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基于ARM的過(guò)采樣技術(shù)

作者: 時(shí)間:2012-12-29 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
  隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,人們對(duì)宏觀和微觀世界逐步了解,越來(lái)越多領(lǐng)域(物理學(xué)、化學(xué)、天文學(xué)、軍事雷達(dá)、地震學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等)的微弱信號(hào)需要被檢測(cè),例如:弱磁、弱光、微震動(dòng)、小位移、心電、腦電等[1~3].測(cè)控技術(shù)發(fā)展到現(xiàn)在,微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)相對(duì)成熟,基本上采用以下兩種方法來(lái)實(shí)現(xiàn):一種是先將信號(hào)放大濾波,再用低或中分辨率的ADC進(jìn)行采樣,轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)后,再做信號(hào)處理,另一種是使用高分辨率ADC,對(duì)微弱信號(hào)直接采樣,再進(jìn)行數(shù)字信號(hào)處理。兩種方法各有千秋,也都有自己的缺點(diǎn)。前一種方法,ADC要求不高,特別是現(xiàn)在大部分微處理器都集成有低或中分辨率的ADC,大大節(jié)省了開(kāi)支,但是增加了繁瑣的模擬電路。后一種方法省去了模擬電路,但是對(duì)ADC性能要求高,雖然∑-△ADC發(fā)展很快,已經(jīng)可以做到24位分辨率,價(jià)格也相對(duì)低廉,但是它是用速度和芯片面積換取的高精度[4],導(dǎo)致采樣率做不高,特別是用于多通道采樣時(shí),由于建立時(shí)間長(zhǎng),采樣率還會(huì)顯著降低,因此,它一般用于低頻信號(hào)的單通道測(cè)量,滿(mǎn)足大多數(shù)的應(yīng)用場(chǎng)合。而本文提出的方案,可以繞過(guò)上述兩種方法的缺點(diǎn),利用兩者的優(yōu)點(diǎn)實(shí)現(xiàn)微弱信號(hào)的高精度測(cè)量。

  是提高測(cè)控系統(tǒng)分辨率的常用方法,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。例如,過(guò)采樣成功抑制了多用戶(hù)CDMA系統(tǒng)中相互正交用戶(hù)碼接收機(jī)(A Mutually Orthogonal Usercode-Receiver,AMOUR)的噪聲[5~6],提高了光流估計(jì)(optical flow estimation,OFE)的精度[7],改善了正交頻分復(fù)用(OFDM)信號(hào)的峰-均比[8]等。但是,這些應(yīng)用的前提是采樣前的信號(hào)幅值能與ADC的輸入范圍相當(dāng)。而用ADC采集微弱信號(hào)時(shí),直接使用提高不了精度,而且由于信號(hào)幅值遠(yuǎn)小于ADC的輸入范圍,它的有效位數(shù)還會(huì)減小,使精度隨之下降。本文采用先疊加成形函數(shù)的方法,然后利用過(guò)采樣技術(shù),解決了因?yàn)樾盘?hào)幅值小,而使過(guò)采樣失效的問(wèn)題。本文還詳細(xì)分析了成形函數(shù)類(lèi)型和幅值,以及過(guò)采樣率對(duì)分辨率的影響。

  1 過(guò)采樣技術(shù)分析

  1.1 過(guò)采樣原理

  過(guò)采樣是對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行多次采樣,獲取樣本數(shù)據(jù),累計(jì)求和這些樣本數(shù)據(jù),并對(duì)它們均值濾波,減小噪聲后最終獲得采樣結(jié)果。過(guò)采樣在一定條件下能夠提高信噪比(SNR),同時(shí)使噪聲減弱,從而提升測(cè)量分辨率。過(guò)采樣技術(shù)將提高到被的4倍,能過(guò)濾掉高于3fb的分量,用數(shù)字濾波器過(guò)濾fb~3fb的分量,最終有用分量被完全保存下來(lái)。若采取足夠多次采樣,則能重現(xiàn)原始信號(hào)。式(1)是過(guò)采樣的頻率要求

基于ARM的過(guò)采樣技術(shù)


  式(1)中,F(xiàn)o為過(guò);n為希望增加的分辨率位數(shù);fb為初始采樣頻率要求。

  1.2 過(guò)采樣與噪聲、分辨率的關(guān)系

  在提出過(guò)采樣與噪聲的對(duì)應(yīng)關(guān)系之前,對(duì)量化噪聲作一簡(jiǎn)單描述。量化誤差是由相鄰ADC碼的間距所決定,因此相鄰ADC碼之間的距離為

基于ARM的過(guò)采樣技術(shù)

  式(2)中,N為ADC碼的位數(shù);Vr為基準(zhǔn)電壓。式(3)為量化誤差ed的關(guān)系式。

  奈奎斯特定理指出,如果被測(cè)信號(hào)的頻帶寬度小于采樣頻率的1/2,那么可以重建此信號(hào)?,F(xiàn)用白噪聲近似描繪實(shí)際信號(hào)中的噪聲,在信號(hào)頻帶中的噪聲能量譜密度為

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  式(4)中,e(f)為帶內(nèi)能量譜密度;ea為平均噪聲功率;fs為采樣頻率。

基于ARM的過(guò)采樣技術(shù)

  ADC量化噪聲的功率關(guān)系如式(5)所示。由于量化噪聲會(huì)引發(fā)固定噪聲功率,因此針對(duì)增加的有效位數(shù)能夠計(jì)算過(guò)采樣比

基于ARM的過(guò)采樣技術(shù)

  式(6)中P為過(guò)采樣比;fs為采樣頻率;fm為輸入信號(hào)最高頻率。低通濾波器輸出端的帶內(nèi)噪聲功率見(jiàn)式(7)。其中n2是濾波器輸出的噪聲功率

基于ARM的過(guò)采樣技術(shù)

  由此可見(jiàn),過(guò)采樣能減少噪聲功率卻又對(duì)信號(hào)功率不產(chǎn)生影響,在減小量化誤差的同時(shí),能夠獲得與高分辨率ADC相同的信噪比,從而增加被測(cè)數(shù)據(jù)的有效位數(shù)。通過(guò)提高采樣頻率或過(guò)采樣比可提高ADC有效分辨率。


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