MOSFET開關(guān)軌跡線的示波器重現(xiàn)方法

　　MOSFET的開關(guān)軌跡線是判斷MOSFET開關(guān)過程“軟硬”程度的重要評(píng)估指標(biāo)，MOSFET的軟硬程度對(duì)于開關(guān)電源的性能、壽命、EMI水平都有至關(guān)重要的影響，本文介紹了一種簡(jiǎn)單實(shí)用的方法，利用泰克TDS3000系列示波器，可以實(shí)時(shí)做出MOSFET的開關(guān)軌跡線，為改善MOSFET的開關(guān)狀態(tài)提供依據(jù)。

　　開關(guān)電源中的開關(guān)器件(本文以MOSFET為例)在任意時(shí)刻的損耗都可以用下式計(jì)算，

　　其中，I_D為開關(guān)器件的電流，U_DS為電壓。一般地，我們希望開關(guān)器件工作在飽和或截止?fàn)顟B(tài)。為減小開關(guān)損耗，在器件開關(guān)的動(dòng)態(tài)過程中，總希望I_D和U_DS在任意時(shí)刻都至少有一個(gè)值接近或等于零。開關(guān)軌跡線可以很好的體現(xiàn)出開關(guān)器件的電流和電壓的關(guān)系，開關(guān)軌跡線以MOSFET的漏源極電壓U_DS為橫軸，漏極電流I_D為縱軸，標(biāo)示出MOSFET所承受的電流和電壓的關(guān)系。典型開關(guān)軌跡線如圖1所示：

　　圖1中a線表示了MOSFET的一次開通過程，U_DS逐漸降低，I_D逐漸升高；b線表示了一次關(guān)斷過程，U_DS逐漸升高，I_D逐漸降低。但是這樣的開關(guān)過程中存在電壓和電流都很高的時(shí)刻，將會(huì)造成很大的開關(guān)損耗，這就是所謂的硬開關(guān)。硬開關(guān)不但增加了開關(guān)損耗，而且影響MOSFET的壽命，更造成復(fù)雜的EMI問題，所以我們通常希望開關(guān)過程盡量“軟”一點(diǎn)。c、d線表示了一次理想的軟開關(guān)過程，c線表示MOSFET開通時(shí)，漏源極電壓下降到零，漏極電流才開始從零上升，d線表示MOSFET關(guān)斷時(shí)，漏極電流先下降到零后，漏源極電壓才開始上升。也就是說，開關(guān)軌跡線越是靠近坐標(biāo)軸，開關(guān)過程就越“軟”。

圖1. 典型開關(guān)軌跡線

　　開關(guān)軌跡線

　　利用開關(guān)軌跡線，可以評(píng)估MOSFET的開關(guān)狀態(tài)，為改善開關(guān)過程提供定量依據(jù)。本文介紹了一種利用TDS3000系列示波器，可以實(shí)時(shí)做出MOSFET的開關(guān)軌跡線，為改善MOSFET的開關(guān)狀態(tài)提供指標(biāo)。試驗(yàn)電路為常見的回掃(flyback)電路，如圖2。CH1通道接電壓探頭，采樣MOSFET漏極電壓，CH2通道接電流探頭，采樣MOSFET的漏極電流。選擇合適的水平和垂直標(biāo)度，將觸發(fā)電平設(shè)置到CH1上，可以得到如圖3所示波形。

　　這個(gè)波形只是表示出電壓和電流隨時(shí)間變化的情況，沒有直觀地體現(xiàn)電壓和電流的相互關(guān)系。我們可以利用TDS示波器的XY顯示模式，觀察MOSFET的開關(guān)軌跡線。將TDS示波器調(diào)節(jié)到XY模式，調(diào)節(jié)CH1和CH2的幅值標(biāo)度到合適位置，即可得到如圖3.b所示波形。這個(gè)波形顯示了一個(gè)完整的MOSFET開關(guān)周期中的電流電壓的相互關(guān)系，也就是開關(guān)軌跡線。其中ABC為開通軌跡線，CDA為關(guān)斷軌跡線。

　　也可以將MOSFET的開通軌跡線單獨(dú)顯示在屏幕上，具體做法如下：將時(shí)域的波形逐漸拉寬，讓整個(gè)屏幕只顯示開通過程的波形(此時(shí)除了調(diào)節(jié)時(shí)間標(biāo)度，還可能需要調(diào)節(jié)一下觸發(fā)電平)，使開通瞬間地電流電壓波形處于屏幕正中間，如圖4。

