穿刺噪聲的正確測(cè)量和改進(jìn)措施

　　■　概要

　　隨著ＤＣ／ＤＣ轉(zhuǎn)換器的開關(guān)頻率的不斷升高，　穿刺噪聲的影響變得也越來越明顯。現(xiàn)在，盡管由于示波器的性能不斷的提高使得穿刺噪聲的觀測(cè)變得簡(jiǎn)單了，　但是要準(zhǔn)確得到實(shí)際穿刺噪聲的大小以及分析具體產(chǎn)生的原因還是和很多因素有關(guān)，　例如使用正確的測(cè)試方法，　外部使用器件的合適選擇，線路板線路的合理布局等等。

　　■產(chǎn)生的原因

　　穿刺噪聲產(chǎn)生的原因主要分為兩大類：

　?。?　測(cè)試方法

　　測(cè)試時(shí)，示波器的探針的不同連接方法對(duì)穿刺噪聲的測(cè)量有很大影響。

　　２.　外圍使用器件的正確選擇和線路布局的影響

　　當(dāng)ＤＣ／ＤＣ轉(zhuǎn)換器在控制開關(guān)動(dòng)作完成的同時(shí)，　肖特基二極管打開和截止的瞬間有逆向漏電流流過，同時(shí)開關(guān)打開和斷開的瞬間基板上有大的電流流過，造成基板上不同器件之間產(chǎn)生較大電位差；　另外由于線圈的電磁波磁場(chǎng)的影響也會(huì)導(dǎo)致有較大的穿刺噪聲產(chǎn)生。

　　■測(cè)試方法的改善

　　當(dāng)ＤＣ／ＤＣ轉(zhuǎn)換器工作的時(shí)候，　可以用示波器觀察到在開關(guān)閉合和打開的瞬間，　輸出電壓中會(huì)有幾百毫伏的穿刺噪聲信號(hào)產(chǎn)生，而且在測(cè)試的過程中，隨著探針測(cè)試方向的改變，噪聲信號(hào)的大小也會(huì)發(fā)生很大的變化。實(shí)際輸出電壓中的噪聲除了正確的測(cè)試方法以外，還受到其他因素的影響，因此要準(zhǔn)確測(cè)量輸出電壓中穿刺噪聲成份的大小，就需要避免由于測(cè)試探針受外界的環(huán)境的影響而增加的那部分噪聲信號(hào)，具體操作如下：

　?。粒骸∵@種普通的測(cè)試探針由于地線比較長(zhǎng)象天

　?。拢骸∪コ结樀慕拥囟撕吞筋^的屏蔽部份。線一樣，容易受外界的環(huán)境影響。

　?。茫骸∪缓笾苯影烟筋^的金屬端和輸出端連接，探針的地線部份和線路板的地線連接，這樣可以有效的防止外界噪聲的干擾。

　　同樣地線測(cè)試基準(zhǔn)點(diǎn)的選擇對(duì)于穿刺噪聲的大小也有著很大的影響，ＤＣ／ＤＣ轉(zhuǎn)換器后端的輸出電容的容值對(duì)于穿刺噪聲的實(shí)際值得大小也有著重要的影響。

　　■　應(yīng)用對(duì)策：

　　實(shí)際應(yīng)用過程中間需要注意的地方很多，下面列舉一些供參考：

　?。?　在選擇輸入電容時(shí)盡量使用感抗小的電容，或者并聯(lián)一個(gè)０.０１μＦ的陶瓷電容，并且要盡量的靠近開關(guān)晶體管和二極管。

　?。?　輸出電容的等效電阻ＥＳＲ是影響穿刺噪聲大小的一個(gè)很重要的因素（ＶＲＩＰＰＬＥ＝ＲＥＳＲ＊ＤＩＬ），因此要正確的選擇一個(gè)電容就需要綜合考慮電容的價(jià)格，等效阻抗的大小和容值之間關(guān)系。由于陶瓷電容有很好的高頻特性，　而且等效電阻ＥＳＲ也很小，　實(shí)際應(yīng)用電路中盡量選擇可使用陶瓷電容的ＤＣ／ＤＣ轉(zhuǎn)換芯片；

　?。?　在ＦＥＴ開關(guān)管的Ｇ端和ＤＣ／ＤＣ之間增加一個(gè)５－５０毫歐的電阻；

　　４.　在開關(guān)管和肖特基二極管的兩端各并聯(lián)一個(gè)ＲＣ緩沖回路；

　　５.　選用逆向?qū)ɑ謴?fù)時(shí)間特性好的肖特基二極管；，　減少漏電流的流過；

　　６.　當(dāng)電路中有非連續(xù)的大電流流過時(shí)，　外置開關(guān)管和線圈之間的導(dǎo)線要盡量的短，　而且盡量遠(yuǎn)離輸出接地端；

　?。?　選擇使用閉磁類型電路的電感線圈；

　?。?　在輸出端增加一個(gè)濾波電路（低通ＬＣ　＆?。遥没芈罚?；

　?。?　在電路中增加一個(gè)鐵氧磁體器件可以濾除高頻雜波信號(hào)。

注意:

當(dāng)有誤動(dòng)作發(fā)生或者效率轉(zhuǎn)換低下的情況時(shí),要首先檢查有旁路電容和地線連接的那部份線路.