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Intel晶圓代工廠擴(kuò)展服務(wù)利用 Calibre PERC做可靠性檢查

作者: 時(shí)間:2015-07-03 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  Graphics 公司今天宣布,晶圓代工廠擴(kuò)展其14 nm產(chǎn)品服務(wù)給其客戶,包含利用Calibre® PERC™ 平臺(tái)做可靠性驗(yàn)證。 Graphics 聯(lián)合開(kāi)發(fā)有助于提升 IC 可靠性的首套電氣規(guī)則檢查方案,未來(lái)還將繼續(xù)合作開(kāi)發(fā),為 14nm工藝的客戶提供更多的檢查類型。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/276792.htm

  Intel 晶圓代工廠代工設(shè)計(jì)套件實(shí)現(xiàn)部門資深處長(zhǎng) Venkat Immaneni 表示:“通過(guò)與

  合作開(kāi)發(fā)可靠性檢查完整套件,有助于確保雙方客戶針對(duì) Intel 14 nm平臺(tái)做出的設(shè)計(jì)在可靠性、質(zhì)量以及穩(wěn)健性方面達(dá)到最高要求,該14 nm平臺(tái)包含量產(chǎn)的第二代三柵晶體管。我們很高興 Intel 晶圓代工廠在 Mentor Graphics Calibre 驗(yàn)證平臺(tái)增加了更多的解決方案,這些方案包括可靠性驗(yàn)證的關(guān)鍵檢查 。”

  Intel 晶圓代工廠將為客戶提供Calibre PERC規(guī)則執(zhí)行文件來(lái)執(zhí)行電路可靠性檢查,這些檢查解決了客戶在先進(jìn)電路驗(yàn)證上的需求,包括靜電放電 (ESD)、電應(yīng)力超載 ( EOS)、跨電源區(qū)信號(hào)檢查以及其他的可靠性檢查。Calibre PERC 將物理布局與設(shè)計(jì)網(wǎng)表(定義器件以及連接關(guān)系)相結(jié)合,使自動(dòng)化完成復(fù)雜的可靠性檢查變成可能。

  此項(xiàng)認(rèn)證計(jì)劃是 Intel 晶圓代工廠和 Mentor Graphics 過(guò)去一年在 14 nm上開(kāi)發(fā)合作的進(jìn)一步延伸。合作成果包括運(yùn)行速度顯著提升、Calibre nmDRC 和 Calibre nmLVS 的內(nèi)存要求下降,以及對(duì) Analog FastSPICE (AFS) Platform 支持 Intel晶圓代工廠組件模型和設(shè)計(jì)套件的優(yōu)化和認(rèn)證。

  “與 Intel 晶圓代工廠持續(xù)合作為我們雙方的客戶帶來(lái)了領(lǐng)先行業(yè)、性能卓越的簽核環(huán)境,”Mentor Graphics公司 Design-to-Silicon 事業(yè)部副總裁兼總經(jīng)理 Joseph Sawicki 說(shuō)道。“除了在Intel晶圓代工廠14nm上提供Calibre PERC的可靠性檢查,我們還將繼續(xù)積極合作,在更先進(jìn)的工藝上提供相應(yīng)的檢查功能。”

  Intel 晶圓代工廠 客戶在 14 nm平臺(tái)上已可開(kāi)始使用 Calibre PERC 做可靠性檢查。

  如需了解 Intel Custom Foundry 的更多信息,請(qǐng)至 Intel.com/Foundry。

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