái)好的機(jī)器,并通過(guò)功能驗(yàn)證實(shí)現(xiàn)良好的覆蓋率。」

如何做到這一點(diǎn)是留給設(shè)計(jì)師的。Imperas Software 創(chuàng)始人兼首席執(zhí)行官 Simon Davidmann 表示:「這取決于設(shè)計(jì)人員提出的架構(gòu)、技術(shù)或解決方案,以證明他們能夠滿足這些質(zhì)量目標(biāo)。挑戰(zhàn)在于他們?nèi)绾卧u(píng)估自己所做工作的質(zhì)量。他們可能想要運(yùn)行模擬,注入故障,以查看他們的軟件和硬件對(duì)這些故障有多大彈性。我們?cè)诠收夏P蜕献隽撕芏喙ぷ?,以表示現(xiàn)實(shí)世界中發(fā)生的這些不同事情?!?/span>

這就是實(shí)用性發(fā)揮作用的地方。「如果你采用 1 億個(gè)門的設(shè)計(jì),看看不同故障機(jī)制的數(shù)量,任何一種方法都無(wú)法涵蓋這一點(diǎn),」Synopsys 的 EDA 集團(tuán)工程副總裁 Manish Pandey 說(shuō)。「從形式的角度看,獲取所有錯(cuò)誤并嘗試傳播它在計(jì)算上是不可行的。我們需要更好的采樣方法,有不同的內(nèi)部故障模式,確定安全和不安全的區(qū)域,等等。這種安全方法需要構(gòu)建適當(dāng)?shù)墓收线\(yùn)動(dòng)途徑,并且必須以非常有意識(shí)的方式完成。對(duì)微架構(gòu)的認(rèn)識(shí)至關(guān)重要。」

隨時(shí)間推移的安全性

在理想的硬件上做到這一點(diǎn)是不夠的?!噶硪粋€(gè)類別是保證整個(gè)生命周期的預(yù)期功能,」Fraunhofer 的 Jancke 說(shuō)。「可靠性仿真可以確保這一點(diǎn),而可靠性仿真又依賴于已知老化機(jī)制的適當(dāng)退化模型和全面的壽命外推能力?!?/span>

老化起著至關(guān)重要的作用。西門子 EDA 的 Veloce、DFT 和功能安全產(chǎn)品經(jīng)理 Robert Serphillips 表示:「如果你看一下制造測(cè)試,他們通常會(huì)測(cè)試超過(guò)絕對(duì)規(guī)格的 20%,無(wú)論是時(shí)鐘頻率、功率還是溫度。硅會(huì)隨著時(shí)間推移而降解,溫度是非常關(guān)鍵的。在高溫下,設(shè)備的物理速度會(huì)變慢。像快速路徑和慢路徑這樣的東西現(xiàn)在開(kāi)始變得有問(wèn)題了。從安全角度來(lái)看,設(shè)備在周圍環(huán)境中的行為方式對(duì)于設(shè)備如何降級(jí)、故障如何開(kāi)始出現(xiàn)以及電路如何開(kāi)始失效至關(guān)重要。所有這些都必須納入考量,而不僅僅是從外太空射出的隨機(jī)光子。這款設(shè)備能否在其額定使用壽命內(nèi)保持不變?」

「當(dāng)我們考慮老化時(shí),電路的閾值可能發(fā)生改變,」Hardee 說(shuō)?!鸽娐房赡芨菀资艿竭@些東西的影響,設(shè)備可能會(huì)直接失效,這通常會(huì)造成卡住一類的故障?!沟⒎强偸侨绱?。「當(dāng)你采用 5nm 或 3nm 的節(jié)點(diǎn)時(shí),這些芯片會(huì)以許多奇怪的方式老化和失效,」Synopsys 的 Pandey 說(shuō)?!冈陔娋€中,有電子遷移,這可能會(huì)產(chǎn)生開(kāi)路。有些機(jī)制我們甚至都不知道。另一件有趣的事情是你如何檢測(cè)故障,以及設(shè)計(jì)中的嵌入式傳感器如何監(jiān)控這些芯片的行為,它們是如何退化的。是否有潛在的故障蔓延?我們將不得不通過(guò)額外的芯片監(jiān)控和芯片智能來(lái)補(bǔ)充傳統(tǒng)的故障預(yù)警方法?!?/span>

片內(nèi)監(jiān)控是對(duì)其他 BiST 技術(shù)的補(bǔ)充。「先進(jìn)的 SLM 監(jiān)測(cè)器通過(guò)分析升級(jí),可以作為應(yīng)對(duì)間歇性和降級(jí)故障的安全機(jī)制,」Synopsys 戰(zhàn)略系統(tǒng)工程可靠性核心團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)人 Dan Alexandrescu 表示。「多階段方法使用來(lái)自高級(jí)傳感器的信息,這些傳感器緊密嵌入關(guān)鍵設(shè)計(jì)模塊中。路徑裕量監(jiān)控、錯(cuò)誤前檢測(cè)、內(nèi)存訪問(wèn)時(shí)間測(cè)量、ECC 和 BiST 事件被統(tǒng)一評(píng)估為相關(guān)的、及時(shí)的安全和質(zhì)量指標(biāo)。然后向系統(tǒng)執(zhí)行器發(fā)布可操作的見(jiàn)解,以及時(shí)糾正安全性和可靠性威脅。芯片內(nèi)數(shù)據(jù)被發(fā)送到邊緣和云平臺(tái),以進(jìn)行車隊(duì)級(jí)監(jiān)控。所有階段的高級(jí)分析都可以快速準(zhǔn)確地了解非常罕見(jiàn)的事件和現(xiàn)象,幫助安全使用已部署的產(chǎn)品,并為未來(lái)的設(shè)計(jì)提供更高的質(zhì)量?!?/span>

