NI推出4種用于PXI平臺(tái)的新型R系列I/O模塊

　　2008年5月，美國國家儀器有限公司（簡(jiǎn)稱NI）推出4種用于PXI平臺(tái)的新型R系列 I/O模塊，這些模塊都配備了高性能的Xilinx Virtex-5現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片。NI PXI-7841R, PXI-7842R, PXI-7851R 和PXI-7852R模塊具有8個(gè)模擬輸入、8個(gè)模擬輸出和96個(gè)數(shù)字I/O通道，而且模擬輸入的速率比以前版本的R系列設(shè)備快3.5倍以上。這些新型模塊為工程師和科學(xué)家們提供了即時(shí)可用的硬件；不僅如此，這些硬件還可通過NI LabVIEW FPGA軟件進(jìn)行圖形化編程，在板卡上進(jìn)行自定義的功能以滿足需要特殊時(shí)序和觸發(fā)條件的應(yīng)用，如在線數(shù)據(jù)分析和確定性I/O控制等。

　　“FPGA技術(shù)無與倫比的靈活性使它成為復(fù)雜嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)、高性能數(shù)據(jù)采集和測(cè)試應(yīng)用的首選方案。” NI公司總裁、創(chuàng)始人之一兼首席執(zhí)行官James Truchard博士表示，“隨著對(duì)新型R系列設(shè)備和LabVIEW FPGA軟件等FPGA技術(shù)的持續(xù)投入，NI公司正在為測(cè)試工程師和嵌入式程序員們提供一個(gè)緊密集成的平臺(tái)，使他們可以輕松地發(fā)揮出FPGA技術(shù)所具有的強(qiáng)大潛力。”

　　使用PXI-7841R和 PXI-7842R，工程師和科學(xué)家們可以獲得16位分辨率的模擬輸入，其采樣速率高達(dá)200kS/s/ch；而使用PXI-7851R 和PXI-7852R，采樣速率可達(dá)到750 kS/s/ch。同時(shí)，與原有的R系列設(shè)備相比，新型的R系列模塊配備了Virtex-5 LX30 或Virtex-5 LX50 FPGA芯片，它們可以提供改進(jìn)的優(yōu)化功能，使得代碼執(zhí)行更快，并大大提高了LabVIEW的代碼效率。Virtex-5系列FPGA芯片有著6輸入的LUT結(jié)構(gòu)，這極大地改善了資源的應(yīng)用。芯片上帶有的DSP slice可使用戶以更快的速度完成更復(fù)雜的數(shù)字信號(hào)處理功能。這些新型的R系列模塊將高速I/O和Virtex-5 FPGA結(jié)合在一起，使它們成為了自動(dòng)化、生命科學(xué)、航空及國防等領(lǐng)域中高性能處理和控制應(yīng)用的首選方案。

　　“先進(jìn)的Virtex-5系列FPGA為嵌入式設(shè)計(jì)和測(cè)試應(yīng)用的設(shè)計(jì)者們提供了無與倫比的計(jì)算性能和系統(tǒng)集成能力。”Steve Douglass（Xilinx公司副總裁兼高級(jí)產(chǎn)品部經(jīng)理）如是說，“通過將FPGA技術(shù)集成到新型的R系列設(shè)備中，NI公司提供了高性能的硬件。這些硬件可以方便地使用LabVIEW圖形化編程進(jìn)行優(yōu)化，進(jìn)而縮短設(shè)計(jì)周期和投入市場(chǎng)所需的時(shí)間。”

　　利用PXI儀器，工程師和科學(xué)家們可以在1500多種儀器（包括信號(hào)發(fā)生器、射頻、電源和開關(guān)模塊）中進(jìn)行選擇，并且在軟件中實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的配置，以完成所需的功能，進(jìn)而對(duì)他們的應(yīng)用進(jìn)行自定義。新型的R系列模塊對(duì)這種自定義的功能進(jìn)行了進(jìn)一步擴(kuò)展，它們集成了Virtex-5 FPGA，這些FPGA可以使用LabVIEW FPGA 軟件進(jìn)行編程，以創(chuàng)建用戶自定義的硬件。LabVIEW FPGA軟件通過易于使用的圖形化編程對(duì)用于配置FPGA的VHDL代碼進(jìn)行了描述，從而簡(jiǎn)化了對(duì)硬件進(jìn)行自定義的任務(wù)。LabVIEW軟件還提供了預(yù)建的功能塊和其他代碼優(yōu)化技術(shù)來加快應(yīng)用的開發(fā)。相比傳統(tǒng)的定制硬件設(shè)計(jì)方法，這種圖形化的系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法，即靈活的軟件和即時(shí)可用的硬件緊密集成的方法可以幫助工程師和科學(xué)家們以更快的速度且更高性價(jià)比的成本進(jìn)行 設(shè)計(jì)、原型、測(cè)試和發(fā)布自定義的測(cè)量和嵌入式設(shè)計(jì)應(yīng)用。