新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 利用單片機(jī)設(shè)計(jì)極簡(jiǎn)單的測(cè)溫電路

利用單片機(jī)設(shè)計(jì)極簡(jiǎn)單的測(cè)溫電路

作者: 時(shí)間:2011-11-29 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

單片機(jī)在電子產(chǎn)品中的應(yīng)用已經(jīng)越來越廣泛,在很多的電子產(chǎn)品中也用到了溫度檢測(cè)和溫度控制,但那些溫度檢測(cè)與控制電路通常較復(fù)雜,成本也高,本文提供了一種低成本的利用單片機(jī)多余I/O口實(shí)現(xiàn)的溫度檢測(cè)電路,該電路非常簡(jiǎn)單,且易于實(shí)現(xiàn),并且適用于幾乎所有類型的單片機(jī)。其電路如下圖所示:


  圖中:
  P1.0、P1.1和P1.2是單片機(jī)的3個(gè)I/O腳;
  RK為100k的精密電阻;
  RT為100K-精度為1%的熱敏電阻;
  R1為100Ω的普通電阻;
  C1為0.1μ的瓷介電容。
  其工作原理為:
  1.先將P1.0、P1.1、P1.2都設(shè)為低電平輸出,使C1放電至放完。
  2.將P1.1、P1.2設(shè)置為輸入狀態(tài),P1.0設(shè)為高電平輸出,通過RK電阻對(duì)C1充電,單片機(jī)內(nèi)部計(jì)時(shí)器清零并開始計(jì)時(shí),檢測(cè)P1.2口狀態(tài),當(dāng)P1.2口檢測(cè)為高電平時(shí),即C1上的電壓達(dá)到單片機(jī)高電平輸入的門嵌電壓時(shí),單片機(jī)計(jì)時(shí)器記錄下從開始充電到P1.2口轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)間T1。
  3.將P1.0、P1.1、P1.2都設(shè)為低電平輸出,使C1放電至放完。
  再將P1.0、P1.2設(shè)置為輸入狀態(tài),P1.1設(shè)為高電平輸出,通過RT電阻對(duì)C1充電,單片機(jī)內(nèi)部計(jì)時(shí)器清零并開始計(jì)時(shí),檢測(cè)P1.2口狀態(tài),當(dāng)P1.2口檢測(cè)為高電平時(shí),單片機(jī)計(jì)時(shí)器記錄下從開始充電到P1.2口轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)間T2。 從電容的電壓公式:可以得到:T1/RK=T2/RT,即 RT=T2×RK/T1 。通過單片機(jī)計(jì)算得到熱敏電阻RT的阻值。并通過查表法可以得到溫度值。

  從上面所述可以看出,該的誤差來源于這幾個(gè)方面:?jiǎn)纹瑱C(jī)的定時(shí)器精度,RK電阻的精度,熱敏電阻RT的精度,而與單片機(jī)的輸出電壓值、門嵌電壓值、電容精度無關(guān)。因此,適當(dāng)選取熱敏電阻和精密電阻的精度,單片機(jī)的工作頻率夠高,就可以得到較好的測(cè)溫精度。


上一頁 1 2 下一頁

關(guān)鍵詞: 測(cè)溫電路

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