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一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

作者: 時間:2011-07-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  具有稱量快速、操作簡單、自動校準(zhǔn)、故障自診斷等多種儀表所無法具備的功能與優(yōu)越性。由于計量精密 ,靈敏度高 ,溫漂與成為影響了儀表的精度和工作穩(wěn)定性的主要因素。

  1 系統(tǒng)組成概述

  用于檢測潤滑制劑運動粘度的水浴溫度測控儀,以MCS-51系列的AT89C51為核心,構(gòu)成1個單片機測控系統(tǒng),完成溫度檢測、溫度顯示、數(shù)據(jù)處理及輸出控制。溫控儀可巡回檢測三路溫度信號,分別對應(yīng)3個檢測點。由鉑電阻溫度傳感器產(chǎn)生的溫度信號經(jīng)過調(diào)理電路轉(zhuǎn)換成電壓信號,經(jīng)過放大、A/D轉(zhuǎn)換,傳送至主機AT89C51進行處理,然后由帶有高速串行接口的8位LED控制驅(qū)動器PS7219實現(xiàn)溫度顯示。同時,主機將檢測到的溫度信號與設(shè)定溫度值進行比較,輸出控制信號,控制繼電器的閉合。本系統(tǒng)中89C51的P0口作為與A/D轉(zhuǎn)換芯片的數(shù)據(jù)接口,采用查詢法讀取A/D轉(zhuǎn)換的結(jié)果,而P1口、P2口、P3口除用作特殊功能均可作為可編程的輸入輸出線,無地址總線。這主要是因為AT89C51內(nèi)部帶有4 KB的程序存儲器,源程序均在芯片內(nèi)部,無需外部擴展程序存儲器[1-2],系統(tǒng)設(shè)計框圖如圖1所示。

一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

  2 動態(tài)實時跟蹤解決系統(tǒng)和溫漂的方法

  溫漂這種現(xiàn)象在CRT顯示器中非常普遍,通常稱為顯示器的溫漂效應(yīng)。由于顯示器啟動之后,顯像管及內(nèi)部電路需要有個預(yù)熱過程,反映到顯示畫面上,就會有輕微的水平或垂直方向的圖像位移。

  在硬件上,鉑電阻測溫電路和調(diào)理電路的好壞是關(guān)系到整個系統(tǒng)精度和穩(wěn)定性的最關(guān)鍵性因素。本文采用恒流源、多路模擬開關(guān)和測量放大器AD620實現(xiàn)的鉑電阻溫度傳感器的調(diào)理電路,在設(shè)計過程中嘗試了兩種方案,通過理論分析和實際測量結(jié)果的比較,最終選用了如下方案,其電路圖如圖2所示。

一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

  此方案采用1片8通道多路模擬開關(guān)CD4051、2片雙路4通道多路模擬開關(guān)CD4052和2片測量放大器AD620,R=100 Ω(調(diào)零電阻)。R2~R7=10 Ω,用以消除地端干擾。多路模擬開關(guān)CD4051的通道選擇是通過A(P1.4)、B(P1.5)和C(P1.7)控制的。當(dāng)P1.4=0,P1.5=0,P1.7=0時,通道1選通,恒流源的電流I通過鉑電阻RA,同時鉑電阻兩端的電壓通過第2片CD4052以差模的形式取出并送入AD620,經(jīng)兩級放大后送到A/D,避免了共模干擾,提高了系統(tǒng)的抗干擾能力[3].

  對于溫度測控系統(tǒng),傳感器的調(diào)理電路對整個系統(tǒng)的精度起著至關(guān)重要的作用。在該系統(tǒng)中,恒流源、基準(zhǔn)電壓源和放大器分別存在著不同的和溫漂,即便是在選用的器件比較好的情況下,這種漂移很小,但由于系統(tǒng)要長時間工作,這種日積月累的影響也不能夠忽略不計。因此在上述基礎(chǔ)上增加了2個精密標(biāo)準(zhǔn)電阻,通過它們來動態(tài)實時跟蹤恒流源的電流、基準(zhǔn)電壓源的電壓和放大器的放大倍數(shù)變化,去除了漂移對測量結(jié)果的影響[4],鉑電阻調(diào)理電路如圖2所示。

在硬件基礎(chǔ)上,此方案的實時跟蹤是通過軟件方法來實現(xiàn)的,具體方法是首先控制多路模擬開關(guān),依次選通標(biāo)準(zhǔn)電阻R1,R0,則A/D所對應(yīng)的電壓輸出分別為Vout1,Vout0.設(shè)恒流源的電流為I,2個放大器的放大倍數(shù)分別為K1和K2,放大器反相輸入端基準(zhǔn)電壓源的電壓為V-.則有:


一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

  3 系統(tǒng)工作穩(wěn)定性測試

  為了驗證此方案的可行性,在系統(tǒng)連續(xù)運行不關(guān)機的情況下,實際測得了1組數(shù)據(jù),為了防止鉑電阻阻值隨環(huán)境溫度變化對測試結(jié)果的影響,僅驗證調(diào)理電路的好壞,所以用1個150 Ω的可調(diào)電阻代替鉑電阻,在100~150 Ω范圍內(nèi)模擬鉑電阻,由對應(yīng)的1組阻值實測出1組相對應(yīng)的溫度值。在此僅以其中的1路溫度信號來說明,如表1所示。

一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

  由表1中的數(shù)據(jù)用最小二乘法求出鉑電阻阻值R與實測溫度值t之間的關(guān)系式。將測量數(shù)據(jù)列表進行處理,如表2所示。

一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

  設(shè)R=R0+A×t,應(yīng)用最小二乘法原理求取回歸參數(shù)R0,A,可得:


   一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

一種消除系統(tǒng)溫漂和時漂的設(shè)計和實現(xiàn)

  由以上分析可知,采用此方案提高了系統(tǒng)工作的穩(wěn)定性和抗干擾能力;同時還提高了元器件之間的互換性,即便是同種型號的元器件的參數(shù)值也并不是完全一致的。而采用這種動態(tài)實時跟蹤元器件參數(shù)值的方法,則有效地解除了元器件之間參數(shù)值不一致的問題.



關(guān)鍵詞: 系統(tǒng)溫漂 時漂

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