基于MEMS的OXC:解決可靠性差距
電信業(yè)的需求促使了其發(fā)展方向以光層架構(gòu)成本的大幅度下降為目標(biāo),而該目標(biāo)的核心就是要減少不必要的光電轉(zhuǎn)換。高度可重構(gòu)的無(wú)阻塞全光交叉連接器(OXC)注定要成為降低成本的一個(gè)關(guān)鍵部件,并將在未來(lái)的網(wǎng)絡(luò)中大展鴻圖。
而且,未來(lái)的OXC完成的也不再僅限于光-光交換了,它還可以實(shí)現(xiàn)更多的功能,包括復(fù)用/解復(fù)用,上路/下路以及信道均衡。這些系統(tǒng)依賴其尺寸、成本、功耗以及可重構(gòu)性的優(yōu)勢(shì),必將在電信網(wǎng)絡(luò)中占有一席之地,相比之下,傳統(tǒng)的基于SONET的交換機(jī),甚至高級(jí)的光電光(OEO)交換機(jī)都顯得很不經(jīng)濟(jì)劃算了。
對(duì)于大型OXC交換機(jī),運(yùn)營(yíng)商的基本要求之一就是長(zhǎng)久的連接可靠性。這里所說(shuō)的可靠連接是指:在整個(gè)連接過(guò)程中,能夠在所有運(yùn)營(yíng)環(huán)境下,對(duì)于任何合法的輸入信號(hào),都能滿足其所有性能要求。環(huán)境條件包括溫度、沖擊、抖動(dòng)以及濕度。在Telcordia公布的文件中,對(duì)性能和相關(guān)的環(huán)境測(cè)試條件做了規(guī)定,通常在用戶說(shuō)明書(shū)中,這些規(guī)定會(huì)更為嚴(yán)格。從具體的數(shù)據(jù)上講,運(yùn)營(yíng)商要求誤碼率要低于1×10-12,而系統(tǒng)的可用性要高于99.999%。
人們普遍認(rèn)為,微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)是一種能夠?qū)崿F(xiàn)大的規(guī)模效益、優(yōu)越的旋光性能以及降低電信光交換成本的必需技術(shù)。而當(dāng)前,以O(shè)EO交換、SONET以及下一代SONET為基礎(chǔ)的現(xiàn)有光架構(gòu)的高度可靠性,已經(jīng)為這種新的設(shè)備必須跨過(guò)的門(mén)檻。
下面,我們來(lái)探究一下可以提高基于MEMS的OXC系統(tǒng)的連接可靠性的技術(shù)和工程設(shè)計(jì)方法。
OXC系統(tǒng)
一個(gè)基于MEMS的OXC系統(tǒng)包含光學(xué)部件、MEMS鏡片、鏡片驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、封裝和一個(gè)系統(tǒng)控制器(圖1)。光學(xué)部件子系統(tǒng)負(fù)責(zé)以最小的耦合損耗,把輸入光耦合進(jìn)相應(yīng)的輸出光纖。該光路的光經(jīng)過(guò)兩個(gè)MEMS鏡片的反射后,通過(guò)微透鏡單元的匯聚,耦合進(jìn)一條給定的輸出光纖中。如果要保證光能夠很好地匯聚到預(yù)定的輸出光纖中,就需要兩個(gè)MEMS鏡片。
(圖1)
MEMS鏡片子系統(tǒng)把來(lái)自特定輸入光纖的光反射到給定的輸出光纖中,而MEMS鏡片驅(qū)動(dòng)子系統(tǒng)用于精確控制鏡片的反射角度。封裝子系統(tǒng)包含密閉的光外罩和通向MEMS鏡片的電接口。光外罩又包括光纖模塊、組件支撐結(jié)構(gòu)、溫度控制和沖擊/抖動(dòng)隔離部件。
系統(tǒng)控制器負(fù)責(zé)在分配的時(shí)間內(nèi)建立起正確的連接,還有連接的優(yōu)化、系統(tǒng)性能跟蹤以及環(huán)境控制。
子系統(tǒng)的可靠性
