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NI成功主辦第二屆 中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇

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作者: 時(shí)間:2005-07-13 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

——PXI技術(shù)業(yè)已成為測試測量行業(yè)的主流技術(shù)趨勢

  2005年7月——美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱)宣布成功主辦第二屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC 2005),本屆活動于2005年7月7日在深圳舉辦,深圳站共吸引了近400位相關(guān)領(lǐng)域的工程師和技術(shù)人員到場參加。此外,值得一提的是PXI TAC是由主辦、大中國地區(qū)規(guī)模最大的多供應(yīng)商PXI活動,共有十家PXI行業(yè)內(nèi)的企業(yè)“同臺獻(xiàn)藝”,攜手展示和推廣PXI技術(shù)和產(chǎn)品,他們分別是:白金贊助商Chroma、金牌贊助Aeroflex、VI Services(上海聚星儀器)、北京泛華測控和臺灣拓甫科技,以及其他參與廠商ASCOR、VPC(美國弗吉尼亞電子器件公司)、ADLINK(凌華科技)、Acqiris和Ztec Technologies等,盛況空前。

  來自美國總部的全球市場及客戶運(yùn)營高級副總裁John Graff先生正在發(fā)表精彩的主題演講,其他的演講者包括:NI全球模塊化產(chǎn)品、PXI及儀器控制部門產(chǎn)品市場總監(jiān)Eric Starkloff先生和Chroma(致茂電子股份有限公司)PXI系統(tǒng)事業(yè)部總經(jīng)理莊嘉明先生。

  今年活動的主旨是:PXI——引領(lǐng)自動化測試技術(shù)的潮流。活動同期共舉行了十場儀器/自動化和測試應(yīng)用專題的技術(shù)研討會,從現(xiàn)場觀眾的反饋和參與廠商的交流來看,PXI技術(shù)正在被越來越多的測試測量工程師所接受和認(rèn)可,PXI業(yè)已成為測試測量行業(yè)的主流技術(shù)趨勢。

  會議現(xiàn)場的調(diào)查,高達(dá)90%的觀眾將把PXI作為他們今后的首選測試測量平臺,71.3%表示他們有意向參加、并會向同事推薦明年的活動。參與此次活動的來賓也紛紛表示:“論壇有實(shí)例有產(chǎn)品,理論和實(shí)際相結(jié)合,讓我能更深入地了解PXI技術(shù)的前沿知識,以及其操作的便利性。”
 
  基于兩屆活動的成功經(jīng)驗(yàn),NI會在明年繼續(xù)舉辦第三屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”,并有信心將其打造成大中國地區(qū)PXI行業(yè)內(nèi)首屈一指的多供應(yīng)商技術(shù)論壇。



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