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復(fù)雜RF環(huán)境下的RFID測試挑戰(zhàn)

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作者:Louise Parker 泰克公司 時(shí)間:2009-06-15 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/95266.htm

  由于從標(biāo)簽(T)到閱讀器 (R) (表示為T→R)的上行方向從詢問器的CW信號中調(diào)制,因此可以使用擴(kuò)頻技術(shù),如跳頻。在接收機(jī)零差下變頻中,任何詢問器信號的擴(kuò)展或跳頻會被自動刪除,因?yàn)樗鼈児蚕硐嗤谋菊?LO)信號。

  當(dāng)存在多個(gè)標(biāo)簽、多個(gè)閱讀器和干擾時(shí),這個(gè)簡單的系統(tǒng)會變得更加復(fù)雜。讓我們看一下來自這些情況下的兩個(gè)ID設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。

  多個(gè)閱讀器和密集模式環(huán)境

  無源ID標(biāo)簽的寬帶特點(diǎn)也給密集的(多個(gè))閱讀器站點(diǎn)帶來了某些挑戰(zhàn)。由于標(biāo)簽閱讀器確定了系統(tǒng)的工作頻率,且標(biāo)簽是對任何閱讀器進(jìn)行應(yīng)答的寬帶設(shè)備,因此標(biāo)簽對某個(gè)特定閱讀器的應(yīng)答能力有限。無源標(biāo)簽可能會試圖對所有發(fā)出詢問的閱讀器做出應(yīng)答。

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