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物聯(lián)網(wǎng)IC設(shè)計日益復(fù)雜 混合訊號驗(yàn)證挑戰(zhàn)大增

作者: 時間:2014-08-15 來源:新電子 收藏

  (IoT)應(yīng)用興起,除為半導(dǎo)體廠開創(chuàng)新的市場商機(jī)外,亦帶來諸多積體電路(IC)設(shè)計新挑戰(zhàn),特別是系統(tǒng)單晶片(SoC)功能整合度愈來愈高,已使業(yè)者面臨更嚴(yán)峻的數(shù)位和類比混合訊號(MixedSignal)電路驗(yàn)證(Verification)挑戰(zhàn)。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/261783.htm

  Cadence全球營運(yùn)暨系統(tǒng)和驗(yàn)證事業(yè)群執(zhí)行副總裁黃小立表示,近年來亞太區(qū)晶片設(shè)計公司對驗(yàn)證工具的需求已顯著攀升。

  益華電腦(Cadence)全球營運(yùn)暨系統(tǒng)和驗(yàn)證事業(yè)群執(zhí)行副總裁黃小立表示,應(yīng)用須具備感測、處理和連結(jié)等能力,而SoC要在兼顧小尺寸、低功耗和低成本的前提下整合上述功能,將面臨許多挑戰(zhàn)。

  黃小立進(jìn)一步解釋,要達(dá)到上述設(shè)計目標(biāo),SoC開發(fā)商勢必須使用先進(jìn)制程,然而在先進(jìn)制程設(shè)計中打造類比功能極為吃力,因此許多晶片大廠如聯(lián)發(fā)科,已開始利用數(shù)位預(yù)失真(DigitalPre-distrotion)和數(shù)位校正(DigitalCalibration)等方法,將許多類比功能轉(zhuǎn)換為數(shù)位設(shè)計,降低在先進(jìn)制程節(jié)點(diǎn)實(shí)作類比電路的挑戰(zhàn)。

  不僅如此,先進(jìn)制程的設(shè)計規(guī)則愈來愈多,且類比與數(shù)位電路須同步驗(yàn)證,才能確保晶片功能運(yùn)作無虞,因而對混合訊號驗(yàn)證的需求愈來愈高,也因此益華不斷投入新技術(shù)研發(fā),如近期所提出的「RealNumberModeling」技術(shù),即可讓設(shè)計人員在數(shù)位模擬環(huán)境中執(zhí)行類比電路模擬,從而大幅提高SoC的驗(yàn)證效率。

  另一方面,益華也戮力厚實(shí)晶片設(shè)計所需求的矽智財(IP)陣容,如數(shù)位訊號處理器(DSP)、中高階類比數(shù)位轉(zhuǎn)換器(ADC)與數(shù)位類比轉(zhuǎn)換器(DAC),以及高速介面等,同時致力確保客戶在益華設(shè)計工具中使用該公司IP時,可達(dá)到最佳的整合設(shè)計。

  黃小立指出,亞太地區(qū)的晶片商長久以來較重視設(shè)計實(shí)作(DesignImplement)層面,對于驗(yàn)證的投入相對較少。然而,隨著SoC設(shè)計益趨復(fù)雜,晶片商已逐漸體認(rèn)到驗(yàn)證的重要性,畢竟一旦發(fā)生錯誤而須返工,花費(fèi)的時間與成本負(fù)擔(dān)愈來愈大,因此這一兩年購買電子設(shè)計自動化(EDA)驗(yàn)證工具的廠商家數(shù)已有明顯增加。

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