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應(yīng)對數(shù)字新世界測試挑戰(zhàn)

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作者:Chris Martinez 時間:2008-01-21 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

作者:泰克公司全球市場策略總監(jiān)Chris Martinez

  測試測量技術(shù)發(fā)展需求與電子技術(shù)的發(fā)展密切相關(guān),當(dāng)前以連通化、智能化和個性化為特點的新數(shù)字世界逐步深入我們的生活,由此帶來的測試測量需求將是市場的重點。泰克的主要目標(biāo)是為在新數(shù)字世界中實現(xiàn)技術(shù)和通信創(chuàng)新提供動力。

  從技術(shù)發(fā)展角度來看,以傳輸性能為主的高速串行數(shù)據(jù)測試、嵌入式系統(tǒng)技術(shù)測試、無線技術(shù)特別是數(shù)字RF信號測試以及給予數(shù)字視頻技術(shù)的多媒體應(yīng)用測試將是未來測試市場的主要需求領(lǐng)域,此外,我們還需要關(guān)注多種內(nèi)容結(jié)合的下一代融合網(wǎng)絡(luò)體系的測試需求,比如IPTV、WiMax等技術(shù)中的多媒體測試將是明年的重點測試需求。

  隨著數(shù)據(jù)需求量的激增,2010年全球信息需求量將接近1萬億GB,高速串行數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)面臨著廣闊的市場前景,以藍(lán)光技術(shù)、HDMI和新的DisplayPort為主的高清視頻技術(shù)、娛樂和移動計算技術(shù)以及網(wǎng)絡(luò)和存儲技術(shù)是主要市場推動力。高速數(shù)據(jù)速率、系統(tǒng)設(shè)計復(fù)雜度提高等技術(shù)發(fā)展和開發(fā)時間日益縮短以及通用性強等市場因素帶給測試技術(shù)新的挑戰(zhàn)。速度的提升將產(chǎn)生更多的高頻損耗,從而造成眼圖無法清楚區(qū)分信息,這就需要在系統(tǒng)仿真和測試之間建立設(shè)計關(guān)聯(lián)評估整體系統(tǒng)性能,確保最低的誤碼率,同時需要優(yōu)化設(shè)計余量,在物理層和數(shù)據(jù)層執(zhí)行測試,最大限度確保高速信號的完整性。同時,還需要系統(tǒng)級數(shù)字鏈路的驗證與調(diào)試,保持多通道關(guān)系以確保數(shù)據(jù)接收的完整。提升軟件測試分析性能也是一個重要的手段,提升一致性測試自動化程度從而使仿真與測試相關(guān)聯(lián),全面覆蓋測試需求從而降低測試時間,加快產(chǎn)品面市速度。



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