Teledyne LeCroy發(fā)布MIPI M-PHY協(xié)議層、發(fā)送端、接收端完整測(cè)試方案

　　意識(shí)到移動(dòng)市場(chǎng)對(duì)完整測(cè)試方案的需求，Teledyne LeCroy公司推出了一系列測(cè)試和測(cè)量產(chǎn)品，以幫助加速移動(dòng)設(shè)備的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)。對(duì)已有的MIPI物理層測(cè)試工具的補(bǔ)充，Teledyne LeCroy公司推出了Eclipse X34™協(xié)議分析儀用于M-PHY協(xié)議測(cè)試，以及對(duì)M-PHY接收端測(cè)試的PeRT3™ Phonenix M-PHY測(cè)試選項(xiàng)。這些新產(chǎn)品結(jié)合示波器上已有的發(fā)送端測(cè)試和協(xié)議解碼工具，一套采用了這些示波器工具的全自動(dòng)化的一致性測(cè)試解決方案將在2014年底上市。這套方案將為移動(dòng)市場(chǎng)提供端到端的測(cè)試，并將于周二在芝加哥的MIPI聯(lián)盟會(huì)員大會(huì)上展出。

　　Teledyne LeCroy Eclipse x34™ 協(xié)議分析儀是一臺(tái)單獨(dú)的M-PHY協(xié)議分析儀，它的硬件將支持高速GEAR1, GEAR2, GEAR3速率下多通道X1到X4的測(cè)試，支持多種連接方式包括M.2，SMA，Multi-lead 和 Mid Bus等，Eclipse x34協(xié)議分析儀未來(lái)將會(huì)支持M-PCIe, SSIC 和 Unipro/UFS 協(xié)議分析，Eclipse x34協(xié)議分析儀將會(huì)在2014年第三季度開(kāi)始發(fā)貨。作為PCI-SIG和USB-IF的資深會(huì)員，Teledyne LeCroy給M-PCIe和SSIC協(xié)議分析市場(chǎng)帶來(lái)世界級(jí)的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)。最初發(fā)布的Eclipse x34將會(huì)支持M-PCIe，接著會(huì)支持SSIC，最后支持UFS。

　　PERT3 Phoenix 是唯一的具有協(xié)議識(shí)別能力的MIPI M-PHY接收端測(cè)試方案，PERT3 Phoenix新增加了M-PHY接收端測(cè)試的能力，支持M-PHY 高速GEAR1, GEAR2, GEAR3速率的測(cè)試，也支持低速PWM Mode (G0-G7)，支持自動(dòng)校準(zhǔn)和裕量測(cè)試。工程師在開(kāi)發(fā)基于M-PHY總線(xiàn)的下一代移動(dòng)設(shè)備時(shí)可以使用這套方案解決設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，通過(guò)輕松的進(jìn)行一致性測(cè)試、產(chǎn)品驗(yàn)證、Margin測(cè)試解決信號(hào)完整性問(wèn)題。該方案支持高速GEAR1, GEAR2, GEAR3和 PWM Mode (G0-G7)所有速率的測(cè)試，這使開(kāi)發(fā)者可以靈活的測(cè)試所有的速率，以全面觀察他們的設(shè)計(jì)質(zhì)量。它的自動(dòng)校準(zhǔn)功能減少了復(fù)雜的設(shè)置，節(jié)約了時(shí)間，使工程師可以更快的完成測(cè)試。裕量測(cè)試允許工程師驗(yàn)證和調(diào)整他們的產(chǎn)品相對(duì)規(guī)范有最大的潛在裕量。

　　TleScan PE工具是對(duì)這套方案的一個(gè)補(bǔ)充，它使用一個(gè)描述性的界面以樹(shù)狀結(jié)構(gòu)顯示PCIE總線(xiàn)的信息，基于PCIE1.1，2.0，3.0，M-PCIe規(guī)范的設(shè)備的詳細(xì)的正文信息和寄存器圖會(huì)被掃描到，可以了解到更多的配置信息和寄存器設(shè)置信息。M-PCIE設(shè)備會(huì)被自動(dòng)檢測(cè)到，保存在M-PCIe擴(kuò)展寄存器中的信息(像M-PCIe當(dāng)前鏈路速度，Gears，M-PCIe最大鏈路寬度)會(huì)在屏幕上快速總結(jié)顯示出來(lái)，其他的配置空間的寄存器信息能夠被讀寫(xiě)以滿(mǎn)足工程師設(shè)計(jì)好的測(cè)試，這個(gè)工具支持掃描裝有Win7，Win8或Linux系統(tǒng)的主機(jī)。

　　示波器上強(qiáng)大的MIPI M-PHY協(xié)議解碼、物理層測(cè)試和眼圖分析軟件簡(jiǎn)化了MIPI的設(shè)計(jì)和調(diào)試。物理層測(cè)量和解碼后的協(xié)議信息可方便的逐條查看，提供物理層和協(xié)議層之間關(guān)聯(lián)性的信息。這組物理層測(cè)量套件將會(huì)集成到自動(dòng)化的QualiPHY框架中。