石英晶體測試系統(tǒng)中DDS信號(hào)源設(shè)計(jì)

　　針對π網(wǎng)絡(luò)石英晶體參數(shù)測試系統(tǒng)，采用以STM32F103ZET6型ARM為MCU控制DDS產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)。該測試系統(tǒng)相對于傳統(tǒng)的PC機(jī)測試系統(tǒng)具有設(shè)備簡單、操作方便，較之普通單片機(jī)測試系統(tǒng)又具有資源豐富、運(yùn)算速度更快等優(yōu)點(diǎn)。AD9852型DDS在ARM控制下能產(chǎn)生0～100 MHz掃頻信號(hào)，經(jīng)試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析得到信號(hào)精度達(dá)到0.5×10-6，基本滿足設(shè)計(jì)要求。該系統(tǒng)將以其小巧、快速、操作方便、等優(yōu)點(diǎn)被廣泛采用。

　　產(chǎn)生正弦激勵(lì)信號(hào)一般可以通過振蕩電路或直接數(shù)字頻率合成器(Direct Digital Frequency Synthesis，DDS)，DDS較振蕩電路具有相位噪聲小、雜散抑制好、可產(chǎn)生連續(xù)波信號(hào)、掃頻信號(hào)和頻率捷變信號(hào)等優(yōu)點(diǎn)。石英晶體電參數(shù)測試中激勵(lì)信號(hào)的指標(biāo)如幅度、頻率的穩(wěn)定性對后續(xù)的測量精度至關(guān)重要。所以系統(tǒng)采用AD9852型DDS作為信號(hào)源。石英晶體電參數(shù)測試系統(tǒng)中，DDS可以同時(shí)產(chǎn)生多路正弦信號(hào)，并可對信號(hào)的頻率、幅度、相位精確控制，用以測量石英晶體電參數(shù)，隨著對石英晶體頻率精度的要求越來越高，DDS的信號(hào)源設(shè)計(jì)及控制具有重要現(xiàn)實(shí)意義。

　　1π網(wǎng)絡(luò)法測試原理

　　在串聯(lián)諧振狀態(tài)下，石英晶體等效電路模型如圖1所示，C0為靜態(tài)電容;L1為動(dòng)態(tài)電感;Rr是串聯(lián)諧振電阻;C1為動(dòng)態(tài)電容。

　　其等效阻抗為

　　式中，ω為信號(hào)源所輸出信號(hào)的角頻率，ω=2πf;Zs為π網(wǎng)絡(luò)的等效阻抗。根據(jù)式(1)可以畫出石英晶體阻抗一頻率特性曲線如圖2所示，f0為石英晶體的串聯(lián)諧振頻率，f1為并聯(lián)諧振頻率，本系統(tǒng)需要測量石英晶體的串聯(lián)諧振頻率。

　　由圖2可以看出，當(dāng)信號(hào)源頻率為f1時(shí)，石英晶體的阻抗最小;當(dāng)信號(hào)源頻率為時(shí)石英晶體的阻抗最大。利用這個(gè)特性可以得到石英晶體的串聯(lián)諧振頻率、并聯(lián)諧振頻率等參數(shù)。石英晶體電參數(shù)測試方法有3種：阻抗計(jì)法、π網(wǎng)絡(luò)最大傳輸法、π網(wǎng)絡(luò)零相位法。π網(wǎng)絡(luò)最大傳輸法是將石英晶體插入一個(gè)π網(wǎng)絡(luò)中，不斷改變π網(wǎng)絡(luò)一端激勵(lì)信號(hào)的頻率，在另一端測量輸出信號(hào)電壓值，當(dāng)電壓達(dá)到最大值時(shí)的頻率即為串聯(lián)諧振頻率。其特點(diǎn)是測試設(shè)備較復(fù)雜，不易捕獲峰值電壓時(shí)的頻率，精度較高;π網(wǎng)絡(luò)零相位法原理;π網(wǎng)絡(luò)零相位法是將石英晶體插入一個(gè)π網(wǎng)絡(luò)中，在一端不斷輸出掃頻信號(hào)，用矢量電壓表檢測π網(wǎng)兩端的相位差，當(dāng)相位差為零時(shí)的頻率即為串聯(lián)諧振頻率。π網(wǎng)絡(luò)最大傳輸法與π網(wǎng)絡(luò)零相位法的主要差別是沒有鑒相電路，將這兩種方法統(tǒng)稱為π網(wǎng)絡(luò)法。

　　2石英晶體測試系統(tǒng)

　　硬件框圖系統(tǒng)采用π網(wǎng)絡(luò)法，硬件框圖如圖3所示。系統(tǒng)以STM32F103ZET6型ARM為的MCU;AD9852型DDS用來產(chǎn)生正弦激勵(lì)信號(hào);TXCO(ROJON)型溫度補(bǔ)償晶振給DDS提供參考頻率，此溫度補(bǔ)償晶振標(biāo)稱頻率50 MHz;LCD作為人機(jī)交換接口用以顯示參數(shù)和波形;4×4鍵盤可以輸入預(yù)置參數(shù)，也可以作為功能按鍵控制系統(tǒng)工作;信號(hào)調(diào)理電路對激勵(lì)信號(hào)濾波以及放大跟隨，通過π網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)經(jīng)處理反饋到STM32F103ZET6的A/D端口，對輸出信號(hào)進(jìn)行處理。MCU通過串口(USART)和上位機(jī)通信，上位機(jī)發(fā)送控制指令控制MCU工作，MCU將測試數(shù)據(jù)反饋給上位機(jī)。系統(tǒng)重點(diǎn)是利用STM32F103ZET6控制A139852產(chǎn)生掃頻信號(hào)，難點(diǎn)是對π網(wǎng)絡(luò)輸出端信號(hào)的處理。

　　3系統(tǒng)測試流程圖

　　石英晶體測試參數(shù)測試儀在通電復(fù)位后首先初始化STM32F103ZET6內(nèi)部寄存器，然后再初始化系統(tǒng)各功能模塊包括LCD、DDS、USART、鍵盤、ADC等。在初始化完成之后通過鍵盤或上位機(jī)設(shè)定被測石英晶體的標(biāo)稱頻率、掃描的起始和終止頻率以及掃描步進(jìn)，參數(shù)設(shè)置完成后，通過上位機(jī)發(fā)送控制指令或鍵盤功能按鍵控制系統(tǒng)工作，在串口和鍵盤未產(chǎn)生中斷時(shí)，DDS會(huì)產(chǎn)生與設(shè)置參數(shù)相應(yīng)的掃頻信號(hào)，LCD實(shí)時(shí)顯示π網(wǎng)絡(luò)反饋到STM32F103ZET6的ADC管腳的波形，待轉(zhuǎn)換結(jié)束后MCU處理并保存數(shù)據(jù)，測試結(jié)果送回上位機(jī)并在LCD上顯示。具體流程圖如圖4所示。