真相：準諧振反激的設計內(nèi)幕
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準諧振 QR
Q(Quasi)
R( resonant)
主要是降低MOSFET的開關損耗，而mos的開關損耗主要是來源于自身的輸出電容。
從上圖中，大家可以討論一下，一般的開關損耗來自于那幾個部分的寄生電容產(chǎn)生的。在傳統(tǒng)的非連續(xù)模式反激DCM)的停滯時間內(nèi)，寄生電容將會跟VDC周圍的主要電感產(chǎn)生振蕩。寄生電容上的電壓會隨振蕩而變化，但始終具有相當大的數(shù)值。當下一個周期MOSFET導通時間開始時，寄生電容會通過MOSFET放電，產(chǎn)生很大的電流尖峰。由于這個電流出現(xiàn)時MOSFET存在一個很大的電壓,該電流尖峰因此會做成開關損耗。
從上面的圖可以看到，準諧振跟一般的傳統(tǒng)反激原理基本一樣。
Lleak是初級漏感，Rp是初級電阻，Cp是諧振電容；
當副邊繞組中的能量釋放完畢之后(即變壓器磁通完全復位)，在開關管的漏極出現(xiàn)正弦波振蕩電壓，振蕩頻率由LP、CP決定，衰減因子由RP決定。
對于傳統(tǒng)的反激式變換器，其工作頻率是固定的，因此開關管再次導通有可能出現(xiàn)在振蕩電壓的任何位置(包括峰頂和谷底。
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