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福祿克參加2015年亞太計量規(guī)劃組織(APMP)全體大會

作者: 時間:2015-11-13 來源:電子產品世界 收藏

  10月26日至11月7日, 2015年亞太計量規(guī)劃組織(APMP)全體大會在中國計量科學研究院昌平院區(qū)舉辦, APMP是亞太地區(qū)乃至國際計量界的年度盛會。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/282796.htm

  參會組織包括國際計量委員會、亞太計量規(guī)劃組織、澳大利亞國家計量院以及國際計量局。美國商務部副部長、美國標準與技術研究院(NIST)等國際和亞、歐、美、非等區(qū)域計量組織及相關國際組織代表,以及來自31個國家和經濟體的400多名代表出席此次會議。

  為期兩周的大會中,計量校準部積極參與,邀請了兩位美國專家,參與了電磁學、熱工TC的技術研討會(Work Shop), 并在Work Shop 中發(fā)表演講。我們同時還參與了在昌平國家計量院的產品展示會。

  展會的首日,質檢總局副局長吳清海參觀了FCal展臺,計量校準部總監(jiān)秦堅給吳局長介紹了公司在中國的發(fā)展歷史和目前的布局,以及公司立足國內的發(fā)展策略。



關鍵詞: 福祿克

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