基于MSP430單片機(jī)在測試系統(tǒng)中的應(yīng)用

狀態(tài)設(shè)計是根據(jù)被測對象的運(yùn)動規(guī)律確定存儲測試系統(tǒng)狀態(tài)組織結(jié)構(gòu)的過程。它是實(shí)現(xiàn)功能設(shè)計的關(guān)鍵，是硬件設(shè)計的依據(jù)，也是建立基型存儲測試系統(tǒng)的有效手段。狀態(tài)設(shè)計可以使設(shè)計思想清晰地貫穿于設(shè)計和調(diào)試的始終，可以不同程度的簡化原本復(fù)雜的設(shè)計過程。
系統(tǒng)的狀態(tài)轉(zhuǎn)換：系統(tǒng)接通電源后，單片機(jī)處于知更狀態(tài)，等待采樣開始信號，此時系統(tǒng)處于超低功耗狀態(tài)，消耗的電流僅約1μA。觸發(fā)信號到來后，系統(tǒng)開始循環(huán)采樣，采樣完畢，存儲器計滿數(shù)據(jù)后，就停止采樣進(jìn)入低功耗的等待讀數(shù)狀態(tài)。在等待讀數(shù)狀態(tài)時，接讀數(shù)端口，當(dāng)單片機(jī)的I/O端口接收到計算機(jī)發(fā)送的上升沿后，就開始向計算機(jī)發(fā)送數(shù)據(jù)，即先從存儲器中將數(shù)據(jù)讀人單片機(jī)，然后再由單片機(jī)的串口發(fā)送給計算機(jī)，發(fā)送完畢后再次進(jìn)入低功耗狀態(tài)。圖3是系統(tǒng)狀態(tài)圖。

5 測試結(jié)果
系統(tǒng)測試實(shí)驗(yàn)由信號發(fā)生器給出頻率為1 Hz的正弦波，數(shù)據(jù)采集完畢后讀數(shù)情況如圖4所示。系統(tǒng)完全實(shí)現(xiàn)觸發(fā)和采樣過程。圖4是通過實(shí)驗(yàn)得到的單通道測試波形圖，得到的輸出與所給的輸入信號完全一致，充分說明此方案是可行的。

6 結(jié)束語
采用MSP430系列單片機(jī)設(shè)計測試系統(tǒng)，利用MSP430系列單片機(jī)內(nèi)部提供的12 bit的A／D轉(zhuǎn)換器進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，這種方式大大簡化電路設(shè)計，并能使測量結(jié)果達(dá)到較高精度；而且由于MSP430系列單片機(jī)超低功耗的設(shè)計，使測試系統(tǒng)具有體積小，低功耗，抗干擾能力強(qiáng)，無引線等特點(diǎn)。