R&S發(fā)布用于復雜電子電路測試的嶄新測試模塊 TS-PHDT

借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進行大量數(shù)據(jù)運算的領域，快速數(shù)字功能性測試也可以實現(xiàn)。全新的高速數(shù)字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲容量。測試電子組件所需要的激勵信號、期望值以及實測值都可以存儲在本地。由于模塊內(nèi)部能實時對比實測值與期望值，記錄的測試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器，因此節(jié)約了大量的測試時間。

R&S TS PHDT，這個小巧的測試模塊是由羅德與施瓦茨公司和Atmel（半導體生產(chǎn)商的領導者之一）的射頻與汽車業(yè)務部緊密合作共同開發(fā)的；是專為電子組件日趨復雜的數(shù)字電路的功能測試而設計的。另外，測試與測量儀器也必須滿足當前技術對記憶深度、實時性以及等級編程的需求。而R&S TS PHDT則是市場上第一款基于PXI的滿足此類應用的解決方案。 

在功能測試的初始化時，首先，針對該被測件（DUT）的所有激勵信號的參數(shù)以及期望值都被一次性的傳送到測試模塊內(nèi)部1.5GB的存儲介質(zhì)上（3