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纖毫畢現(xiàn),ACF導(dǎo)電粒子在線檢測微分干涉光學(xué)系統(tǒng)

作者: 時間:2024-04-29 來源:中國機(jī)器視覺網(wǎng) 收藏

微分干涉相襯觀察法(Differential Interference Contrast,DIC)是基于干涉原理,通過引入相位差和干涉現(xiàn)象的一種特殊顯微成像技術(shù)。從光源射出經(jīng)過起偏器后的線偏振光,通過一個有雙折射性質(zhì)的的分光束棱鏡,分解成兩束正交方向振動的偏振光,當(dāng)這兩束空間間隔極小的相干光束照射到樣品表面時,樣品表面的微小凹凸和材料折射率的差異會導(dǎo)致兩個光束光程差的產(chǎn)生,兩束具有光程差的光束經(jīng)過分光棱鏡重新匯合,通過檢偏器后使它們的振動方向一致從而發(fā)生干涉現(xiàn)象。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/202404/458223.htm

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這種干涉現(xiàn)象與光程差的存在,將樣品表面的微小細(xì)節(jié)差異轉(zhuǎn)化為圖像明暗對比增強(qiáng)的效果,在2D成像時可以展現(xiàn)出一種立體浮雕般的三維效果。起初該技術(shù)旨在解決傳統(tǒng)顯微鏡對未染色透明生物樣品的低對比度問題。

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茉麗特DIC產(chǎn)品

隨著技術(shù)的進(jìn)步和DIC顯微鏡的改進(jìn),DIC觀察法在分辨率、對比度和圖像質(zhì)量方面得到了提升。數(shù)字成像系統(tǒng)的引入使得觀察到的圖像可以直接轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像,并進(jìn)行后續(xù)的圖像分析和處理。

在工業(yè)機(jī)器視覺領(lǐng)域,DIC作為一種新興的觀察檢驗方法,憑借其不同于常規(guī)明視場、暗視場照明的獨特成像原理,正越來越受到廣泛應(yīng)用。尤其近年來,在新型能源汽車的爆發(fā)式發(fā)展帶動下,部分上游配套產(chǎn)業(yè),如智能座艙所需更多的車載顯示面板、高壓快充所需第三代功率半導(dǎo)體(SiC、GaN)需求也迎來迅速增長,DIC正成為其中部分制程中關(guān)鍵的觀察手段,如導(dǎo)電粒子壓合、晶圓表面缺陷檢測等。

2018年,茉麗特根據(jù)中國市場信息,結(jié)合自身技術(shù)實力,發(fā)布了第一款DIC筒鏡。通過調(diào)整DIC顯微鏡的參數(shù),如偏振器的角度和起偏檢偏相對位置,可以改變干涉圖像的外觀和對比度。這使得茉麗特的DIC顯微鏡能夠提供高分辨率、高對比度和三維立體效果的圖像,揭示樣品中微小的相位差異和細(xì)微結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。

突出優(yōu)勢1:超高亮度

茉麗特同時擁有鏡頭、光源的設(shè)計與制造能力,成像仿真技術(shù)與照明技術(shù)相配合,超高的照明亮度可以搭配最大靶面28mm線掃相機(jī),進(jìn)行高速線掃成像。

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突出優(yōu)勢2:高粒子對比度/高分辨率

茉麗特結(jié)合50年來的設(shè)計與加工經(jīng)驗積累,自行設(shè)計制造分光束棱鏡,更好的平衡分光寬度與分光高度,獲得更高的粒子對比度同時保證高分辨率。

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突出優(yōu)勢3:高均勻性

光源和部分的一體化設(shè)計,優(yōu)化兩者配合,擁有更高的均勻性。   

應(yīng)用案例

不僅如此,除在工業(yè)領(lǐng)域幫助工程師和研究人員進(jìn)行精密制造和質(zhì)量控制外,DIC在材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域也正發(fā)揮著強(qiáng)大的作用。茉麗特作為機(jī)器視覺行業(yè)的光學(xué)元件及解決方案提供商,也期待客戶能提出更多的行業(yè)需求與應(yīng)用信息,我們將通過領(lǐng)先的技術(shù)創(chuàng)新及產(chǎn)品創(chuàng)造,持續(xù)為中國及全球客戶提供優(yōu)質(zhì)的技術(shù)解決方案及服務(wù)。




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