泛華測控首屆“數(shù)據(jù)采集應用方案”有獎征文全面啟動

　　為進一步推動虛擬儀器技術在國內(nèi)的發(fā)展和應用，使更多的工程師們能更快更好地開發(fā)符合特定要求的基于計算機的測控系統(tǒng)，北京中科泛華測控技術有限公司DAQ事業(yè)部日前宣布，將于10月至12月間舉行首屆“數(shù)據(jù)采集應用方案”有獎征文競賽。
 
　　競賽面向國內(nèi)使用NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品開發(fā)基于計算機的測試/測量和自動化控制系統(tǒng)的技術人員（包括大專院校教師和學生）征集文章?；顒訄竺刂寥掌跒?007年12月31日，所有參選文章最終將由“泛華測控DAQ事業(yè)部有獎征文競賽組”評獎，評選標準在于“是否基于NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品在測試測量和自動化應用方案的成功范例”、“應用方案所解決的技術難度如何”以及“在減少開發(fā)時間和降低成本方面的優(yōu)勢、方案的創(chuàng)新程度如何”等，選出一等獎1名，獎勵5000元現(xiàn)金；二等獎2名，獎勵2000元現(xiàn)金；三等獎3名，獎勵1000元現(xiàn)金，最佳OEM獎1名，獲價值5000元 NI數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品（限PCI,USB,PCMCIA總線）；鼓勵獎10名，獎勵艾利和MP3一個。優(yōu)秀獲獎征文將免費刊登在行業(yè)網(wǎng)站和泛華測控DAQ事業(yè)部各類宣傳資料上，并為其他參與征文活動參賽者提供精美獎品作為鼓勵。

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