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一種新穎的DC-50GHz低插入相移MMIC可變衰減器

作者: 時間:2007-01-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1 引言

  GaAsMMIC控制電路由于體積小、重量輕、開關(guān)速度快、抗輻射、可靠性高、幾乎無功耗等顯著優(yōu)點在許多電子系統(tǒng)中獲得廣泛應(yīng)用。眾所周知,在現(xiàn)代先進的移動通信等系統(tǒng)(如空間分集智能天線和相控陣系統(tǒng))中,均需進行的調(diào)整,一般系統(tǒng)均要求調(diào)整時,變化越小越好。而調(diào)整時,變化越小越好。文中所提DC-50GHz超寬帶的GaAsMMIC壓控電調(diào)衰減器除了具有大動態(tài)衰減范圍、優(yōu)良的衰減隨控制電壓變化的線性度、優(yōu)異的輸入/輸出駐波及多功能等特點外,低的插入相移是這種芯片的最顯著的特點。因此,這種電路可以用作:a)低插入相移條件下,作為DC50GHzMMIC可變衰減器,組成自動損耗控制組件;b)在多倍頻程的調(diào)制器中,在引入低插入相移時完成幅度調(diào)制和幅度調(diào)整功能;c)DC-50GHz的高性能吸收式(或稱匹配型)單刀單擲開關(guān);d)多倍頻程的脈沖幅度調(diào)制器;e)與寬帶放大器級聯(lián)組成寬頻帶、大動態(tài)、衰減量隨控制電壓高線性變化的AGC(自動增益控制)放大器。

2 設(shè)計

  這種單片壓控可變衰減器的設(shè)計和實現(xiàn),總體考慮如下:
  ——根據(jù)電性能指標要求,選擇合適的電路拓撲結(jié)構(gòu)和設(shè)計合理的開關(guān)MESMET;
  ——獲得DC-50GHz頻率范圍下開關(guān)MESFET的等效電路模型參數(shù)比例縮放方程;
  ——采用串聯(lián)和并聯(lián)開關(guān)MESFET兩個控制端等負載設(shè)計方法,簡化電路和降低功耗。

圖1電原理圖

圖2芯片照片

  由于這種電路工作時,控制電壓是一組互補電壓,分別控制串聯(lián)和并聯(lián)的開關(guān)MESFET。電調(diào)過程中兩控制端的負載必須相同,否則壓控電調(diào)時,駐波特性明顯惡化。通常設(shè)計直流參數(shù)電路來平衡兩控制端的負載使其相同,達到電調(diào)控制中改善駐波特性的目的。本文采用了設(shè)計時選定兩控制負載相同的方法,達到改善電調(diào)控制端中駐波特性的目的。過程如下:

  ——采用成熟的微波單片電路設(shè)計軟件(如AgilentEesof軟件)進行電路的仿真和優(yōu)化;
  ——根據(jù)優(yōu)化的結(jié)果進行版圖設(shè)計;
  ——根據(jù)設(shè)計的版圖進行二次仿真和優(yōu)化,并修改和確定版圖;
  ——選擇和設(shè)計合理的工藝途徑;
  ——工藝流片,微波在片測試。

  電路原理如圖1所示,采用匹配型SPST的寬帶開關(guān)電路拓撲,開關(guān)臂兩端分別串聯(lián)吸收電阻器和開關(guān)MESFET并聯(lián)的支路以及多只與主傳輸并聯(lián)的開關(guān)MESFET組成,電路中采用了低色散、寬頻帶的共面波導傳輸線以展寬頻率帶寬。設(shè)計低插入相移功能的基本原理主要是利用相位相互抵消原理。即其電路物理概念為:串聯(lián)支路感抗引入的相位滯后和并聯(lián)支路容抗引入的相位超前相互抵消。電路設(shè)計時考慮的主要電性能指標為:
  ——DC50GHz的頻率范圍;
  ——設(shè)法獲得最小衰減量及頻帶內(nèi)衰減量起伏;
  ——最小衰減量時的低輸入/輸出駐波;
  ——最大衰減量及頻帶內(nèi)衰減的平坦度;
  ——最大衰減量時的低輸入/輸出駐波;
  ——低相移衰減,盡可能小的衰減相移比。

  電路設(shè)計采用AgilentEesof軟件,為獲得最佳電性能,不同的MESFET應(yīng)選取不同的最佳柵寬,因此設(shè)計中采用了模型參數(shù)比例縮放技術(shù)。電路模型參數(shù)提取采用HPIC-CAP軟件及相應(yīng)的模型參數(shù)提取系統(tǒng)。由于設(shè)計頻率高達50GHz,因而還采用了電路模型參數(shù)頻率擴展和擬合技術(shù)以獲得DC-50GHz開關(guān)MESFET電路模型的設(shè)計參數(shù)。

3 制作

  芯片采用南京電子器件研究所離子注入圓片工藝線制作,采用離子注入工藝具有較高的成品率和長期工作穩(wěn)定性。工藝包括Au/Ge/Ni歐姆接觸金屬化:0.5μm柵長Ti/Pt/Au肖特基勢壘柵;N+、N-注入;離子注入電阻;金屬膜電阻;SiO2鈍化膜;微帶線;空氣橋;通孔接地;背面金屬化及電鍍等。工藝成品率高達80%以上,芯片間和圓片間的電性能具較好的一致性。芯片尺寸為2.33mm×0.68mm×0.1mm。芯片照片如圖2所示。信號輸入/輸出端均為共面波導接口,采用通孔接地和多重芯片鈍化技術(shù),可靠性高??刂贫司啃酒粋?cè),便于安裝使用。

4 性能

  電性能測試采用HP8510C網(wǎng)絡(luò)分析儀和CascadeMicrotech微波探針臺組成的微波在片測試系統(tǒng)。測試的各種電性能參數(shù)如最小衰減;最小衰減時的輸入/輸出駐波;最大衰減;最大衰減時的輸入/輸出駐波;最小衰減與最大衰減的相移差。當V1為0V,V2為負極性的FET夾斷電壓VP時,對應(yīng)最小衰減態(tài)。當V1為VP,V2為0V時,對應(yīng)最大衰減態(tài)。當V1從0V逐漸減小到VP,V2從VP同步逐漸增加到0V時,衰減量從最小變化到最大,反之亦然。芯片通過了高、低溫儲存,高、低溫沖擊,高、低溫工作,鍵合,剪切和工作環(huán)境溫度為125℃的1000小時工作壽命等實驗。

5 結(jié)論

  開發(fā)成功的低相移、多功能DC50GHz高性能MMIC壓控可變衰減器,具有良好的電性能、較高的工藝成品率和高可靠性,達到了設(shè)計要求,具有一定的實用性。



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