LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)

 

 

 

　　假設(shè)被測的是256色、384 LCD輸出且具有Dot 翻轉(zhuǎn)功能的IC，那么由公式可得需要測試的電壓值個(gè)數(shù)為：
　　256（顏色深度）ｘ384（pin數(shù)）ｘ2(Dot 翻轉(zhuǎn)） ＝196,608
　　一般的DC測試部件的測試時(shí)間為幾到幾十個(gè)uS，由此可知測試時(shí)間將會比較長。如果IC的色彩深度高一些的話（65535色），測試時(shí)間根本無法讓人接受，因此在進(jìn)行此類測試時(shí)需要使用數(shù)字采樣器（Digitizer）來連續(xù)地進(jìn)行電壓采樣，這樣就可以在很短的時(shí)間進(jìn)行此項(xiàng)繁復(fù)的測試了。在這種情況下，由于LCD輸出引腳數(shù)量很大，可以同時(shí)進(jìn)行電壓采樣的數(shù)字采樣器的數(shù)量與所需的測試時(shí)間成反比，增加同步工作的數(shù)字采樣器的數(shù)量將會節(jié)約測試時(shí)間，大幅降低IC的相對生產(chǎn)成本，但是另一方面，數(shù)字采樣器數(shù)量的提升會引起測試系統(tǒng)成本的上升，因此適當(dāng)?shù)貙⒚繋讉€(gè)LCD輸出通道配備一個(gè)數(shù)字采樣器是一個(gè)折中的解決方案，例如Advantest的T6371測試系統(tǒng)就是使用每八個(gè)LCD輸出引腳配備一個(gè)數(shù)字采樣器的配置方法。
　　另外，由于需要采樣數(shù)據(jù)量巨大，數(shù)據(jù)運(yùn)算也需要一定的時(shí)間，如果在數(shù)據(jù)采樣的同時(shí)能夠進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算的工作的話，將大大縮短測試時(shí)間。目前這種工作方式在T6371測試系統(tǒng)上已經(jīng)通過Double-bank AQM的構(gòu)架實(shí)現(xiàn)。
　　（9） 其他
　　當(dāng)然，由于各種LCD 器件差異、生產(chǎn)廠商的不同，以及IC內(nèi)部構(gòu)架的不同，各種LCD Driver IC都會具有一些獨(dú)特的測試項(xiàng)目，應(yīng)當(dāng)根據(jù)實(shí)際情況選擇測試項(xiàng)目。
　　LCD Driver IC的特點(diǎn)對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)
　　圖4為常見LCD Driver IC的引腳分布：

　　LCD Driver IC的輸出引腳數(shù)量很大
　　雖然LCD顯示器件規(guī)格的不斷擴(kuò)大（>17 inch），但是行列驅(qū)動芯片的數(shù)量卻基本上不變，這使得單個(gè)IC的LCD 驅(qū)動引腳的數(shù)目也就愈來愈多，許多LCD Driver IC的驅(qū)動引腳數(shù)已經(jīng)達(dá)到700以上，參見下表，QXGA所需的LCD Driver輸出引腳數(shù)目的計(jì)算公式為：
　　QXGA 2048（Pixel）