光學(xué)部件子系統(tǒng)的連接可靠性是指在環(huán)境(溫度、沖擊和抖動(dòng))變化時(shí)光路的穩(wěn)定性。光路最敏感的部分是介于光纖端面和微透鏡數(shù)組之間的部分,因?yàn)檫@里的一點(diǎn)很小的變動(dòng)就可以讓經(jīng)過(guò)MEMS鏡片的光線發(fā)生很大的變動(dòng)。
所以,這一部分的定位和穩(wěn)定性對(duì)整個(gè)光路子系統(tǒng)的可靠性都起至關(guān)重要的作用。幸好,克服這些環(huán)境因素也不是很難:可以通過(guò)準(zhǔn)絕熱處理來(lái)穩(wěn)定溫度,并對(duì)外殼進(jìn)行絕緣/緩沖處理。
通過(guò)冗余備份,系統(tǒng)控制器的電子部件和軟件可以達(dá)到很高的可用性。電子模塊可以采用好幾種冗余備份方式。這些備份方式在其它電子系統(tǒng)中都很常用,在MEMS或OXC的應(yīng)用中沒(méi)有什么特殊之處。
基于MEMS的OXC是電信系統(tǒng)有史以來(lái)首次引入的可活動(dòng)部件。因此,MEMS鏡片的可靠性立刻受到了質(zhì)疑。MEMS鏡片的可靠性問(wèn)題包括種種機(jī)械方面的失效——事實(shí)上,這僅是其中的一類故障。
MEMS的可靠性還涉及高反射率的鏡片涂層、鏡片變形以及角度指向偏差,這些可能是入射光功率過(guò)大或其它環(huán)境因素,例如溫度、沖擊和抖動(dòng)等造成的。在鏡片受驅(qū)動(dòng)的區(qū)域內(nèi),邊沿充電效應(yīng)對(duì)可靠性的影響至關(guān)重大。這里,我們要通過(guò)分析兩種不同的鏡片結(jié)構(gòu),對(duì)這些故障機(jī)理進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。
有兩種制作MEMS的基本工藝技術(shù):立體刻蝕和表面沉積。立體刻蝕方法就是將硅從襯底刻蝕掉,其制造的結(jié)構(gòu)厚度可以達(dá)到500μm甚至更大,以至可以制作出很復(fù)雜的結(jié)構(gòu)(圖片1)。表面沉積制造的結(jié)構(gòu)通過(guò)薄膜沉積,一般厚度小于6μm。
(圖片1)
立體刻蝕方法與表面沉積方法的表較
下面對(duì)引發(fā)不可靠連接的立體刻蝕和表面沉積鏡片的故障機(jī)理進(jìn)行一下比較。我們從入射光功率過(guò)大開(kāi)始分析。下一代DWDM系統(tǒng)由于復(fù)用的光信號(hào)數(shù)量很大,所以需要的入射光功率也會(huì)較大。
處理光功率大小的能力受限于鏡片的散熱能力。詳細(xì)舉例來(lái)說(shuō),Telcordia 10732中規(guī)定OXC的最大允許光功率為25dBm,即大約300mW。一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的MEMS鏡片的金涂層可以吸收這個(gè)功率的2%,也就是6mW。
如果鏡片的熱敏電阻過(guò)高,鏡片的溫度就會(huì)超過(guò)它的運(yùn)作溫度。想要保證可靠的運(yùn)作,鏡片的熱敏電阻就必須足夠小。以此推斷,如果不希望鏡片溫度超過(guò)30°C,熱敏電阻就必須小于30°C/6mW=5°C/mW。
由于局部鏡片出現(xiàn)問(wèn)題以及隨之帶來(lái)的溫度升高問(wèn)題,可能會(huì)導(dǎo)致MEMS鏡片發(fā)生嚴(yán)重的故障。表面沉積鏡片厚度很小,它的熱敏電阻就很難做到很??;而立體刻蝕方法做出的鏡片的厚度較大,同時(shí)熱敏電阻較小。因此,在光功率較大的場(chǎng)合中要使用立體刻蝕方法做出的鏡片。
由于溫度升高引發(fā)了鏡片彎曲,所以,對(duì)可靠連接影響較大的插入損耗,也不可避免的受到鏡片表面光失真的影響。類似的,MEMS鏡片的涂層帶來(lái)應(yīng)力,也會(huì)導(dǎo)致鏡片彎曲。這里,立體刻蝕鏡片就比較有優(yōu)勢(shì),因?yàn)樗溺R片厚一些,所以它受外界因素——高反射率的介質(zhì)涂敷層和溫度所引起的彎曲——的影響較小。
