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教你如何進(jìn)行Xilinx SerDes調(diào)試

作者: 時(shí)間:2013-10-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
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通常會(huì)使用一定的步驟來定位問題,避免重復(fù)工作。一開始,一般不進(jìn)行整個(gè)工程的測(cè)試,而是基于SERDES的Wrappers工程,以方便定位問題。一般可以使用CORE generator里的Transceivers Wizard產(chǎn)生的Example Design。在Core generator里產(chǎn)生Transceivers Wizard的Example Design后,會(huì)輸出源文件和scripts。利用scripts可以直接產(chǎn)生運(yùn)行結(jié)果。Example Design里的數(shù)據(jù)產(chǎn)生和檢測(cè)都是基于BRAM,可以很方便的修改數(shù)據(jù)。在工程里面,Chipscope VIOs and ILAs必須被加入到工程里面,進(jìn)行控制和分析。

a) 進(jìn)行Near-end PCS測(cè)試。

i. 啟動(dòng)SERDES復(fù)位(VIO)。

ii. 確認(rèn)復(fù)位結(jié)束(VIO)。

iii. 檢查SERDES狀態(tài)信號(hào)(VIO)。

iv. 使用計(jì)數(shù)器確認(rèn)時(shí)鐘頻率(VIO)。

b) 進(jìn)行Near-end PMA測(cè)試。

i. 確認(rèn)CDR工作正常,檢測(cè)CDR產(chǎn)生的恢復(fù)時(shí)鐘(VIO)。

ii. Comma alignment和8B/10B狀態(tài)檢查(ILA)。

c) 正常操作檢測(cè)

i. 確認(rèn)clock correction電路狀態(tài)(ILA)。

ii. 確認(rèn)Channel bonding電路狀態(tài)(ILA)。

iii. 鏈路通訊檢查(ILA和VIO)。


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