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汽車電子極近場EMI掃描技術方案

作者: 時間:2015-05-15 來源:網(wǎng)絡 收藏

  極近場掃描系統(tǒng)完成了空間和頻譜掃描后顯示并生成了以下輻射特性圖。需注意的是,掃描結果疊加在Gerber設計文件上,因此這樣對結果進行分析可以立即確定待測器件中的具體輻射體。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/274264.htm

  

顯示了SSCG功能為“關”時待測器件的輻射特性

 

  圖2顯示了SSCG功能為“關”時待測器件的輻射特性

  

SSCG功能為“開”時待測設備輻射的空間和頻譜(幅度與頻率)特性

 

  圖3為SSCG功能為“開”時待測設備輻射的空間和頻譜(幅度與頻率)特性。通過對比,可以發(fā)現(xiàn)輻射已經(jīng)顯著減少

  對測試結果進行比較之后,設計團隊發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程 師最大的挑戰(zhàn)在于減少輻射??蛻糁С謭F隊每次向汽車廠商客戶展示這些結果時,他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低的功能(此案例中為 SSCG功能)都可以縮短上市時間、降低屏蔽和成本支出。

  近場輻射特性:新一代串行解串器例子

  這是同一家半導體供應商的第二個例子,該公司開發(fā)了一個通過串行解串器進行點到點傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中,設計團隊采用了一種不同的技術并升級了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中,從而實現(xiàn)了雙向傳輸(全雙工)。

  為了量化比較半雙工解串器與新一代全雙工設計的輻射特性,設計團隊再次使用了內(nèi)部的EMI極近場掃描儀。他們將原來的半雙工板放在掃描儀上,進行基線測量。對待測器件加電后,他們在PC上激活了掃描儀。

  

半雙工和全雙工串行解串器器件的EMI掃描的測試環(huán)境

 

  圖4:半雙工和全雙工串行解串器器件的EMI掃描的測試環(huán)境

  采用同樣的測試設置,設計團隊用新一代全雙工芯片組板替代了基線板,同時也針對每一條特性保持了同樣的規(guī)格。如上文所述,需注意的是,空間掃描疊加在每次生成的Gerber設計文件上,以幫助工程師可以確定任何存在的輻射源。

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關鍵詞: EMI EMI

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