TD-LTE芯片的射頻性能測(cè)試完成

全球領(lǐng)先的測(cè)試設(shè)備制造商—安捷倫科技有限公司（NYSE：A）與TD-LTE芯片制造商—創(chuàng)毅視訊日前宣布，雙方已合作完成TD-LTE的數(shù)據(jù)卡射頻性能的測(cè)試。本測(cè)試參考3GPPLTE規(guī)范及創(chuàng)毅視訊測(cè)試需求，基于安捷倫的N5182A信號(hào)發(fā)生器及N9020A信號(hào)分析儀平臺(tái)完成。本次聯(lián)合測(cè)試遵循3GPP標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的第六章及第七章的芯片發(fā)射機(jī)及接收機(jī)的測(cè)試規(guī)范，這也是兩家公司一次成功的合作。

安捷倫科技中國(guó)區(qū)總經(jīng)理蘭濤提到：“安捷倫作為全球領(lǐng)先的測(cè)試設(shè)備制造商，一直致力于提供TD-SCDMA及TD-LTE的測(cè)試方案，安捷倫將與創(chuàng)毅視訊一起合作開發(fā)TD-LTE測(cè)試系統(tǒng)。在中國(guó)部署下一代移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò)的過程中，安捷倫將扮演重要的角色，為中國(guó)移動(dòng)通信事業(yè)做貢獻(xiàn)。”

創(chuàng)毅視訊的CEO張輝說：“創(chuàng)毅視訊作為TD-LTE業(yè)界率先推出基帶處理芯片和數(shù)據(jù)卡解決方案的中國(guó)公司，與安捷倫共同完成的聯(lián)合測(cè)試，具有里程碑的意義，這次合作也幫助我們完成對(duì)芯片的性能指標(biāo)驗(yàn)證。”

安捷倫的MXA，MXG及PXB系列信號(hào)分析儀，信號(hào)發(fā)生器及信道仿真儀可以支持最新的TDD/FDD-LTE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，同時(shí)，X系列平臺(tái)還能支持多達(dá)20種以上的無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試，具體可參見www.agilent.com/find/X-series。

下一代無(wú)線通信技術(shù)，簡(jiǎn)稱LTE，有時(shí)分復(fù)用TDD及頻分復(fù)用FDD兩個(gè)版本，TD-LTE將在在全球得到廣泛的部署。安捷倫為TDD和FDD兩種最新的無(wú)線制式提供了完整的測(cè)試解決方案。