新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計應(yīng)用 > 光電倒置開關(guān)研制及可靠性分析

光電倒置開關(guān)研制及可靠性分析

作者: 時間:2013-09-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
e; COLOR: rgb(0,0,0); TEXT-INDENT: 0px; PADDING-TOP: 0px; WHITE-SPACE: normal; LETTER-SPACING: normal; orphans: 2; widows: 2; webkit-text-size-adjust: auto; webkit-text-stroke-width: 0px">  

光電倒置開關(guān)研制及可靠性分析

  圖3 開關(guān)工作一個周期的波形圖

2 開關(guān)檢測系統(tǒng)設(shè)計

  2.1 檢測系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)

  開關(guān)的檢測系統(tǒng)是由小功率調(diào)速電機、固定光電倒置開關(guān)和電路模塊的轉(zhuǎn)筒以及電路模塊所組成的。圖4 是檢測系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)框圖,該圖表明了各部分之間的關(guān)系。

  

光電倒置開關(guān)研制及可靠性分析

  圖4 檢測系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)框圖

  當(dāng)系統(tǒng)裝配好后,接上電源進入低功耗態(tài);在小功率電機的旋轉(zhuǎn)過程中,當(dāng)檢測系統(tǒng)的光敏三極管感應(yīng)到發(fā)光二極管發(fā)出的光時,檢測系統(tǒng)被觸發(fā),系統(tǒng)開始循環(huán)采樣并把轉(zhuǎn)換的結(jié)果存儲到外部Flash中;當(dāng)Flash 內(nèi)的數(shù)據(jù)達到設(shè)計的存儲容量時,系統(tǒng)停止采樣檢測系統(tǒng)進入等待讀出態(tài)。

  2.2 波形分析程序設(shè)計

  從檢測系統(tǒng)Flash 中讀出的數(shù)據(jù)可以在上位機中,由VB 6.0 設(shè)計的軟面板顯示成波形圖,同時對波形做更進一步的處理,判斷每個光電倒置開關(guān)的成功比率,以此檢測其可靠性。

  由圖5 的正弦波形圖可以看出,在一個周期(-π ,π )內(nèi),波形單調(diào)升或者單調(diào)降各一次。

  由于一個周期內(nèi)只有一次單調(diào)升,于是可以得到這樣一個算法:

  假設(shè)正弦波由n 個點組成,每一個點都有對應(yīng)正弦波上的一個值發(fā)f(n)。在(-1,1)之間隨意取一個值A(chǔ),當(dāng)且僅當(dāng)f(n)A 時,認(rèn)為此時的波形處于上升階段,算作一個周期,其他的情況全部忽略。這樣,可以判斷在一組正弦波中有多少個周期。

  

光電倒置開關(guān)研制及可靠性分析

  圖5 正弦波形圖

  同理,這個算法也可以應(yīng)用到檢測系統(tǒng)采集到的數(shù)據(jù)分析的軟件設(shè)計上。由前述的波形理論可知,光電倒置開關(guān)工作一個周期的波形,單調(diào)升或者單調(diào)降只有一次,完全符合上述算法。

  波形分析程序設(shè)計流程圖如圖6 所示。

光電開關(guān)相關(guān)文章:光電開關(guān)原理


關(guān)鍵詞: 光電倒置 開關(guān)研制 可靠性分析

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