孔徑抖動和延遲

轉(zhuǎn)換啟動請求信號可以看作是采樣時(shí)鐘,因此它決定ADC采樣和保持電路實(shí)際捕獲輸入信號的時(shí)間點(diǎn)。當(dāng)配置ADC轉(zhuǎn)換請求時(shí)基時(shí),需要考慮與采樣和保持電路相關(guān)的規(guī)格,即孔徑抖動和孔徑延遲。這兩個(gè)規(guī)格影響輸入信號采樣的精確度,因?yàn)檩斎胄盘栂鄬τ诳讖綍r(shí)間延遲在不斷快速變化,如圖2所示。



圖2:孔徑抖動和延遲。

孔徑抖動在生成轉(zhuǎn)換啟動信號的時(shí)鐘系統(tǒng)和其他電路中將導(dǎo)致誤差(即時(shí)鐘抖動),同時(shí)孔徑延遲導(dǎo)致轉(zhuǎn)換啟動信號和采樣開關(guān)之間電路延遲??讖蕉秳釉跀?shù)據(jù)采集系統(tǒng)中會引入噪聲和失真??讖窖舆t可以由MCU設(shè)計(jì)人員內(nèi)部管理,使其最小化,以避免由于長延遲而增加更多抖動的風(fēng)險(xiǎn)??讖窖舆t在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中引起延遲誤差。太長的孔徑延遲類似于水池在“水池滿”信號發(fā)出之前就開始溢出。

由于上述原因,需要精確的時(shí)基用于產(chǎn)生穩(wěn)定的轉(zhuǎn)換啟動請求時(shí)序。MCU提供一系列板上時(shí)鐘或外部時(shí)鐘源作為系統(tǒng)時(shí)鐘選擇。系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員必須仔細(xì)選擇具有足夠精度的時(shí)鐘源,以滿足其數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的需求。對于高速輸入源,需要非常精確的晶體振蕩器。另一方面,直流(DC)或慢速輸入可以更好地容忍時(shí)鐘系統(tǒng)錯(cuò)誤,但仍然需要在轉(zhuǎn)換之間保留足夠的穩(wěn)定時(shí)間。

突發(fā)模式特性

Silicon Labs MCU系列產(chǎn)品中兩個(gè)特別有用的特性是突發(fā)模式和標(biāo)記跟蹤模式。突發(fā)模式根據(jù)可編程的連續(xù)ADC轉(zhuǎn)換數(shù)量生成累積的或平均結(jié)果,所有觸發(fā)來自一個(gè)轉(zhuǎn)換請求。標(biāo)記跟蹤模式通過改變轉(zhuǎn)換啟動請求操作來分擔(dān)MCU系統(tǒng)所需的跟蹤時(shí)間管理。通常,轉(zhuǎn)換啟動標(biāo)記在跟蹤周期終點(diǎn)和轉(zhuǎn)換周期起點(diǎn)。但在標(biāo)記跟蹤模式中,轉(zhuǎn)換啟動請求卻在跟蹤周期起點(diǎn)觸發(fā),然后持續(xù)一段時(shí)間,此時(shí)長為基于預(yù)配置的SARADC時(shí)鐘周期的可編程時(shí)長,最后才開始轉(zhuǎn)換。帶有標(biāo)記跟蹤的觸發(fā)模式可為低頻運(yùn)行的MCU在單MCU時(shí)鐘循環(huán)中獲得累積的ADC結(jié)果,因此減少系統(tǒng)循環(huán)數(shù)和降低功耗,如圖3所示。



圖3:ADC突


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