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Agilent分析探針支持533MTps設計和調試

作者:eaw 時間:2005-05-07 來源:eaw 收藏

日前推出的FSI-60075內插件分析探針,是(安捷倫科技)專為下一代DDR2 SDRAM總線分析而設計的產品。該新品為低平外形內插件,對DDR2總線影響小,可使用任何Jedec標準的DDR2雙在線存儲模塊(DIMM)在533MTps下進行設計和調試。且其垂直設計還最小化了水平方向的外部區(qū)域,從而允許DIMM緊鄰探針安裝在槽內。www.agilent.com


關鍵詞: Agilent

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