DVDR DL雙層光盤的全面檢測(cè)
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在世界上主要光盤制造商的密切配合下，現(xiàn)在檢測(cè)設(shè)備制造商Dr. Schenk已經(jīng)為這種新的光盤格式找到了一種全面而且獨(dú)特的檢測(cè)辦法——利用在線和離線檢測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)生產(chǎn)工藝過(guò)程的可靠控制，確保雙層光盤的質(zhì)量。
目前，DVDR DL存在至少兩種不同的生產(chǎn)工藝過(guò)程：翻疊工藝過(guò)程（Inverse Stack）和表面轉(zhuǎn)化工藝過(guò)程（Surface Transfer (2P)）。Dr. Schenk則為這兩種完全不同的生產(chǎn)過(guò)程提供了獨(dú)特的檢測(cè)設(shè)備。其檢測(cè)方法分兩步進(jìn)行，由一種獨(dú)特的染料檢測(cè)機(jī) ISM.dl 和成品檢測(cè)機(jī) ISM.dvd 組合來(lái)實(shí)現(xiàn)，從而確保了按照新的、更高要求的技術(shù)規(guī)格對(duì)光盤進(jìn)行檢測(cè)。
用同一臺(tái)ISM.dl染料檢測(cè)機(jī)檢測(cè)L0和L1層面的染料
新的染料檢測(cè)機(jī)ISM.dl擁有設(shè)計(jì)巧妙的光學(xué)結(jié)構(gòu)，盡管在翻疊工藝過(guò)程（Inverse Stack）中L0和L1層上的結(jié)構(gòu)不同，但這種獨(dú)特的光學(xué)結(jié)構(gòu)使得ISM.dl仍可以準(zhǔn)確一致地檢測(cè)到兩個(gè)半盤L0和L1上的局部缺損，如染料空缺（dye voids）、染料慧星（dye comets）或染料飛濺（dye splashes）等。除此之外，盡管有濺鍍層存在，該獨(dú)特的光學(xué)結(jié)構(gòu)仍然可以不帶偏差地評(píng)估兩個(gè)半盤上的光密度。這一特點(diǎn)對(duì)于表面轉(zhuǎn)化工藝過(guò)程（Surface Transfer）中的多層結(jié)構(gòu)的檢測(cè)尤其重要。如果只使用常規(guī)的染料掃描技術(shù)對(duì)L1層面的染料進(jìn)行檢測(cè)，其檢測(cè)結(jié)果中通常同時(shí)含有對(duì)L0層面的染料和半透明濺鍍層的掃描結(jié)果。而ISM.dl顯示出的對(duì)L1層面染料的檢測(cè)結(jié)果中，則不含有對(duì)L0層面和半透明濺鍍層等不希望得到的檢測(cè)數(shù)據(jù)，從而使檢測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確。
除了上述優(yōu)點(diǎn)之外，這種針對(duì)雙層光盤的染料檢測(cè)機(jī)還可以檢測(cè)緩沖層(Inverse Stack)和半反射層。另外該機(jī)器還可以選加對(duì)L0層的盤基厚度進(jìn)行測(cè)量的功能。
帶有 ETI 單元（電信號(hào)測(cè)試）的成品檢測(cè)機(jī)ISM.dvd
為了保證整盤的質(zhì)量，需要用成品檢測(cè)機(jī) ISM.dvd 對(duì)粘合好的光盤的表面缺損進(jìn)行檢測(cè)，ISM.dvd還能同時(shí)對(duì)每張DVDR DL成品盤的一些關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行監(jiān)控。目前，Dr. Schenk 的檢測(cè)設(shè)備可以完全按照光盤的規(guī)格要求，對(duì)盤基厚度和間隔層厚度進(jìn)行分別測(cè)量或合成測(cè)量。所有這些測(cè)量均在同一個(gè)檢測(cè)周期內(nèi)完成，對(duì)光盤生產(chǎn)周期沒(méi)有任何影響。ISM.dvd 檢測(cè)機(jī)中使用的高分辨率翹曲檢測(cè)單元完全能夠滿足新的高規(guī)格的要求，尤其是對(duì)光盤旋轉(zhuǎn)一周時(shí)翹曲變化的測(cè)量。另外 Dr. Schenk 還有一系列的選項(xiàng)配置可以裝備給這類檢測(cè)機(jī)。
評(píng)論