基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)

Design of the Test System for Multi-ICs Based on VI Technology

XIE Guohong, WANG Lei, WU Jiduo

(Sino　German College, Tongji University, Shanghai 200092, China)

　　Key words: IC testing; virtual instrument; GPIB bus; test database

　　混合集成電路性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)主要為檢測(cè)集成電路芯片是否符合出廠(chǎng)參數(shù)而設(shè)計(jì)。本測(cè)試系統(tǒng)可完成八種不同集成電路多項(xiàng)性能參數(shù)測(cè)試，包括：工作電流、工作電壓、載波抑制比、跨導(dǎo)、工作頻率、噪聲系數(shù)、傳輸系數(shù)、帶寬、增益、隔離度等。同時(shí)對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分類(lèi)及打印，并根據(jù)出廠(chǎng)參數(shù)對(duì)集成電路是否合格進(jìn)行自動(dòng)判別。
　　測(cè)試儀器采用一臺(tái)示波器就可以滿(mǎn)足所有波形顯示要求，一臺(tái)網(wǎng)絡(luò)頻譜阻抗分析儀可以滿(mǎn)足所有帶寬、頻譜測(cè)試要求。同時(shí)，信號(hào)源應(yīng)具有良好的可控性、高精度、低噪聲和優(yōu)良的調(diào)整性能。?

　　在本系統(tǒng)中，測(cè)試信號(hào)源的電壓電流值在30V/50mA以下，頻率在300MHz以下，直流電源采用Agilent的E3631A，另一信號(hào)源采用Tektronix的任意波形發(fā)生器AWG2021。測(cè)試儀器采用Agilent的HP4395A網(wǎng)絡(luò)頻譜阻抗分析儀、HP34401A數(shù)字萬(wàn)用表、N8973A噪聲系數(shù)分析儀［1］。這些儀器都具有GPIB通訊接口。同時(shí)，為了完成儀器的控制和不同集成電路的自動(dòng)識(shí)別，分別采用GPIB總線(xiàn)技術(shù)和RS232總線(xiàn)技術(shù)。GPIB實(shí)現(xiàn)儀器控制、測(cè)試控制和測(cè)試數(shù)據(jù)的傳輸，RS232實(shí)現(xiàn)對(duì)集成電路的選擇。
　　硬件系統(tǒng)由工控計(jì)算機(jī)、信號(hào)源、測(cè)試設(shè)備、測(cè)試工作臺(tái)、集成電路適配器插座、連接電纜和控制總線(xiàn)組成，并設(shè)計(jì)統(tǒng)一的插座接口，基本硬件結(jié)構(gòu)如圖1所示。

　　(1)全部?jī)x器通過(guò)GPIB總線(xiàn)接入到工控機(jī)，由工控機(jī)完成系統(tǒng)控制(儀器的初始化和參數(shù)設(shè)置等)和集成電路性能參數(shù)的測(cè)量；
　　(2)工控機(jī)的一路RS-232通信接口連接到測(cè)試臺(tái)，用于測(cè)試臺(tái)內(nèi)部的測(cè)試電路的切換；同時(shí)RS-232通信接口經(jīng)過(guò)測(cè)試臺(tái)連接到適配器插座上，用于控制適配器內(nèi)部電路的切換。
　　(3)適配器插座：每個(gè)被測(cè)集成電路都配備有一個(gè)專(zhuān)門(mén)的測(cè)試適配器，適配器上配備有測(cè)試插座。適配器內(nèi)含有測(cè)試所需的外圍電路和必要的測(cè)量切換電路，每個(gè)適配器都具有一個(gè)固定的ID號(hào)，即具有一個(gè)識(shí)別號(hào)，以便于RS-232總線(xiàn)控制和切換。?