遠(yuǎn)程分析對(duì)功能驗(yàn)證提出了要求。Synopsys 系統(tǒng)設(shè)計(jì)集團(tuán)產(chǎn)品線管理高級(jí)總監(jiān) Johannes Stahl 說(shuō):「原始設(shè)備制造商希望對(duì)具有特定 VIN 號(hào)的特定汽車進(jìn)行生命周期監(jiān)控,并向他們報(bào)告故障。」「從驗(yàn)證的角度來(lái)看,在硅前階段,你必須確保這些機(jī)制有效,并提供正確的信息。」

擴(kuò)展到

自動(dòng)駕駛汽車越來(lái)越多地使用,這給驗(yàn)證和確認(rèn)帶來(lái)了一系列新的挑戰(zhàn)。其中許多今天還無(wú)法完全理解。圖 2(下圖) 定義了 AI 系統(tǒng)驗(yàn)證與傳統(tǒng)軟件的不同之處。

圖 2:從 V&V 的角度對(duì)比傳統(tǒng)算法和機(jī)器學(xué)習(xí)算法。來(lái)源:《PolyVerif:自動(dòng)駕駛汽車驗(yàn)證和驗(yàn)證研究加速的開(kāi)源環(huán)境》

如何檢測(cè) AI 系統(tǒng)是否出現(xiàn)故障?「是一個(gè)統(tǒng)計(jì)系統(tǒng),它會(huì)在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)失敗,」Pandey 說(shuō)。「我們?nèi)绾未_保這些系統(tǒng)繼續(xù)表現(xiàn)良好? 有一類工作正在興起,就是正式驗(yàn)證這些人工智能系統(tǒng)并確保它們?cè)谙拗品秶鷥?nèi)。同樣,有研究正在進(jìn)行,以包含這些系統(tǒng)。但是,如果我們用額外的傳感器和其他故障安全機(jī)制來(lái)補(bǔ)充傳統(tǒng)系統(tǒng),就需要一些東西來(lái)驗(yàn)證并確保系統(tǒng)真正做它們應(yīng)該做的事情。」

在未來(lái),它會(huì)變得更加復(fù)雜。人工智能系統(tǒng)本質(zhì)上是一個(gè)學(xué)習(xí)系統(tǒng),」Synopsys 的 Stah 表示?!杠浖怯扇司帉懙模赡馨e(cuò)誤。那么人工智能是否比軟件有更高的風(fēng)險(xiǎn)? 它是一個(gè)可以學(xué)習(xí)的人工智能系統(tǒng)嗎?」

限制故障空間

硬件的故障空間是巨大的,即使有高度受限的故障模型也是如此。所以必須使用其他技術(shù)來(lái)限制實(shí)際需要考慮的故障數(shù)量。

「故障模式效應(yīng)和診斷分析 (FMEDA) 考慮到了你正在處理的電路的可靠性數(shù)據(jù),」Hardee 說(shuō)。「你正在研究失敗的模式和這些模式的影響。因此,我們實(shí)際上只關(guān)注故障的子集,這些故障可能發(fā)生在傳播到可能造成傷害的功能輸出的地方?!?/span>

沒(méi)有最好的方法來(lái)做到這一點(diǎn)。「通過(guò)故障模擬,你可以將故障輸入到設(shè)計(jì)中,看看它們是否能被檢測(cè)到或觀察到,」西門子的 Wiltgen 說(shuō)?!傅@不是唯一的方法。還可以部署其他分析方法來(lái)獲得這些指標(biāo)。它需要在靜態(tài)空間、形式空間和模擬空間中結(jié)合不同的工具與方法,以盡可能快速有效地達(dá)到這些指標(biāo)?!?/span>

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試和數(shù)字孿生可以補(bǔ)充現(xiàn)有工具?!赣腥藫芘艘幌伦児忾_(kāi)關(guān),說(shuō)我在這里插入了一個(gè)錯(cuò)誤,」Arteris 營(yíng)銷副總裁 Frank Schirrmeister 說(shuō)?!赶霗z查測(cè)試是否真的發(fā)現(xiàn)了這個(gè)錯(cuò)誤。就像是在進(jìn)行一場(chǎng)安全活動(dòng),只不過(guò)是在系統(tǒng)中進(jìn)行。會(huì)有更多這樣的工具插入安全和安保項(xiàng)中嗎?也許,并且會(huì)擴(kuò)展到虛擬化中。有了電子數(shù)字孿生,就可以插入一些東西,看看虛擬表示是否與真實(shí)硬件相匹配?!?/span>

結(jié)論

經(jīng)驗(yàn)證據(jù)表明,簡(jiǎn)化的故障模型——合理地應(yīng)用于系統(tǒng)的硬件方面,再加上軟件和內(nèi)置傳感器來(lái)進(jìn)行檢測(cè),有時(shí)也糾正錯(cuò)誤行為——可以充分確保硬件在其使用壽命內(nèi)是安全的。它依靠一些專家來(lái)監(jiān)督這個(gè)過(guò)程,以確保根據(jù)它所處的環(huán)境和可以提供的安全程度給予充分考慮。

然而,該過(guò)程是臨時(shí)的和不完整的,因?yàn)樗鼪](méi)有考慮整個(gè)系統(tǒng)的安全性。這應(yīng)該成為我們的目標(biāo)。



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