MEMS鏡片出現(xiàn)機(jī)械失效的主要原因是靜摩擦,經(jīng)過(guò)沖擊造成的微裂紋擴(kuò)張和接觸,會(huì)引發(fā)表面靜摩擦。通過(guò)預(yù)先設(shè)計(jì)就可以預(yù)防靜摩擦,立體刻蝕鏡片一般就不存在這個(gè)問(wèn)題??煽康溺R片必須在結(jié)構(gòu)上做到減少微裂痕產(chǎn)生和蔓延。
通過(guò)保證所有的彎曲幅度都不超過(guò)硅的屈服應(yīng)力,可以使鏡片的壽命達(dá)到無(wú)限長(zhǎng)。精心設(shè)計(jì)的單晶立體刻蝕硅鏡片不存在因疲勞而產(chǎn)生的故障,因此,它比表面沉積鏡片在這方面具有優(yōu)勢(shì)。圖2展示的是一個(gè)立體刻蝕鏡片經(jīng)過(guò)1.06億個(gè)運(yùn)行周期后的偏差情況,并未發(fā)現(xiàn)鏡片有任何退化。
MEMS鏡片可以由靜電傳動(dòng)器、磁電傳動(dòng)器、熱傳動(dòng)器或壓電傳動(dòng)器驅(qū)動(dòng)。其中壓電傳動(dòng)器和磁電傳動(dòng)器很難進(jìn)行高密度的集成。此外,磁電傳動(dòng)器和熱傳動(dòng)器還需要良好的屏蔽來(lái)消除鏡片間的串?dāng)_。而靜電傳動(dòng)器雖然有邊沿充電效應(yīng)的問(wèn)題需要解決,但是它功耗最小,最適于大規(guī)模集成。
在高壓下,邊沿電荷在電極或傳動(dòng)器周?chē)慕^緣電介質(zhì)層中累積。這些100-400V的高壓是驅(qū)動(dòng)鏡片的必要條件。在恒定電壓下,電荷的累積會(huì)引起鏡片位置的移動(dòng)。由于漏電流非常小,放電時(shí)間常數(shù)可以達(dá)到數(shù)分鐘甚至數(shù)天,因此這會(huì)導(dǎo)致不可靠和不可預(yù)計(jì)的連接。
從連接可靠性方面考慮,以靜電傳動(dòng)器作為驅(qū)動(dòng)的立體刻蝕鏡片是鏡片技術(shù)的首選。由于邊沿電荷和其它環(huán)境因素所帶來(lái)的不必要的鏡片移動(dòng)可以通過(guò)設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)溺R片控制環(huán)路來(lái)消除。
鏡片驅(qū)動(dòng)的可靠性
鏡片是用來(lái)實(shí)現(xiàn)連接的,當(dāng)存在環(huán)境問(wèn)題和長(zhǎng)期漂移的時(shí)候,若鏡片的驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)不能精確地傾斜鏡片的話,就會(huì)使連接可靠性受到破壞。鏡片控制有兩種方案:開(kāi)環(huán)和死循環(huán)。這兩種鏡片控制體系處理器件漂移和環(huán)境影響的方式是相當(dāng)不同的。
開(kāi)環(huán)配置結(jié)構(gòu)中,MEMS應(yīng)用預(yù)先設(shè)定的電壓讓它們傾斜到預(yù)定的角度。開(kāi)環(huán)鏡片控制要根據(jù)不同的溫度,建立所有組件的精確映像。當(dāng)溫度發(fā)生變化時(shí), MEMS鏡片驅(qū)動(dòng)電壓也要進(jìn)行調(diào)節(jié)以保持可靠的連接。因此需要使用大量的檢查表和復(fù)雜的算法來(lái)計(jì)算由于溫度變化而要調(diào)整的驅(qū)動(dòng)電壓。這些表格和算法必須在連接校準(zhǔn)周期中定期更新,更新時(shí)系統(tǒng)要停機(jī)。