2.1軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)
　　LabWindows/CVI是National Instrument公司推出的交互式C語(yǔ)言開(kāi)發(fā)平臺(tái)，是一種32位開(kāi)放性開(kāi)發(fā)系統(tǒng)，它可以直接兼容多種形式的C/C++代碼，提供系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的函數(shù)代碼框架，具有動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)交換、對(duì)I/O的操作以及對(duì)C／C++代碼直接調(diào)用等功能［2］。
2.2軟件模塊及功能實(shí)現(xiàn)
　　在應(yīng)用LabWindows/CVI進(jìn)行應(yīng)用程序的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，通常在開(kāi)發(fā)環(huán)境中設(shè)計(jì)一個(gè)用戶(hù)接口，實(shí)際就是在用戶(hù)計(jì)算機(jī)屏幕上定義一個(gè)函數(shù)面板(軟面板)。它由程序開(kāi)發(fā)者所定義的控件(如旋鈕、菜單項(xiàng)、刻度盤(pán)、開(kāi)關(guān)等)所組成，用戶(hù)選擇這些控件時(shí)就可以產(chǎn)生一系列用戶(hù)接口的消息，我們把這些消息稱(chēng)為事件。例如，當(dāng)用戶(hù)單擊一個(gè)面板控件時(shí)即獲得發(fā)生事件的面板句柄和控件ID號(hào)，并傳遞給相應(yīng)的C++應(yīng)用子程序，從而實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的用戶(hù)功能［3］。這其中主要應(yīng)用了Windows編程中的事件驅(qū)動(dòng)機(jī)制。LabWindows／CVI中對(duì)事件的處理方法也有兩種，即回調(diào)函數(shù)法和事件循環(huán)處理。我們?cè)谠摐y(cè)控程序中主要采用回調(diào)函數(shù)法?；卣{(diào)函數(shù)法是開(kāi)發(fā)者為“軟面板”上的控制項(xiàng)編寫(xiě)的一個(gè)獨(dú)立函數(shù)，當(dāng)選中某一個(gè)控制項(xiàng)時(shí)，就調(diào)用相應(yīng)函數(shù)對(duì)此事件進(jìn)行處理。本測(cè)試軟件功能的實(shí)現(xiàn)主要通過(guò)主程序控制模塊調(diào)用相應(yīng)的子程序?qū)崿F(xiàn)，子程序主要包括信號(hào)源控制、測(cè)試數(shù)據(jù)采集及處理和結(jié)果分析等。具體的軟件結(jié)構(gòu)如圖2所示。

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　　(1)GPIB總線(xiàn)控制模塊
　　LabWindows/CVI中的GPIB函數(shù)庫(kù)可以實(shí)現(xiàn)打開(kāi)和關(guān)閉GPIB設(shè)備、總線(xiàn)配置、I/O讀寫(xiě)、GPIB設(shè)備控制、總線(xiàn)控制等功能。GPIB函數(shù)庫(kù)既包含了上層函數(shù)又擁有底層函數(shù)。上層函數(shù)不需要訪(fǎng)問(wèn)相應(yīng)的底層協(xié)議就可以實(shí)現(xiàn)總線(xiàn)控制，但其功能有限；而底層函數(shù)可以更為靈活的控制總線(xiàn)，但是需要了解相應(yīng)的底層協(xié)議。在本系統(tǒng)中，所采用的測(cè)控儀器都具有GPIB通訊接口，通過(guò)三個(gè)主要的函數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)儀器間的通訊和控制：
　　
　　(2)測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和處理模塊
　　測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和處理通過(guò)LabWindows/CVI SQL Toolkit來(lái)實(shí)現(xiàn)。LabWindows/CVI SQL Toolkit是一個(gè)用來(lái)訪(fǎng)問(wèn)數(shù)據(jù)庫(kù)的軟件包，集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)以二維表的形式存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)管理系統(tǒng)中，然后進(jìn)行數(shù)據(jù)的分析和處理，與集成電路的出廠(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較并自行判斷被測(cè)集成電路是否合格。
　　同時(shí)集成電路的出廠(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)保存在記事本文件中，以便從軟件界面中很方便的打開(kāi)供測(cè)試人員進(jìn)行初步的判斷：
　　

　　綜上所述，所開(kāi)發(fā)的混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)集成電路性能參數(shù)的測(cè)試和判別，而且具有很好的可維護(hù)性、可理解性和可靠性。軟件設(shè)計(jì)中采用了數(shù)據(jù)庫(kù)和格式文本來(lái)描述被測(cè)設(shè)備的數(shù)學(xué)模型，從而實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)設(shè)備與被測(cè)設(shè)備的分離，極大的提高了系統(tǒng)的通用性。