新聞中心

EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 業(yè)界動(dòng)態(tài) > 《NI自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2015》帶您全面了解影響測(cè)試和測(cè)量行業(yè)的關(guān)鍵技術(shù)和方法

《NI自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2015》帶您全面了解影響測(cè)試和測(cè)量行業(yè)的關(guān)鍵技術(shù)和方法

作者: 時(shí)間:2015-03-12 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

   (美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商, 近期發(fā)發(fā)布了《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2015》,重點(diǎn)闡述了該公司對(duì)最新測(cè)試和測(cè)量技術(shù)方法的研究成果,總結(jié)了將會(huì)影響許多行業(yè)的技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)。工程師和經(jīng)理們可借助該報(bào)告,為您進(jìn)行重要的技術(shù)和商業(yè)決策提供信息依據(jù)。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/270904.htm

  《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2015》包含了以下內(nèi)容:

  商業(yè)戰(zhàn)略:混合方法測(cè)試

  基于商業(yè)現(xiàn)成技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試設(shè)備正在重塑多個(gè)行業(yè)

  架構(gòu): 跨越大數(shù)據(jù)鴻溝:

  如何將工程與IT相結(jié)合來(lái)利用測(cè)試數(shù)據(jù)

  計(jì)算:?jiǎn)栴}的核心

  從多核處理器演變?yōu)楸姾颂幚砥?/p>

  軟件:必然性驅(qū)動(dòng)

  安全法規(guī)和軟件正在將HIL測(cè)試推向交通運(yùn)輸制造業(yè)的最前沿

  I/O:1G到的演變

  摩爾定律如何推動(dòng)儀器進(jìn)入時(shí)代

  NI通過(guò)院校和工業(yè)調(diào)研、用戶(hù)論壇和調(diào)查以及結(jié)合商業(yè)智能和客戶(hù)咨詢(xún)委員會(huì)的意見(jiàn)得出了《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2015》。隨著我們對(duì)這些趨勢(shì)的面對(duì)面深入交流,我們希望《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望》將是一個(gè)雙向討論。 我們非常愿意傾聽(tīng)您對(duì)行業(yè)技術(shù)改變的想法,并將您的寶貴反饋整合到我們每年更新的技術(shù)展望中。歡迎發(fā)送電子郵件ato@ni.com或訪問(wèn)www.ni.com/ato,與同行探討這些趨勢(shì)。



關(guān)鍵詞: NI 5G

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專(zhuān)區(qū)

關(guān)閉