在死循環(huán)配置方法中,使用基于傳感器的反饋系統(tǒng)來(lái)連續(xù)地監(jiān)視和控制鏡片的傾斜角度。因此,鏡片定位的精確度就取決于傳感器的精確度,這樣就消除了大多數(shù)開(kāi)環(huán)控制器所敏感的問(wèn)題,如沖擊、抖動(dòng)以及由邊沿充電效應(yīng)和溫度變化而產(chǎn)生的漂移。
此外,一個(gè)設(shè)計(jì)優(yōu)良的死循環(huán)控制器可以控制鏡片越過(guò)突降點(diǎn)。突降是當(dāng)靜電驅(qū)動(dòng)力比恢復(fù)彈力大的時(shí)候發(fā)生的一種情況。一旦發(fā)生突降,鏡片傳動(dòng)器就會(huì)倒塌到驅(qū)動(dòng)電極上。
實(shí)際應(yīng)用中有多種類型的位置傳感器,從集成的鏡片位置傳感器到能夠檢測(cè)輸出光纖中紅外信號(hào)的傳感器。不同的傳感方法所能提供的性能也有所不同。此外,可以在外部使用慢速控制環(huán)來(lái)監(jiān)視某些典型信道的旋光性能。
為了使系統(tǒng)校準(zhǔn)達(dá)到最優(yōu)化和插入損耗達(dá)到最小,需要對(duì)這些信道的性能進(jìn)行跟蹤和分析。即使存在沖擊、抖動(dòng)、溫度變化和長(zhǎng)期漂移的情況,一個(gè)良好的死循環(huán)鏡片控制器也能提供最為可靠的連接。
封裝子系統(tǒng)的可靠性
封裝可靠性問(wèn)題的核心就是它與大量MEMS鏡片連接所使用的高電壓。其它的問(wèn)題包括封裝和對(duì)環(huán)境影響進(jìn)行緩沖,可以采用穩(wěn)定溫度、密封和使用緩沖外罩的方法。
大型交叉連接器的端口數(shù)甚至可能超過(guò)1000。對(duì)于如此多的組件,MEMS數(shù)組的封裝以及高壓線焊,都成了保證可靠連接的重要因素了。MEMS鏡片的封裝有兩種:第一種包括大量的高壓線焊;第二種是集成鏡片控制器芯片。
更確切的說(shuō),每個(gè)MEMS通常需要4個(gè)電連接器來(lái)驅(qū)動(dòng)+X、-X、+Y和-Y傳動(dòng)器。這意味一個(gè)1000端口的開(kāi)關(guān)在鏡片數(shù)組和鏡片數(shù)組封裝之間就需要接近4000個(gè)高壓線焊,而實(shí)際上,這種互連密度的可靠封裝是不可能實(shí)現(xiàn)的。
所以,電子集成和互連管理對(duì)一個(gè)高可靠性的系統(tǒng)是非常有用的。它包括使用分立鏡片傳動(dòng)器的集成鏡片結(jié)構(gòu)、高壓和CMOS層。高壓線路利用IC與鏡片傳動(dòng)器相連接。CMOS層與高壓電路也是通過(guò)IC相連的,它提供多路復(fù)用和必要的邏輯支持,從而以約為120的最小數(shù)量的線焊與高壓控制器相連接。這類封裝確保了OXC的可靠性。
圖片2展示了層的順序。底層是高階CMOS層,上面第二層是驅(qū)動(dòng)鏡片的電極層,頂層是MEMS鏡片數(shù)組。
連接可靠性是基于MEMS的OXC的一個(gè)關(guān)鍵要求。通過(guò)比較幾種工程和設(shè)計(jì)方案,可以得出一些與關(guān)鍵OXC可靠性驅(qū)動(dòng)器相關(guān)的結(jié)論,其中包括與死循環(huán)鏡片控制器相結(jié)合的單晶‘立體刻蝕鏡片’的優(yōu)勢(shì)。
圖片2
集成電子設(shè)備的鏡片數(shù)組在可靠性上優(yōu)于集成離散電子設(shè)備的無(wú)源鏡片數(shù)組,這主要是因?yàn)楦邏壕€焊數(shù)量的減少。隔離抖動(dòng)的最好方法就是通過(guò)鏡片控制環(huán)對(duì)MEMS鏡片進(jìn)行緩沖處理。
綜上所述,在光網(wǎng)絡(luò)中應(yīng)用基于MEMS的多端口OXC,是不存在基本的可靠性問(wèn)題的。基于MEMS的全光開(kāi)關(guān)的可靠性遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了實(shí)用的要求。
評(píng)論