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單片機干擾分析MCU的改進

作者: 時間:2011-08-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  本文討論了干擾對錯誤的形成機制,提出了對MCU改進的建議。這個建議如果實施,不僅有利于高技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用,也會惠及一般的民用領(lǐng)域。

  1 干擾源的討論

  很久以前,還在“8031+2764+14433”的年代,我們做了一批過程監(jiān)控儀表,用于滅菌過程F0的監(jiān)控,遇到了強烈的干擾問題。滅菌過程約30 min,由電觸點壓力表控制進氣電磁閥,間接控制溫度。F0是一個溫度函數(shù)的積分值,可以反映滅菌的效果,它綜合考慮了溫度波動的影響。當(dāng)時采取了一些抗干擾措施,例如,硬件上對信號線屏蔽,信號濾波;軟件上的智能濾波,程序復(fù)執(zhí),程序分段保護,數(shù)據(jù)后備,端口等重復(fù)初始化,ROM的定時校驗和檢驗,多種出錯報警,出錯時重新熱啟動(可使問題有所緩和,但偶然會有判為ROM校驗和錯而停機的情況出現(xiàn))。由于當(dāng)時F0只是用作參考,問題尚不嚴重,如要掩蓋,也可以用熱啟動代替停機;但很快F0要作為產(chǎn)品工藝參數(shù),用記錄紙備案,于是就重新設(shè)計了監(jiān)控儀。新的監(jiān)控儀用89C51+14433,再加上光耦和TI5617 D/A轉(zhuǎn)換器,將溫度和F0變?yōu)槟M量后送到雙筆記錄儀,實現(xiàn)產(chǎn)品工藝過程的記錄與存檔。硬件上,光耦隔離后部分是D/A和模擬電路,軟件在原有基礎(chǔ)上添加與TI5617有關(guān)的串行通信部分。TI5617的串行通信類似I2C,由CS、DIN和SCLK三條線構(gòu)成,SCLK數(shù)據(jù)位時鐘可達到25 ns,速度很高。用于計算的周期是6 s,儀表用定點算法配以查表,所以留出了充足的時間做許多抗干擾的工作。在D/A用的串行通信中甚至考慮了多次重復(fù)發(fā)送的子程序,希望減少通信錯誤的影響;但結(jié)果卻很壞,記錄紙上是一片墨帶。由于不知道通信對錯,很可能最后一次傳送就是錯的,于是不得不重新處理抗干擾問題。

  經(jīng)查干擾主要發(fā)生在電磁閥動作的時候,由于不可能在現(xiàn)場為每一個簡單的小表制作一個良好的地線,一般的市售電源濾波器件根本不起作用。現(xiàn)場用的是220 V交流電磁閥,無法設(shè)計緩沖線路。分析認為,電磁閥斷開時會在電源上產(chǎn)生很大的反向電壓。交流電源的示波器受到干擾,在無法看清干擾的情況下,就用數(shù)字萬用表觀察,可以觀察到1 300 V以上的讀數(shù)??紤]到數(shù)字萬用表輸入的濾波效果,真正的峰值還要大,因此推想,高頻的干擾穿越了變壓器繞組間電容,造成變壓器次級交流電壓瞬間反向。盡管反向波幅的衰減很大,但因方向已改變,整流二極管來不及響應(yīng),已不供電,而濾波的電解電容器動態(tài)上來不及反應(yīng),也不供電,造成穩(wěn)壓前直流電源瞬間下降。同時它通過整流二極管,78L15、78L05等低頻器件到達二組隔離的電源,造成直流電源跌落。循此思路,發(fā)現(xiàn)TI5617的SCLK可能出現(xiàn)不正確的時鐘信號,造成數(shù)據(jù)傳送的錯誤。TI5617的讀數(shù)發(fā)生在SCLK的下降沿,說明書上強調(diào),在非傳送時減少饋通應(yīng)使SCLK=LOW,為節(jié)省電流消耗,SCLK是從光耦的基極輸出的。因此若光耦次級電源跌落,確實會造成SCLK下降而誤讀。然后我們在基極電阻(20 kΩ)上并聯(lián)0.1 μF電容,在光耦次級電源上串接高頻二極管,以防0.1 μF電容器通過光耦反向放電。采取此措施后,記錄曲線不再有墨帶。對本應(yīng)用而言,干擾問題初步解決,但仍不徹底。干擾得到解決本身證實了分析是正確的——來自電源的干擾有可能進到直流電源部分。

  國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 7637是針對汽車電子領(lǐng)域電源的傳導(dǎo)干擾問題的。它規(guī)定有#1、#2a/b、#3a/b、#4、#5a/b等多種測試波形,反映實際應(yīng)用中會遇到的情形。其中,關(guān)斷感性負載(例如雨刮器的馬達)引起的電壓升高,在12 V系統(tǒng)中可達50 V,雖有瞬間超過元器件耐壓而引起損傷的可能性,但不會直接引起誤動作。而在波形#1中,關(guān)斷感性負載(例如電動座椅的馬達和座椅的加熱系統(tǒng))產(chǎn)生的脈沖,在電源為12 V的系統(tǒng)中1 μs可達到-100 V,衰減到10%的時間為2 ms。在波形#3a中,電源為12 V的系統(tǒng)里5 ns可達到-138 V,回到0 V的時間大約為100 ns。這些是典型數(shù)據(jù),實際上電源線不是匹配的傳輸線,干擾波還要來回反射,情況更為復(fù)雜。在這些場合,也可能發(fā)生直流電源的跌落干擾。

  空間的幅射干擾也是經(jīng)常遇到的問題,例如在太空或反應(yīng)堆附近,電子器件會受到重離子的轟擊而產(chǎn)生故障;又如在空港區(qū)或大電流、高電壓區(qū)域,電子器件也會受到強電磁輻射而發(fā)生故障。在這些場合,干擾也會引起MCU的基本門電路工作失誤。

  

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