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鎧俠即將發(fā)布三大創(chuàng)新研究成果

作者: 時間:2024-10-24 來源:SEMI 收藏

官網(wǎng)獲悉,(Kioxia)宣布其多項創(chuàng)新研究成果,將于今年12月7日至11日在美國舊金山舉行的IEEE國際電子器件大會(IEDM)上發(fā)表。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/202410/463951.htm

聲明中稱,旨在不斷創(chuàng)新以滿足未來計算和存儲系統(tǒng)的需求。此次發(fā)布包括以下三大創(chuàng)新技術(shù):

氧化物半導(dǎo)體通道晶體管(OCTRAM):該技術(shù)由鎧俠聯(lián)合南亞科技共同開發(fā),通過改進制造工藝,開發(fā)出一種垂直晶體管,提高了電路集成度。OCTRAM技術(shù)有望大幅降低的功耗,使其在人工智能、5G通信等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。

高容量交叉點(磁阻隨機存取存儲器)技術(shù): 與SK海力士聯(lián)合開發(fā)的高容量交叉點技術(shù),通過將高密度選擇器與磁隧道結(jié)相結(jié)合,實現(xiàn)了業(yè)界領(lǐng)先的單元密度。同時,該技術(shù)還采用了創(chuàng)新的讀出方法,有效降低了讀取干擾,提升了存儲器的可靠性。這項技術(shù)在人工智能和大數(shù)據(jù)處理等領(lǐng)域具有巨大的應(yīng)用潛力。因其非易失性、高速讀寫、無限寫入次數(shù)和高可靠性等特性,被認為有望在多種應(yīng)用領(lǐng)域替代現(xiàn)有的。MRAM的基本單位為磁隧道結(jié)(MTJ),利用材料的磁阻變化來存儲數(shù)據(jù)。

具有水平單元堆疊結(jié)構(gòu)的下一代3D:鎧俠自主研發(fā)的下一代3D閃存技術(shù)采用水平單元堆疊結(jié)構(gòu),相比傳統(tǒng)的垂直堆疊結(jié)構(gòu),具有更高的位密度和可靠性。這項創(chuàng)新有望進一步提升閃存的存儲容量和性能,滿足未來數(shù)據(jù)存儲不斷增長的需求。3D 通過垂直堆疊技術(shù),將DRAM單元尺寸大幅減少,提高能效的同時降低單元面積。這種技術(shù)有望成為推動DRAM微縮的關(guān)鍵因素,滿足不斷增長的存儲需求和性能要求。



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