DDS掃頻技術(shù)實(shí)現(xiàn)寄生電感測(cè)量?jī)x
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表1 寄生測(cè)試結(jié)果
由表1 可見(jiàn)， 對(duì)于這3 種數(shù)量級(jí)的電容， 其測(cè)試結(jié)果誤差均在9%以內(nèi)， 基本可以滿足大多數(shù)場(chǎng)合的應(yīng)用要求。
由表1 還可看出測(cè)量誤差會(huì)隨電容值的減小而增大， 這種現(xiàn)象是由于掃頻信號(hào)的分辨率低造成的， 提高掃頻信號(hào)的分辨率可以進(jìn)一步降低該誤差。另外， 該儀器對(duì)于小于100 pF 的電容無(wú)法測(cè)量其寄生電感， 因?yàn)樗璧募?lì)信號(hào)頻率已經(jīng)超出A D9854 的工作范圍， 采用更高頻率的DDS可以消除這個(gè)問(wèn)題。
6 結(jié)論
該方法對(duì)于nH 級(jí)的電感都能準(zhǔn)確的測(cè)量， 彌補(bǔ)了大多數(shù)LCR 電橋無(wú)法精確測(cè)量微小電感的缺點(diǎn)。該方法若結(jié)合LCR 電橋一起使用， 基本可以滿足大多數(shù)情況下的電感測(cè)量要求。
評(píng)論