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探討減少LED壽命損耗的關(guān)鍵因素

作者: 時間:2013-09-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

在整個產(chǎn)業(yè)鏈中,從芯片一直到封裝、成品,均需要對產(chǎn)品的各項光電指標進行測試。而大部分廠商會發(fā)現(xiàn),經(jīng)過測試以后,產(chǎn)品的壽命會受到一定影響,甚至有的在測試過程中就已經(jīng)直接報廢。這是為什么?當使用微小電流進行LED測試時,電流越小,等待LED點亮的時間就越長,測試效率非常低下。這又是為什么?國內(nèi)大部分的廠商都認為這是LED產(chǎn)品本身的特性所決定的,非人力所能改變,其實不然。目前,在歐美、日本、臺灣等LED產(chǎn)業(yè)相對發(fā)達的地區(qū),各大LED廠商已經(jīng)開始選用LED測試專用電源供應(yīng)器來應(yīng)對這一問題。ITECH艾德克斯也專門推出了IT6200雙范圍可編程直流電源系列,搭配LED測試系統(tǒng)進行測試,可有效減少LED產(chǎn)品在測試過程中的壽命折損,同時提高測試效率,使產(chǎn)能得以最大化。

  LEDLightbar測試

  要使LED發(fā)光,就必須通電。因此在對LED產(chǎn)品的光電性能測試中,通常的做法是使用直流電源給LED產(chǎn)品供電,在LED被點亮的情況下完成各種參數(shù)的測試和記錄。以前,人們認為,直流電源只要能夠供電即可,所以為了節(jié)約設(shè)備成本而選用一般的電源供應(yīng)器進行測試。而一般的LED產(chǎn)品,所允許通過的電流一般在30mA以內(nèi),這是任何普通的電源供應(yīng)器都無法做到的,因為在啟動的瞬間,不可避免的會產(chǎn)生巨大的突波電流,大大超出LED所能承受的電流范圍。大多數(shù)時候,由于這個突波電流的時間很短暫,并不會立刻燒毀LED,但是一定會對其壽命造成不可修復(fù)的損害。這樣一來,對產(chǎn)品的質(zhì)量和口碑都是很不利的,會因此蒙受巨大的經(jīng)濟損失。

  艾德克斯IT6200系列直流電源的優(yōu)勢在于,當需要進行LED產(chǎn)品測試時,開啟該電源獨特的LEDmode,就可以有效的抑制啟動瞬間的突波電流,從而保護待測LED。如果使用艾德克斯IT6200系列直流電源進行測試,那么,LED產(chǎn)品的壽命就不會受到影響。

  現(xiàn)在來做一個實驗,使用IT6200系列直流電源測試負載為170V的LEDlightbar。將LEDlightbar連接到IT6200系列直流電源上,在菜單中選擇LEDmode;然后電流命令設(shè)定為Iset=10mA;啟動電源的on鍵,開始給lightbar供電。示波器顯示IT6200系列電源的電流變化如下圖所示:

探討減少LED壽命損耗的關(guān)鍵因素

  圖2:示波器顯示IT6200系列電源的電流變化

  從圖中可以看出,當選擇了LEDmode進行測試,IT6200直流電源系列在啟動時,電流非常平滑的上升到設(shè)定值,完全沒有突波電流產(chǎn)生,所以不會對LED產(chǎn)品的壽命造成任何影響。

  如果不使用LEDmode來進行同一測試,結(jié)果又會怎樣?不妨關(guān)閉IT6200系列電源的LEDmode,來做一個同樣的測試。此時,示波器記錄下的電流變化如下圖所示:

探討減少LED壽命損耗的關(guān)鍵因素

  圖3:示波器記錄下的電流變化

  不難看出,在電源啟動的瞬間,產(chǎn)生約3.5mA的突波電流。而且,當測試電流越大,產(chǎn)生的突波電流也會跟隨著設(shè)定電流的上升而上升。如下是IT6200系列電源在20mA的設(shè)定電流下給同樣的LEDlightbar進行測試所得到的電流曲線。

  從這個實驗中可以得出這樣的結(jié)論:艾德克斯IT6200系列直流電源可以將沒有突波的電流供應(yīng)給LED,進而保護LED,提高LED產(chǎn)品的壽命。

  LED背光源測試

  LED產(chǎn)品往往工作在高電壓低電流的環(huán)境中,尤其是對于LED背光源一類的產(chǎn)品,通常會使用極其微小的電流來進行測試。而普通的電源在微小的電流輸出時會很容易進入限流模式,導(dǎo)致電壓上升時間延遲。當電流越小、電壓越高,則對應(yīng)的上升時間就越長。艾德克斯IT6200系列直流電源,具有另一項獨特的測試模式——lowcurrentmode,可以解決這一問題。


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