NI成功主辦第二屆 中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇

——PXI技術(shù)業(yè)已成為測試測量行業(yè)的主流技術(shù)趨勢(shì)

　　2005年7月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）宣布成功主辦第二屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC 2005），本屆活動(dòng)于2005年7月7日在深圳舉辦，深圳站共吸引了近400位相關(guān)領(lǐng)域的工程師和技術(shù)人員到場參加。此外，值得一提的是PXI TAC是由NI主辦、大中國地區(qū)規(guī)模最大的多供應(yīng)商PXI活動(dòng)，共有十家PXI行業(yè)內(nèi)的企業(yè)“同臺(tái)獻(xiàn)藝”，攜手展示和推廣PXI技術(shù)和產(chǎn)品，他們分別是：白金贊助商Chroma、金牌贊助Aeroflex、VI Services（上海聚星儀器）、北京泛華測控和臺(tái)灣拓甫科技，以及其他參與廠商ASCOR、VPC（美國弗吉尼亞電子器件公司）、ADLINK（凌華科技）、Acqiris和Ztec Technologies等，盛況空前。

　　來自NI美國總部的全球市場及客戶運(yùn)營高級(jí)副總裁John Graff先生正在發(fā)表精彩的主題演講，其他的演講者包括：NI全球模塊化產(chǎn)品、PXI及儀器控制部門產(chǎn)品市場總監(jiān)Eric Starkloff先生和Chroma（致茂電子股份有限公司）PXI系統(tǒng)事業(yè)部總經(jīng)理莊嘉明先生。

　　今年活動(dòng)的主旨是：PXI——引領(lǐng)自動(dòng)化測試技術(shù)的潮流?；顒?dòng)同期共舉行了十場儀器/自動(dòng)化和測試應(yīng)用專題的技術(shù)研討會(huì)，從現(xiàn)場觀眾的反饋和參與廠商的交流來看，PXI技術(shù)正在被越來越多的測試測量工程師所接受和認(rèn)可，PXI業(yè)已成為測試測量行業(yè)的主流技術(shù)趨勢(shì)。

　　會(huì)議現(xiàn)場的調(diào)查，高達(dá)90%的觀眾將把PXI作為他們今后的首選測試測量平臺(tái)，71.3%表示他們有意向參加、并會(huì)向同事推薦明年的活動(dòng)。參與此次活動(dòng)的來賓也紛紛表示：“論壇有實(shí)例有產(chǎn)品，理論和實(shí)際相結(jié)合，讓我能更深入地了解PXI技術(shù)的前沿知識(shí)，以及其操作的便利性?！?BR>　
　　基于兩屆活動(dòng)的成功經(jīng)驗(yàn)，NI會(huì)在明年繼續(xù)舉辦第三屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”，并有信心將其打造成大中國地區(qū)PXI行業(yè)內(nèi)首屈一指的多供應(yīng)商技術(shù)論壇。