國內(nèi)外led相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀,led行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

1. 國外LED相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀,LED標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀,LED國家標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀--LED行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

　　嚴(yán)格地講，不僅僅國內(nèi)沒有沒有專門命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn),國外目前也沒有專門命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn)，只有有關(guān)普通 LED的測試標(biāo)準(zhǔn)和與普通光源有關(guān)的照明方面的標(biāo)準(zhǔn)。普通LED的測試標(biāo)準(zhǔn)有：

（ 1）IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路

（ 2）IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)

IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

（ 3）IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)

IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路

零部件 5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

（ 4）IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)

IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發(fā)光二極管空白詳細標(biāo)準(zhǔn)（1998-02）

（ 5）CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)

CIE127-1997 LED測試方法（1997）

（ 6） CIE/ISO standards on LED intensity measurements

CIE/ISO LED強度測試標(biāo)準(zhǔn)

　　國際照明委員會（ CIE）1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測試方法 ， 把 LED 強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，這樣就為 LED 準(zhǔn)確測試比對奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127－1997 測試方法 并非國際標(biāo)準(zhǔn)，但它容易實施準(zhǔn)確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的 LED技術(shù)特性 CIE127-1997 LED測試方法 沒有涉及。

　　目前，隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達國家非常重視 LED測試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國國家標(biāo)準(zhǔn)檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準(zhǔn)備建立整套的LED測試方法和標(biāo)準(zhǔn)。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導(dǎo)體照明測試標(biāo)準(zhǔn)。如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán)，并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn)，以推動市場應(yīng)用。

2. 國內(nèi)LED相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀--LED國家標(biāo)準(zhǔn)

　　國內(nèi)目前沒有較全面的 LED及其照明器具國家和LED行業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn)，也沒有相應(yīng)的檢測系統(tǒng)。在生產(chǎn)中企業(yè)往往以樣管封存的參數(shù)為對比依據(jù)。不同性質(zhì)的相關(guān)生產(chǎn)廠家、用戶、研究所、高校經(jīng)常對此存在很大的爭議，這種在學(xué)術(shù)界內(nèi)部、企業(yè)界內(nèi)部及相互之間對標(biāo)準(zhǔn)認識的不一致嚴(yán)重阻礙了產(chǎn)品的應(yīng)用和產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。雖然有一些企業(yè)和研究機構(gòu)采購了部分檢測設(shè)備，由于缺少專業(yè)的研究，導(dǎo)致設(shè)備水平低、儀器配套性差、檢測精度低，而且檢測結(jié)果相互之間不好對比，測試項目不能滿足用戶需要。國內(nèi)專業(yè)檢測機構(gòu)曾經(jīng)開展過一些 LED的測試研究工作，但由于條件所限，尚不能形成完整的檢測評價系統(tǒng)，檢測水平與國外發(fā)達國家有較大差距。

　　從八十年代初起，我國相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關(guān)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)。 國內(nèi)現(xiàn)有與 LED測試有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)有：

（ 1） Sj2353.3-83半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法

（ 2） Sj2658－86 半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測試方法

（ 3）GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

（ 4）GB/T15651－1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標(biāo)準(zhǔn)）

（ 5）GB/T18904.3—2002半導(dǎo)體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范（采用IEC60747-12-3:1998）

（ 6） 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 5 － 2 部分：光電子器件基本額定值和特性（國家標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）

（ 7）半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 5 － 3 部分：光電子器件測試方法（國家標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）

（ 8） 半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法（中國光協(xié)光電器件分會標(biāo)準(zhǔn)； 2002