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對用霍爾效應(yīng)法測量磁體表面磁場的探討

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作者:徐 彬 時(shí)間:2007-09-27 來源:中國SMD資訊網(wǎng) 收藏

  內(nèi)容簡介:本文定性分析了用不可能真正測出表面量值的原因,及介紹一種比較經(jīng)濟(jì)、實(shí)用的測量小磁體表面的方法。

  根據(jù)霍爾效應(yīng)原理制成的特斯拉計(jì)(高斯計(jì))在測量中,有著廣泛的應(yīng)用。這種儀器是由作為傳感器的霍爾探頭及儀表整機(jī)兩部分組成。其中探頭內(nèi)霍爾元件的尺寸、性能與封裝結(jié)構(gòu)對磁場測量的準(zhǔn)確度起著關(guān)鍵的作用。

  霍爾效應(yīng)特斯拉計(jì)對均勻、恒定磁場測量的準(zhǔn)確度一般在5%—0.5%,高精度的測量準(zhǔn)確度可以達(dá)到0.05%。但對磁體表面的非均勻磁場的測量就談不上準(zhǔn)確度了。往往是不同的儀表,或同型號(hào)的儀表,不同的探頭,或同一支探頭的不同側(cè)面。去測量同一磁體表面,同一位置(應(yīng)該說看上去是同一位置)的磁場時(shí),顯示的結(jié)果大不一樣,誤差可以超過20%,甚至50%。

  造成上述差別的原因有兩點(diǎn):其一,不同探頭內(nèi)霍爾元件封裝的位置不同,或元件不在探頭兩側(cè)的中部。這些探頭在均勻磁場中,不會(huì)因位置上的改變而感受到磁場的改變,測量數(shù)據(jù)也不會(huì)因位置的不同而帶來誤差。當(dāng)用不同的探頭去測磁體表面發(fā)散的、不均勻的磁場時(shí),雖然表面看上去是放到了同一位置,而內(nèi)部霍爾元件感受到的并不是同一位置的磁場。感受到的場值不同,測量結(jié)果當(dāng)然不一樣。見不同磁體磁場示意圖。一般,對于徑向探頭,厚度越小,內(nèi)部霍爾元件離表面越近,測量表面磁場顯示讀數(shù)越大,采用超薄探頭去測表面磁場時(shí)的讀數(shù)可以高于常規(guī)探頭20%以上(被測磁體尺寸越小,磁體表面曲率越大,表面磁場分布越不均勻,測量數(shù)據(jù)差別越大),但是無論多薄的探頭,其內(nèi)部對磁場敏感的部分與磁體表面總有一個(gè)間距,不可能為零距離。所以說,不可能測到真正的表面磁場。只能說,使用的探頭越薄,讀數(shù)越能反映出磁體的表面磁場。

  原因之二是:不同型號(hào)的霍爾探頭內(nèi),所封裝的霍爾元件敏感區(qū)尺寸不同。早期的體形霍爾元件,如鍺、硅霍爾元件,尺寸一般為4

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