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最新印制板設(shè)計(jì)通用標(biāo)準(zhǔn)的“三連勝”

作者: 時(shí)間:2013-04-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
隨著芯片尺寸不斷地縮小、系統(tǒng)功能特性不斷地?cái)U(kuò)展,設(shè)計(jì)人員要記住電路板布局參數(shù)和規(guī)范要求也就變得越來越困難了。最新修訂的 IPC-2221B《設(shè)計(jì)》,涵蓋了各種類型的印制電路板在設(shè)計(jì)中的各種要求,如測(cè)試、通孔保護(hù)、測(cè)試板設(shè)計(jì)、表面處理等。

  IPC技術(shù)項(xiàng)目經(jīng)理John Perry說:“最新修訂的標(biāo)準(zhǔn)可以幫助設(shè)計(jì)師選擇表面處理的方式,新擴(kuò)展的數(shù)據(jù)圖表使各種表面處理參數(shù)查詢起來相當(dāng)便捷。”

  新標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)電氣測(cè)試部分的更新,體現(xiàn)了行業(yè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的重視。Perry說“電氣測(cè)試方面新增加的內(nèi)容介紹了如持續(xù)性測(cè)試、高壓測(cè)試、阻抗測(cè)試在內(nèi)的測(cè)試方法??偟恼f來,一種測(cè)試方法不可能滿足所有的測(cè)試要求,希望設(shè)計(jì)師勇于選擇兩到三種測(cè)試方法以滿足客戶的要求。

  由于電路板上通孔數(shù)量的增加,通孔保護(hù)就顯得格外重要,IPC-2221B也增加了這方面的內(nèi)容。該標(biāo)準(zhǔn)中更新的另外一個(gè)重要部分是附錄A中關(guān)于測(cè)試板的可接受性、定期一致性測(cè)試等內(nèi)容,其性能指標(biāo)按照IPC-6012C 剛性的鑒定與性能規(guī)范和IPC-6013C 撓性的鑒定與性能規(guī)范。

  比如說,用于金屬導(dǎo)通孔評(píng)估和熱應(yīng)力測(cè)試的AB/R測(cè)試板,已設(shè)計(jì)成能囊括盲孔、埋孔和微通孔結(jié)構(gòu)。AB/R測(cè)試板和附錄A中的另外8個(gè)測(cè)試板的設(shè)計(jì),是在23年前推出的IPC-2221測(cè)試板基礎(chǔ)上,進(jìn)行的突破性改進(jìn)。

最新印制板設(shè)計(jì)通用標(biāo)準(zhǔn)的“三連勝”

  IPC-2221B的發(fā)布標(biāo)志著印制電路板設(shè)計(jì)三大重要標(biāo)準(zhǔn)皆大功告成。Perry說:“我們創(chuàng)造了一個(gè)三連勝奇跡——兩年前推出了IPC-2222A 剛性有機(jī)印制板設(shè)計(jì)分標(biāo)準(zhǔn),一年前發(fā)布了IPC-2223C 撓性印制板設(shè)計(jì)分標(biāo)準(zhǔn),IPC-2221B的發(fā)布標(biāo)志著IPC-2220系列設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)全部更新完畢?!?/P>



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