3G LTE測試挑戰(zhàn)及測試方案

超過100Mbps的高速下行傳輸速率、LTE和其它標準的共存、消費者對終端電池待機時間的要求，以及eNodeB廠家對按時交付的要求，使得LTE的系統(tǒng)測試和芯片測試面臨一系列挑戰(zhàn)。如何應對這些挑戰(zhàn)呢？TD LTE的系統(tǒng)測試又有哪些獨特的要求呢？

LTE很重要的一個特性是具有超過100Mbps的高速下行傳輸速率，這就要求用戶端設備(UE)和基站系統(tǒng)(eNodeB)有非常高的帶寬并支持MIMO。同時作為一項新的技術，LTE引入了新的頻段。此外，LTE不會很快取代現(xiàn)有的標準，所以在LTE和其它標準共存的時期，為達到更好的地域覆蓋，LTE與現(xiàn)有標準之間的切換就變得至關重要。當然，現(xiàn)在的2G/3G經(jīng)驗告訴我們，消費者對終端電池待機時間的要求使低功耗也成為一個挑戰(zhàn)。最后eNodeB廠家還必須保證系統(tǒng)的按時交付使用。這些都對3G LTE的系統(tǒng)測試和芯片測試提出了很大挑戰(zhàn)，具體體現(xiàn)在以下幾個方面：

1. 20M帶寬對調(diào)制技術帶來挑戰(zhàn)。20M帶寬在746MHz(目前3GPP規(guī)范中最低的頻率)頻率上占到了2.7%，EVM指標在邊緣的惡化使這項測試變得非常重要。

2. MIMO技術。對MIMO的性能評估對測試技術提出了新的要求，這是上一代測試設備無法支持的。

3．多種技術標準并存。FDD/TDD、WCDMA/HSPA、CDMA2000/1X-EVDO、GSM/EDGE等等，如此多標準的共存帶來了信號處理和功耗方面的難題，特別是如何測試在不同標準之間的切換，成為一個重大挑戰(zhàn)。

4．高速傳輸速率。如何對100Mbps的數(shù)據(jù)鏈路提供充足的處理能力也是一個挑戰(zhàn)，特別是在還要求控制功耗和散熱問題的情況下。比如，PC卡、USB軟件狗、PDA和集成在筆記本電腦中的模塊，將來都可能成為最早的LTE終端，它們的功耗和散熱問題是必須解決的最基本問題。

5．測試實際的性能。在正式商用前，試驗網(wǎng)的數(shù)量非常有限，因此第一代LTE設備必須通過全面的測試來驗證它的實際性能。只有存在多徑衰落和噪聲的情況下建立端到端的數(shù)據(jù)鏈路(支持6?QAM和MIMO)，才能確定接收機在動態(tài)環(huán)境中的性能。

6．對LTE的高期望。系統(tǒng)廠商一直在平衡兩個方面的需求，一是按照運營商的定制標準提供成熟的試驗網(wǎng)，二是開發(fā)最終符合3GPP標準的產(chǎn)品。此外，他們都想在最高下行速率下，最早實現(xiàn)切換，并在高速傳輸速率下切換等方面做到與眾不同。所有這些努力都需要運用他們自己的技術規(guī)范，而不是3GPP標準化的東西。這樣，問題的焦點很大程度集中到展示可以在真實環(huán)境中通話的UE(通常最多達到8個)，而不需要擔心小區(qū)負載和小區(qū)邊界條件等因素。在早期的LTE終端原型機中，不良的接收性能是普遍存在的問題。

7．更多真實世界的挑戰(zhàn)。很多其它的挑戰(zhàn)將和3GPP以及使用多個UE有關，比如：如何鑒別無效的指令來優(yōu)化系統(tǒng)；有限的射頻資源是否被合理利用；也許網(wǎng)絡偶爾會錯誤地讓不同的UE擠占同一資源或有效的資源反而被閑置了；當多UE同時接入時，它們對資源的爭奪是否能合理解決等。這些問題很難找到根本的原因，除非使用專門的LTE測試工具，這些工具可以鑒別那些不規(guī)律出現(xiàn)的基站非正常行為。