　　此時(shí)，將示波器調(diào)節(jié)到XY模式下，即可可以看到MOSFET的開通軌跡線。在回掃電路中，由于MOSFET開通后，變壓器原邊電感限制漏極電流的突變，漏極電流從零上升，MOSFET是軟開通。這個(gè)特性在開通軌跡線上，表現(xiàn)為電壓先沿著或貼近X軸減小到零，漏極電流才開始上升。

圖2. 被測(cè)試電路圖

　　同樣的方法，可以觀察到MOSFET的關(guān)斷軌跡線。關(guān)斷前，漏極電流正處于峰值電流出(此時(shí)，MOSFET的狀態(tài)正處于開關(guān)軌跡線的C點(diǎn))。關(guān)斷過程中，漏極電流下降的同時(shí)，漏源極電壓上升，從圖5.b上看，表現(xiàn)為關(guān)斷軌跡線位置很高。MOSFET是硬關(guān)斷，關(guān)斷損耗很大。并且，變壓器原邊漏感中的能量對(duì)MOSFET造成很大的電壓沖擊。

　　利用開關(guān)軌跡線減小開關(guān)損耗

　　由以上分析可知，開關(guān)軌跡線可以直觀地反映MOSFET地開關(guān)損耗。我們總是希望MOSFET的開關(guān)損耗盡可能減小，為此，我們常常在MOSFET周圍添加一些輔助電路，開關(guān)軌跡線可以幫助我們?cè)u(píng)估改善的效果。

　　以圖示的回掃電路為例，為了改善MOSFET的關(guān)斷軌跡，在變壓器原邊繞組兩端并聯(lián)RC緩沖支路(如圖6)，限制MOSFET關(guān)斷時(shí)漏極電壓的上升速度。

　　圖6中所示，R=1kΩ，C=200pF，圖7a~d為加入RC電路后的開關(guān)軌跡線。與之前的開關(guān)軌跡線相比，加入RC電路后，MOSFET的關(guān)斷軌跡更靠近坐標(biāo)軸了(圖7.d)。這是因?yàn)樵贛OSFET關(guān)斷瞬間，由于電容電壓不能突變，依然保持輸入電壓，使得MOSFET上電壓保持為零。隨著電容C的放電，MOSFET的電壓才逐漸升高。這樣，就限制了MOSFET漏源極電壓的上升速度，關(guān)斷損耗得到減小，不過關(guān)斷損耗的減小是以開通損耗的增加為代價(jià)的。這是由于MOSFET關(guān)斷期間，電容C上電壓為零，MOSFET開通瞬間，電容C通過電阻R和MOSFET充電引起的。從圖7.c開通軌跡線上可以看出，MOSFET的開通軌跡線向“上”移動(dòng)了，也就是說，漏源極電壓還沒下降到零時(shí)就有漏極電流流過了。

　　應(yīng)該權(quán)衡考慮開通損耗和關(guān)斷損耗，選擇適當(dāng)?shù)腞C值。利用開關(guān)軌跡線可以方便地找到這個(gè)平衡點(diǎn)，以確?？倱p耗降至最低。

　　本文總結(jié)：

　　利用TDS3000系列示波器的XY顯示模式，可以方便地重現(xiàn)MOSFET的開關(guān)軌跡線。利用這一功能，我們可以定量地了解回掃電路中MOSFET的開關(guān)情況，并為其吸收電路選擇合理參數(shù)。這個(gè)方法也可以方便地應(yīng)用到其他功率開關(guān)和電路拓?fù)渲腥ァ?

　　參考文獻(xiàn)：

　　林渭勛 現(xiàn)代電力電子電路 浙江大學(xué)出版社 2002

圖3.a MOSFET電流電壓波形

圖3.b MOSFET的開關(guān)軌跡線

圖4.a MOSFET的開通過程

圖4.b MOSFET的開通軌跡線

圖5：a）MOSFET的開通過程。

圖5.b）MOSFET的開通軌跡線。

圖6. 變壓器原邊并聯(lián)RC緩沖電路

圖7 關(guān)斷緩沖電路的效果a. 開關(guān)電壓電流波形

b. 開關(guān)軌跡線

c. 開通軌跡線

d. 關(guān)斷軌跡線