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基于JTAG的調(diào)試器、接口及控制器等經(jīng)典設計匯總

作者: 時間:2015-01-07 來源:網(wǎng)絡 收藏

  JTAG(JointTestActionGroup,聯(lián)合測試行動組)是一種國際標準測試協(xié)議(兼容)。標準的JTAG接口是4線——TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。JTAG的主要功能有兩種,一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題,另一類用于Debug,對各類芯片以及其外圍設備進行調(diào)試。本文介紹基于JTAG的調(diào)試器及接口設計,供大家參考。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/267832.htm

  基于Flash和JTAG接口的FPGA多配置系統(tǒng)

  本文選用大容量NOR Flash存儲器來存儲配置碼流,并利用JTAG接口完成配置碼流下載的FPGA多配置解決方案。與System ACE方案相比,該方案不僅能快速完成多個配置碼流的下載,還具有更高的配置速度和更低的實現(xiàn)成本。

  一種嵌入式系統(tǒng)實現(xiàn)的JTAG調(diào)試器

  本文實現(xiàn)的JTAG調(diào)試器具有基本的調(diào)試功能, 尚不具備完善的用戶操作界面, 特別是圖形操作界面, 另外網(wǎng)絡功能也需要進一步完善。但調(diào)試器的設計和實現(xiàn)方法對于設計類似調(diào)試器具有參考價值。為了提高JTAG調(diào)試器速率, 還可以采用或FPGA實現(xiàn)JTAG時序,通過存儲器形式與調(diào)試器接口, 這將在提高速度的同時, 減輕調(diào)試器的負擔。

  基于JTAG的星型掃描接口的設計及其仿真

  本文為解決系統(tǒng)集成復雜度越來越高所帶來的測試調(diào)試任務困難,標準規(guī)范了一種支持星型掃描功能的IEEE 1149.7測試訪問端口(在本文中稱為TAP.7接口),其接口在原有的端口(JTAG)器件的基礎上提供新的功能與特征。

  基于JTAG口對DSP外部Flash存儲器的在線編程設計

  在采用TI數(shù)字信號處理器(DSP)的嵌放式硬件系統(tǒng)開發(fā)完成,軟件也有CCS2.0集成開發(fā)環(huán)境下仿真測試通過后,怎樣將編譯、鏈接后生成的可執(zhí)行文件(.Out),經(jīng)過轉(zhuǎn)換后的十六進制文件(.Hex)寫入硬件系統(tǒng)的Flash存儲器中,讓系統(tǒng)脫機運行,這是許多DSP開發(fā)人員及初學者遇到并需要解決的問題。本文以TMS320C6711-150 DSK板為例,介紹“在線仿真狀態(tài)下”對Flash的編程。

  基于JTAG邊界掃描方式的重構(gòu)控制器的設計

  本文介紹一種基于“ARM處理器+FPGA”架構(gòu)的重構(gòu)控制器,其主要功能是控制按照用戶不同需求調(diào)用不同的方案配置目標可編程器件。該重構(gòu)控制器具有相對通用性,適用于對同一類FPGA芯片實現(xiàn)可編程器件在系統(tǒng)配置,對電路中出現(xiàn)的錯誤和故障進行實時動態(tài)重構(gòu),達到高可靠性的目的,有效節(jié)省邏輯資源。

  基于JTAG接口實現(xiàn)ARM的FPGA在線配置

  本文介紹一種在基于ARM的嵌入式Linux系統(tǒng)中使用Jam Player和Jam配置文件,利用FPGA的JTAG接口對其進行在線配置的方法,為軟件無線電應用中實現(xiàn)可重配置的移動終端提供一種新方法。

  基于JTAG的DSP外部FLASH在線編程與引導技術(shù)

  本文以ADSP-21065L外部擴展的FLASH存儲器AT29LV020為對象,在Visual DSP++3.5環(huán)境中通過JTAG仿真器運行一段程序,將可引導代碼在線燒錄到FLASH中,并實現(xiàn)系統(tǒng)的引導。

  基于SOPC的通用型JTAG調(diào)試器的設計

  本文利用SOPC技術(shù)的特點,設計一種通用型調(diào)試器。根據(jù)待調(diào)試目標板的型號,將相應的調(diào)試IPcore和其他通用IPcore一起編譯生成一個嵌入式調(diào)試系統(tǒng),下載到FPGA上,實現(xiàn)一個通用型調(diào)試器。

  基于JTAG的互連測試技術(shù)

  本文介紹基于JTAG的互連測試技術(shù),可以在任何場合應用,包括板極測試與系統(tǒng)級測試,包括開發(fā)調(diào)試、生產(chǎn)測試、維修測試等過程?;ミB測試是邊界掃描技術(shù)的主要應用之一,通過互連測試能夠檢測到電路板上互連的結(jié)構(gòu)性故障。



關(guān)鍵詞: CPLD IEEE1149.1 CPU

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