是德科技推出適用于功率半導體的3kV高壓晶圓測試系統(tǒng)

●   通過高壓開關矩陣實現(xiàn)一次性測試，進而提高生產效率

●   該系統(tǒng)旨在提高操作人員與設備的安全性；同時確保符合相關法規(guī)要求

是德科技推出適用于功率半導體的3kV高壓晶圓測試系統(tǒng)

是德科技（Keysight Technologies, Inc.）近日推出全新的4881HV高壓晶圓測試系統(tǒng)，進一步擴展了其半導體測試產品組合。該解決方案通過在一次性測試中高效完成高達3kV的高低壓參數(shù)測試，從而顯著提升了功率半導體制造商的生產效率。

傳統(tǒng)上，制造商一直采用分別針對高壓和低壓的測試設備來測量晶圓。然而，隨著多功能性、高性能的功率半導體以及碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）等新一代半導體器件的市場需求迅速增長。因此，客戶亟需一種能夠以更準確、更高效的方式測試其設備，并縮短產品上市時間的解決方案。

是德科技的解決方案通過使功率器件制造商能夠在生產過程中執(zhí)行PCM和 WAT操作，進而有效應對了這些挑戰(zhàn)。這一全新的測試系統(tǒng)具有以下優(yōu)勢：

●   高壓性能滿足未來需求：高壓開關矩陣 (HV-SWM) 可支持高達 3kV 的要求，并且可擴展至 29 個引腳，同時與精密的源測量單元 (SMU) 實現(xiàn)無縫集成。這一特性使得系統(tǒng)可在任何引腳上實現(xiàn)從低電流到亞皮安（pA）級分辨率，直至3kV高壓的靈活測試。此外，該系統(tǒng)還支持高壓電容測量和各種參數(shù)測試。

●   一次性測試提高生產效率：HV-SWM 允許使用單一的測試系統(tǒng)來替代傳統(tǒng)上需要分別配置的高壓和低壓測試系統(tǒng)。這種做法不僅提高了工作效率，還顯著減少了測試所需的場地占用和時間消耗。此外，該系統(tǒng)通過使用是德科技的SPECS-FA軟件與工廠自動化環(huán)境實現(xiàn)無縫集成，從而提高整體生產流程的效率。 

●   更高的安全性和可靠性：測試系統(tǒng)內置了保護電路和機器控制措施，確保操作人員和設備在測試過程中不會受到高壓浪涌的影響。同時，該系統(tǒng)還嚴格遵循包括SEMI S2標準在內的各項安全法規(guī)，確保使用過程中的安全性與可靠性。

是德科技晶圓測試解決方案業(yè)務副總裁兼總經理Shinji Terasawa表示：“是德科技很高興能在長期測試先進半導體的基礎上，推出全新的功率半導體晶圓測試系統(tǒng)。我們的使命是通過提供前沿的解決方案，來預測并滿足半導體行業(yè)日新月異的需求，從而引領市場。這一最新創(chuàng)新成果彰顯了我們對行業(yè)的堅定承諾?！?/p>