是不是每次測量一個新的項目前都必須做校準(zhǔn)

　　注意：在正式測量前X,Y,Z軸最好先進行回零。因為機械位置誤差的補償是以零位為基準(zhǔn)的，同時軟件的行程限位也是相對于零位的。

　　3. 預(yù)測試

　　通過沿水平或垂直方向掃描待測天線的中心行所獲幅相數(shù)據(jù)來判斷天線的安裝是否滿足測試要求。由相位數(shù)據(jù)可判斷探頭掃描面是否與天線口徑面平行，同時根據(jù)幅度數(shù)據(jù)可確定掃描面的大小及起點位置。

　　4. 測試功能

　　該功能包括天線的近場測試和遠(yuǎn)場測試。在近場測試前應(yīng)先執(zhí)行預(yù)掃描，以調(diào)整天線口徑面與探頭掃描面平行，并確定掃描面積和起點。而遠(yuǎn)場調(diào)整時，應(yīng)將探頭對準(zhǔn)天線口徑中心。

　　* 平面近場掃描

　　用戶通過設(shè)置測試軌跡(水平或垂直掃描)、采樣方式(單向或雙向)、極化方向、測試參數(shù)設(shè)置(頻率、行數(shù)、行間距、行點數(shù)、點間距)等參數(shù)來設(shè)計測量。為了校正接收機由于長時間測量所造成的幅度相位漂移設(shè)計了Tie掃描功能。同時還具有速度設(shè)定、顯示參數(shù)設(shè)定和實時顯示等功能。

　　* 遠(yuǎn)場測量

　　用于口徑較小天線的暗室遠(yuǎn)場測量。用戶通過設(shè)置頻率、方位角、角增量等參數(shù)來設(shè)計測量。同時可通過顯示參數(shù)的設(shè)定，選擇對數(shù)直角坐標(biāo)或?qū)?shù)極坐標(biāo)格式實時顯示測量的幅度數(shù)據(jù)。改變參考電平和刻度能夠改變曲線的顯示效果。曲線的位置是根據(jù)參考電平大小改變的，而刻度決定了幅度的顯示范圍。用戶可根據(jù)實測幅度值調(diào)整參考電平和刻度來獲得最佳顯示效果。圖形編輯功能對所測遠(yuǎn)場數(shù)據(jù)曲線，給出標(biāo)題注釋，并通過移動光標(biāo)加注標(biāo)記。程序能自動計算波束的半功率角和第一副瓣的位置。

　　5.儀器控制

　　該部分將儀器通過遠(yuǎn)程控制實現(xiàn)了儀器的虛擬。程序模擬VNA37147的面板功能，用戶可完成儀器的仿真操作。對于熟悉儀器操作和控制指令的用戶則可通過控制示例直接對儀器進行控制。該功能為開發(fā)人員提供了一簡潔的調(diào)試環(huán)境。

五、 系統(tǒng)性能指標(biāo)

　　西安電子科技大學(xué)為信息產(chǎn)業(yè)部長嶺機器廠研制的近遠(yuǎn)場綜合測試系統(tǒng)。系統(tǒng)調(diào)試中采用Hp5525A雙頻激光測量儀對各軸定位精度、重復(fù)定位精度和直線度進行檢測，然后采用軸向定點誤差補償、絲杠螺距誤差補償、間隙補償?shù)确椒?，提高了系統(tǒng)精度。

　　驅(qū)動軸全程累積誤差

　　(mm)重復(fù)定位精度

　　(mm)直線度

　　(mm)最大運動速度

　　(mm/s)X(4.5m)設(shè)計0.10.030.0480實測0.0570.0140.04100Y(3.6m)設(shè)計0.10.030.05100實測0.050.0090.03100Z(0.3m)設(shè)計0.10.030.0230實測0.0780.0290.0250

　　對平面近場掃描而言，Z向的機械誤差等同于待測天線的相位誤差，其影響大小取決于待測天線和誤差校正方法。研究表明對于窄波束天線，X和Y向誤差只影響副瓣區(qū)域且其影響僅為Z向的1/10[2]。實測表明系統(tǒng)具有很好的重復(fù)性。

　　六、 結(jié)論

　　一種新型、快速、高精度的近遠(yuǎn)場綜合測試系統(tǒng)已在信息產(chǎn)業(yè)部長嶺機器廠建成，該系統(tǒng)完全達(dá)到了設(shè)計指標(biāo)。其機械精度優(yōu)于設(shè)計要求，表明基于PMAC可編程控制卡的系統(tǒng)控制方案的可行性和優(yōu)越性。系統(tǒng)具有良好的推廣價值。