針對無線測試的幾種并行測試架構(gòu)探討
II.多DUT測試可提高測試吞吐量
本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/270438.htm盡管近幾年來設(shè)備制造商普遍采用非信令測試來大幅縮短測試時(shí)間,但 是更復(fù)雜的新無線技術(shù)的出現(xiàn)以及產(chǎn)品周期的不斷縮短進(jìn)一步增加了減少測試時(shí)間和成本的壓力。例如,802.11ac通過增加新的數(shù)據(jù)速率、帶寬以及空間流 擴(kuò)展了802.11n。隨著設(shè)備制造商將802.11ac應(yīng)用到產(chǎn)品中,他們不僅需要測試這個(gè)新標(biāo)準(zhǔn),而且為了保持向后兼容性,還需要繼續(xù)測試以前的標(biāo) 準(zhǔn)。
此類因素顯著增加了測試時(shí)間,繼而增加了測試成本。新的解決方案是芯片組供應(yīng)商、測試廠商以及最終用戶通過并行測試多臺 設(shè)備來最大限度提高效率,這一方法也稱為“多DUT”測試。通過利用最新的多DUT測試軟硬件架構(gòu),設(shè)備制造商可以顯著增加他們的生產(chǎn)測試吞吐量而不會增 加測試成本。這里來研究和比較各種多DUT測試方案,其中圖2所示的方案是使用一個(gè)VSA+VSG或VST通過一個(gè)開關(guān)矩陣來測試4個(gè)DUT。

圖2:多DUT硬件配置范例
這里基于這一測試配置來討論不同的方法。為了比較這些方法,此處將一個(gè)典型的WLAN測試分成以下幾個(gè)常見的步驟,并規(guī)定了它們的相對時(shí)間單位,如表1所示。
表1,WLAN測試的常見組成元素
這 些步驟中耗時(shí)最長的是與待測設(shè)備進(jìn)行通信來實(shí)現(xiàn)正確運(yùn)行模式所需的時(shí)間。取決于DUT和測試計(jì)劃,DUT控制時(shí)間可占總測試時(shí)間的45%~90%。因此, 如果要開發(fā)一個(gè)具有最低總測試成本的測試系統(tǒng),則該系統(tǒng)必須具有低的測試設(shè)備成本,同時(shí)使測試設(shè)備的待機(jī)時(shí)間降到最低。
C.串行測試
在傳統(tǒng)的測試計(jì)劃中,設(shè)備通過一個(gè)由夾具和射頻儀器支持的測試站進(jìn)行串行測試。測試順序與圖3中所示的時(shí)間框圖相似。此類測試應(yīng)用的主要優(yōu)勢是非常易于實(shí)現(xiàn)。然而,這種方法并沒有利用任何類型的軟件或硬件并行機(jī)制,從而導(dǎo)致所有DUT啟動期間RF儀器均處于待機(jī)狀態(tài)。
圖3:串行測試時(shí)間框圖
D.流水線
利用多線程并行軟件架構(gòu)和外部開關(guān)電路,已經(jīng)完成啟動的DUT在執(zhí)行TX和RX測試時(shí),并行軟件線程可控驅(qū)動下一個(gè)DUT的啟動過程,從而實(shí)現(xiàn)測試的流水線執(zhí)行。這種方法減少了儀器的停機(jī)時(shí)間,縮短了高達(dá)35%的測試時(shí)間,如圖4所示。
圖4:流水線測試的時(shí)間框圖
E.并行RX測試
另一種減少測試時(shí)間的方法是通過向多個(gè)DUT發(fā)送相同的波形來同時(shí)執(zhí)行多個(gè)RX測試。通過將每個(gè)DUT分配到相應(yīng)的軟件線程,所有DUT均可同時(shí)啟動。使用如圖5所示的技術(shù),多DUT的測試時(shí)間相比流水線測試可減少25%,相比串行測試設(shè)備可減少超過50%。
圖5:并行RX測試時(shí)間框圖
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